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HN300電纜故障測試儀 路燈(地埋)電纜綜合測試儀 HN300係列 通信電纜故障綜合測試儀5年保修
用於35kV及以下不同等級、不同截麵、不同介質(zhì)及材質(zhì)的電力電纜的各類故障,包括:開路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻閃絡(luò)性故障。可配合高壓設(shè)備實(shí)現(xiàn)傳統(tǒng)電纜故障測試的低壓脈衝法、衝擊閃絡(luò)法、速度測量法。 全中文操作軟件和使用界麵,子菜單方式和文字提示實(shí)現(xiàn)人機(jī)互動。工業(yè)級10.4寸彩色觸摸液晶屏顯示,全中文操作軟件和使用界麵,子菜單方式和文字提示實(shí)現(xiàn)人機(jī)互動。分工頻耐壓試驗(yàn)和直流耐壓試驗(yàn)兩種。工頻耐壓試驗(yàn)其試驗(yàn)電壓為被試設(shè)備額定電壓的一倍多至數(shù)倍,不低於1000V。其加壓時間:對於以瓷和液體為主要絕緣的設(shè)備為1分鐘,對於以有機(jī)固體為主要絕緣的設(shè)備為5分鐘,對於電壓互感器為3分鐘,對於油浸電力電纜為10分鐘。電氣設(shè)備經(jīng)耐壓試驗(yàn)?zāi)軌虬l(fā)現(xiàn)絕緣的局部缺陷、受潮及老化。交流耐壓試驗(yàn):在被試設(shè)備電壓的2.5倍及以上進(jìn)行,從介質(zhì)損失的熱擊穿觀點(diǎn)出發(fā),可以有效地發(fā)現(xiàn)局部遊離性缺陷及絕緣老化的弱點(diǎn)。
技術(shù)參數(shù)
1. 采樣方法:低壓脈衝法、衝擊閃絡(luò)法、速度測量法
2. 采樣速率:200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz
3. 脈衝寬度:0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs
4. 波速設(shè)置:交聯(lián)、聚氯、油浸紙、不滴油和未知類型自設(shè)定
5. 衝擊高壓:35kV及以下
6. 測試距離:<60km,盲區(qū)≤1m
7. 分 辨 率:1m
8. 測試精度:1m
9. 顯示方式:工業(yè)級10.4寸彩色觸摸液晶屏
線性拓?fù)涫荂AN總線布線規(guī)範(fàn)中為常見的,如果采用了線性拓?fù)渲械摹癟”型分支連接,按規(guī)定分支長度是不能大於0.3m的,需要更長的分支應(yīng)該怎麼辦呢?CAN拓?fù)浞诸怌AN(控製器局域網(wǎng),controllerareanetwork)屬於工業(yè)現(xiàn)場總線的範(fàn)疇,是一種有效支持分布式控製和實(shí)時控製的多主異步串行通信網(wǎng)絡(luò)。CAN網(wǎng)絡(luò)的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)主要有線性拓?fù)洹⑿切瓮負(fù)?、樹狀拓?fù)浜铜h(huán)形拓?fù)?,這幾種拓?fù)涞慕Y(jié)構(gòu)的特點(diǎn)如所示。
四、工作原理
本產(chǎn)品采用的是時域反射(TDR)原理,即對電纜發(fā)射一電脈衝,電脈衝將在電纜中勻速傳輸,當(dāng)遇到電纜阻抗發(fā)生變化的地方(故障點(diǎn)),電脈衝將產(chǎn)生反射。測距主機(jī)將電脈衝的發(fā)射和反射的變化以時域形式通過液晶屏顯示出來,通過屏幕上的波形可直接判讀故障距離。
① 開關(guān)按鍵:按下自鎖接通電源,再按解鎖斷開電源。開機(jī)2分鐘無任何操作時,屏幕將變暗進(jìn)入屏保節(jié)能狀態(tài)。測試圖IT65C/D模擬量接口電源上升時間的測試電源上升時間與開機(jī)時間的區(qū)彆,上升時間(RiseTim:電壓從冇有上升至穩(wěn)定的這段時間(一般量測輸出電壓的上下限為1%~9%或5%~95%),如上圖所示,Va為輸出電壓的1%,Vb為輸出電壓的9%,Va,Vb之間的時間即為開機(jī)電壓上升時間。測試方法:啟動測試:選擇啟動測試觸發(fā)源為電平觸發(fā)方式,觸發(fā)電平設(shè)定為Va,當(dāng)待測電源輸出電壓達(dá)到Va時,開始測試;結(jié)束測試:選擇結(jié)束測試觸發(fā)源為電平觸發(fā)方式,觸發(fā)電平設(shè)定為Vb,當(dāng)待測電源輸出電壓達(dá)到Vb時,停止測試;負(fù)載計算出兩個觸發(fā)信號之間的時間差,即為待測電源的上升時間。
② 充電端口:用於連接充電器,給電池充電。
③ 中值旋鈕:順時針旋動中值向上走動;逆時針旋動中值向下走動。(需采樣刷新才有變化)大;逆時針旋動幅度減小。(需采樣刷新才有變化)
⑤ 采樣端口:四芯座,用於連接采樣線。交叉編譯相關(guān)庫移植人臉識彆算法庫,該庫基於NCNN神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)上搭建人臉識彆係統(tǒng),依賴的庫有OpenCV、NCNN以及Sqlit3。這些庫需要交叉編譯,其中OpenCV和Sqlit3的ARM版S32V已經(jīng)提供不需要再進(jìn)行編譯,編譯後的NCNN和人臉識彆算法庫都是靜態(tài)庫,不需要拷貝到目標(biāo)板上。人臉檢測Demo通過Qt來實(shí)現(xiàn)界麵顯示,在pro文件中添加VSDK中獲取攝像頭數(shù)據(jù)的相關(guān)庫,算法移植的相關(guān)庫,然後通過如下API接口獲取圖像數(shù)據(jù)。
⑥ 觸摸式彩色液晶屏:詳見“工作界麵介紹”。
按“ ”鍵,彈出采樣方式選擇子菜單。子菜單中包括:“低壓脈衝”、“閃絡(luò)方法”和“速度測量”。儀器開機(jī)默認(rèn)“低壓脈衝”,根據(jù)測試需要,可選擇相應(yīng)的采樣方式,再按“采樣方式”鍵退出。
按“ ”鍵,彈出脈衝寬度選擇子菜單。子菜單中包括7個選項(xiàng),分彆為:0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根據(jù)測試距離選擇合適的脈寬,按對應(yīng)的子菜單鍵可以對脈衝寬度進(jìn)行選擇,儀器開機(jī)默認(rèn)0.2μs,再按“脈寬”鍵退出此項(xiàng)功能。注意:在高壓閃絡(luò)法測試中此項(xiàng)不做選擇。
測試采用TOS2000B係列示波器外觀如下圖:測試步驟如下:1.電壓衰減設(shè)置→2.采集通道調(diào)試→3.觸發(fā)控製→4.光標(biāo)測量讀數(shù)設(shè)置1.電壓衰減設(shè)置電壓有不同的衰減係數(shù),這些係數(shù)影響信號的垂直刻度。檢查向?qū)?yàn)證示波器的衰減係數(shù)是否與匹配。作為檢查的替代方法,您可以手動選擇與衰減相匹配的係數(shù)。,要與連接到CH1的設(shè)置為10X的相匹配,請按下通道1“Menu(菜單)”“”“電壓”“衰減”選項(xiàng),然後選擇10X。