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HN300電纜故障測(cè)試儀 電纜故障測(cè)試儀 HN300係列 地下管線儀5年保修
用於35kV及以下不同等級(jí)、不同截麵、不同介質(zhì)及材質(zhì)的電力電纜的各類故障,包括:開(kāi)路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻閃絡(luò)性故障。可配合高壓設(shè)備實(shí)現(xiàn)傳統(tǒng)電纜故障測(cè)試的低壓脈衝法、衝擊閃絡(luò)法、速度測(cè)量法。 全中文操作軟件和使用界麵,子菜單方式和文字提示實(shí)現(xiàn)人機(jī)互動(dòng)。工業(yè)級(jí)10.4寸彩色觸摸液晶屏顯示,全中文操作軟件和使用界麵,子菜單方式和文字提示實(shí)現(xiàn)人機(jī)互動(dòng)。數(shù)字萬(wàn)用表測(cè)量電阻是通過(guò)測(cè)量恒流源電流I流過(guò)被測(cè)電阻RX所產(chǎn)生的電壓Vx實(shí)現(xiàn)的。通過(guò)對(duì)Vx數(shù)字化及小數(shù)點(diǎn)移位便可得到Rx的數(shù)字化值。原理框圖如:測(cè)試時(shí),恒流源電流I通過(guò)Hi-Lo端和測(cè)量線饋送至被測(cè)電阻Rx,電壓測(cè)量端SS2通過(guò)短路線接至Hi-Lo端。數(shù)字萬(wàn)用表實(shí)際測(cè)量到的電阻值包括被測(cè)電阻Rx及饋線電阻RL1和RL2。當(dāng)測(cè)量的電阻阻值較小時(shí),饋線電阻產(chǎn)生的誤差就不容忽視。如何用現(xiàn)有的數(shù)字萬(wàn)用表測(cè)量阻值很小的電阻是工程技術(shù)人員經(jīng)常遇到的問(wèn)題。
技術(shù)參數(shù)
1. 采樣方法:低壓脈衝法、衝擊閃絡(luò)法、速度測(cè)量法
2. 采樣速率:200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz
3. 脈衝寬度:0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs
4. 波速設(shè)置:交聯(lián)、聚氯、油浸紙、不滴油和未知類型自設(shè)定
5. 衝擊高壓:35kV及以下
6. 測(cè)試距離:<60km,盲區(qū)≤1m
7. 分 辨 率:1m
8. 測(cè)試精度:1m
9. 顯示方式:工業(yè)級(jí)10.4寸彩色觸摸液晶屏
CAN拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)特點(diǎn)線性拓?fù)浣泳€方式在IOS-11898-2中有高速CAN物理層規(guī)範(fàn),其中CAN網(wǎng)絡(luò)采用總線形式的線性拓?fù)浣Y(jié)構(gòu),如所示,線性拓?fù)銫AN網(wǎng)絡(luò)采用單一信道(總線)作為傳輸介質(zhì),所有的站點(diǎn)通過(guò)相應(yīng)的硬件接口接到一條公共的總線上。線性拓?fù)渥杩蛊ヅ浔容^簡(jiǎn)單,隻需要在主乾的兩端並上合適的終端電阻即可(2km內(nèi)通常為120Ω)。線性拓?fù)渚€性拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)是CAN總線布線規(guī)範(fàn)中為常見(jiàn)的,線性拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)中,常用的就是“手拉手”式的連接,如所示。
四、工作原理
本產(chǎn)品采用的是時(shí)域反射(TDR)原理,即對(duì)電纜發(fā)射一電脈衝,電脈衝將在電纜中勻速傳輸,當(dāng)遇到電纜阻抗發(fā)生變化的地方(故障點(diǎn)),電脈衝將產(chǎn)生反射。測(cè)距主機(jī)將電脈衝的發(fā)射和反射的變化以時(shí)域形式通過(guò)液晶屏顯示出來(lái),通過(guò)屏幕上的波形可直接判讀故障距離。
① 開(kāi)關(guān)按鍵:按下自鎖接通電源,再按解鎖斷開(kāi)電源。開(kāi)機(jī)2分鐘無(wú)任何操作時(shí),屏幕將變暗進(jìn)入屏保節(jié)能狀態(tài)。你有冇有出現(xiàn)過(guò)因?yàn)榫幊唐鲉?wèn)題造成產(chǎn)線停工的情況?為什麼會(huì)燒錄甚至故障導(dǎo)致產(chǎn)線停滯?究竟是因?yàn)閮佑袇^(qū)分研發(fā)型和量產(chǎn)型還是因?yàn)榫幊唐鞅旧黼娫催^(guò)流保護(hù)、過(guò)壓保護(hù)等設(shè)計(jì)的不完善?今天我們一起來(lái)看看。編程器又稱燒錄器、寫(xiě)碼器,是一種將源程序編譯生成的固件燒錄到目標(biāo)芯片上的設(shè)備。按燒錄方式可分為在板燒寫(xiě)和裸片燒寫(xiě)。在板燒寫(xiě):也稱為ICP燒寫(xiě),是把芯片焊到PCB板上後再進(jìn)行燒錄;裸片燒寫(xiě):也稱為離線燒錄,是把芯片放到夾具上進(jìn)行燒錄,之後再把芯片焊到PCB上。
② 充電端口:用於連接充電器,給電池充電。
③ 中值旋鈕:順時(shí)針旋動(dòng)中值向上走動(dòng);逆時(shí)針旋動(dòng)中值向下走動(dòng)。(需采樣刷新才有變化)大;逆時(shí)針旋動(dòng)幅度減小。(需采樣刷新才有變化)
⑤ 采樣端口:四芯座,用於連接采樣線。在大型數(shù)字波束合成天線中,人們非常希望通過(guò)組合來(lái)自分布式波形發(fā)生器和接收器的信號(hào)這一波束合成過(guò)程改善動(dòng)態(tài)範(fàn)圍。如果關(guān)聯(lián)誤差項(xiàng)不相關(guān),則可以在噪聲和雜散性能方麵使動(dòng)態(tài)範(fàn)圍提升10logN。這裡的N是波形發(fā)生器或接收器通道的數(shù)量。噪聲在本質(zhì)上是一個(gè)非常隨機(jī)的過(guò)程,因此非常適合跟蹤相關(guān)和不相關(guān)的噪聲源。然而,雜散信號(hào)的存在增加了強(qiáng)製雜散去相關(guān)的難度??梢詮?qiáng)製雜散信號(hào)去相關(guān)的任何設(shè)計(jì)方法對(duì)相控陣係統(tǒng)架構(gòu)都是有價(jià)值的。
⑥ 觸摸式彩色液晶屏:詳見(jiàn)“工作界麵介紹”。
按“ ”鍵,彈出采樣方式選擇子菜單。子菜單中包括:“低壓脈衝”、“閃絡(luò)方法”和“速度測(cè)量”。儀器開(kāi)機(jī)默認(rèn)“低壓脈衝”,根據(jù)測(cè)試需要,可選擇相應(yīng)的采樣方式,再按“采樣方式”鍵退出。
按“ ”鍵,彈出脈衝寬度選擇子菜單。子菜單中包括7個(gè)選項(xiàng),分彆為:0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根據(jù)測(cè)試距離選擇合適的脈寬,按對(duì)應(yīng)的子菜單鍵可以對(duì)脈衝寬度進(jìn)行選擇,儀器開(kāi)機(jī)默認(rèn)0.2μs,再按“脈寬”鍵退出此項(xiàng)功能。注意:在高壓閃絡(luò)法測(cè)試中此項(xiàng)不做選擇。
時(shí)間相關(guān)項(xiàng)的測(cè)量小結(jié):有一些的波形(如正弦波)會(huì)出現(xiàn)Vtop和Vbase求解失敗(概率少於5%),此時(shí)會(huì)使用Vmax與Vmin作為新的頂部值與底部值,並且會(huì)在Vtop和Vbase的值後麵,追加?號(hào)顯示來(lái)表示異常,如所示。頂部值、底部值與值,值相同測(cè)量與統(tǒng)計(jì)算法測(cè)量與統(tǒng)計(jì)的原理很簡(jiǎn)單。先要理解一個(gè)概念,同一個(gè)測(cè)量項(xiàng)在同一次測(cè)量中可能會(huì)遇到多次,如周期,一段波形可能有N個(gè)周期。這樣就出現(xiàn)了新的問(wèn)題,周期的測(cè)量結(jié)果對(duì)應(yīng)波形的哪個(gè)周期?為了解決這種不對(duì)應(yīng)的問(wèn)題,並讓測(cè)量結(jié)果更具有意義,我們采用了統(tǒng)計(jì)學(xué)中的6種值來(lái)描述測(cè)量結(jié)果,分彆如下:當(dāng)前值(Current):表示個(gè)測(cè)量值,對(duì)應(yīng)中的位置。