HN300電纜故障測(cè)試儀 電纜故障綜合測(cè)試儀 HN300係列 架空線接地電纜故障測(cè)試儀現(xiàn)貨供應(yīng)

 用於35kV及以下不同等級(jí)、不同截麵、不同介質(zhì)及材質(zhì)的電力電纜的各類故障，包括：開路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻閃絡(luò)性故障。可配合高壓設(shè)備實(shí)現(xiàn)傳統(tǒng)電纜故障測(cè)試的低壓脈衝法、衝擊閃絡(luò)法、速度測(cè)量法。 全中文操作軟件和使用界麵，子菜單方式和文字提示實(shí)現(xiàn)人機(jī)互動(dòng)。工業(yè)級(jí)10.4寸彩色觸摸液晶屏顯示，全中文操作軟件和使用界麵，子菜單方式和文字提示實(shí)現(xiàn)人機(jī)互動(dòng)。對(duì)移動(dòng)互聯(lián)網(wǎng)帶來(lái)的資源消耗需“疏”而不是“堵”，解決的思路之一是在空口對(duì)業(yè)務(wù)加以識(shí)彆和支持。這樣的需求對(duì)監(jiān)測(cè)儀表的發(fā)展提出了新的要求，要求空口測(cè)試儀表能識(shí)彆、業(yè)務(wù)，並與底層信令和物理層過程進(jìn)行關(guān)聯(lián)，以共同應(yīng)對(duì)移動(dòng)互聯(lián)網(wǎng)的挑戰(zhàn)。，從測(cè)試方式來(lái)看，測(cè)試數(shù)據(jù)采集技術(shù)自動(dòng)化程度還不夠高，仍有大量的數(shù)據(jù)采集通過人力來(lái)完成，工作效率有較大提升空間。數(shù)據(jù)自動(dòng)化水平、智能功能及管理能力各地區(qū)發(fā)展參差不齊，東部沿海發(fā)達(dá)省份水平較高，中西部區(qū)域則有待提升。

技術(shù)參數(shù)

1. 采樣方法：低壓脈衝法、衝擊閃絡(luò)法、速度測(cè)量法

2. 采樣速率：200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz

3. 脈衝寬度：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs

4. 波速設(shè)置：交聯(lián)、聚氯、油浸紙、不滴油和未知類型自設(shè)定

5. 衝擊高壓：35kV及以下

6. 測(cè)試距離：＜60km，盲區(qū)≤1m

7. 分 辨 率：1m

8. 測(cè)試精度：1m

9. 顯示方式：工業(yè)級(jí)10.4寸彩色觸摸液晶屏

LED研發(fā)一LED光源半導(dǎo)體芯片發(fā)熱利用熱像儀，工程師可以根據(jù)得到的光源半導(dǎo)體芯片發(fā)熱紅外熱圖，出其芯片在工作時(shí)的溫度，以及溫度的分布情況，在此基礎(chǔ)，達(dá)到提高LED產(chǎn)品壽命的目的。二LED模塊驅(qū)動(dòng)電路在LED產(chǎn)品研發(fā)中，需要工程師進(jìn)行一部分驅(qū)動(dòng)電路設(shè)計(jì)，整流器電路模塊。利用紅外熱像儀，工程師可以迅速而便捷地發(fā)現(xiàn)電路上溫度異常之處，便於完善電路設(shè)計(jì)。三光衰試驗(yàn)LED產(chǎn)品的光衰就是光在傳輸中的信號(hào)減弱，而現(xiàn)階段的LED大廠們做出的LED產(chǎn)品光衰程度都不相同，大功率LED同樣存在光衰，這和溫度有著直接的關(guān)係，主要是由晶片、熒光粉和封裝技術(shù)決定的。

 四、工作原理

       本產(chǎn)品采用的是時(shí)域反射（TDR）原理，即對(duì)電纜發(fā)射一電脈衝，電脈衝將在電纜中勻速傳輸，當(dāng)遇到電纜阻抗發(fā)生變化的地方（故障點(diǎn)），電脈衝將產(chǎn)生反射。測(cè)距主機(jī)將電脈衝的發(fā)射和反射的變化以時(shí)域形式通過液晶屏顯示出來(lái)，通過屏幕上的波形可直接判讀故障距離。

① 開關(guān)按鍵：按下自鎖接通電源，再按解鎖斷開電源。開機(jī)2分鐘無(wú)任何操作時(shí)，屏幕將變暗進(jìn)入屏保節(jié)能狀態(tài)。多端口的WSS模塊能立地將任意波長(zhǎng)分配到任意路徑，因此基於WSS技術(shù)的ROADM具有多個(gè)自由度，可實(shí)現(xiàn)Mesh網(wǎng)絡(luò)互聯(lián)。如所示，主流WSS采用衍射光柵或AWG進(jìn)行濾波，然後通過MEMS控製微反射鏡進(jìn)行波長(zhǎng)交換。典型維度數(shù)為4~9個(gè)維度，架構(gòu)可以分為BS和RS。廠商根據(jù)市場(chǎng)需求開始加入上下路層的可重構(gòu)技術(shù)，如Colorless、Directionless或ColorlessDirectionless。

② 充電端口：用於連接充電器，給電池充電。

③ 中值旋鈕：順時(shí)針旋動(dòng)中值向上走動(dòng)；逆時(shí)針旋動(dòng)中值向下走動(dòng)。（需采樣刷新才有變化）大；逆時(shí)針旋動(dòng)幅度減小。（需采樣刷新才有變化）

⑤ 采樣端口：四芯座，用於連接采樣線。但另一方麵每個(gè)碼元狀態(tài)之間的間距也變小，因此容易受到噪聲乾擾使得碼元偏離原本應(yīng)該在的位置從而造成出錯(cuò)。所以複雜調(diào)製對(duì)信道的要求比較高，在信道噪聲很大的情況下使用複雜調(diào)製會(huì)導(dǎo)致數(shù)據(jù)傳輸誤碼率很高，而且所需要的電路也會(huì)非常複雜，導(dǎo)致功耗很大。由簡(jiǎn)單（左）到複雜（右）調(diào)製的狀態(tài)圖相對(duì)於提高頻譜利用率，增加頻譜帶寬的方法顯得更簡(jiǎn)單直接。在頻譜利用率不變的情況下，可用帶寬翻倍則可以實(shí)現(xiàn)的數(shù)據(jù)傳輸速率也翻倍。

⑥ 觸摸式彩色液晶屏：詳見“工作界麵介紹”。

按“       ”鍵，彈出采樣方式選擇子菜單。子菜單中包括：“低壓脈衝”、“閃絡(luò)方法”和“速度測(cè)量”。儀器開機(jī)默認(rèn)“低壓脈衝”，根據(jù)測(cè)試需要，可選擇相應(yīng)的采樣方式，再按“采樣方式”鍵退出。

按“       ”鍵，彈出脈衝寬度選擇子菜單。子菜單中包括7個(gè)選項(xiàng)，分彆為：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根據(jù)測(cè)試距離選擇合適的脈寬，按對(duì)應(yīng)的子菜單鍵可以對(duì)脈衝寬度進(jìn)行選擇，儀器開機(jī)默認(rèn)0.2μs，再按“脈寬”鍵退出此項(xiàng)功能。注意：在高壓閃絡(luò)法測(cè)試中此項(xiàng)不做選擇。

從這個(gè)角度上看，頻譜儀更適合測(cè)量晶體頻率。2儀器測(cè)量頻率的精度從下麵兩個(gè)方麵來(lái)儀器的哪些參數(shù)影響到測(cè)量精度-內(nèi)部時(shí)鐘精度-測(cè)量值分辨率初步定性，頻率計(jì)作為專業(yè)測(cè)試設(shè)備，內(nèi)部時(shí)鐘精度不差，從定期的儀器校驗(yàn)結(jié)果看，精度高於1ppm，特彆是它的分辨率12bit是非常高的；頻譜儀的時(shí)鐘精度看上去也可以，而且1Hz的分辨率滿足測(cè)試要求，但實(shí)際掃描到功率峰值的頻率是否穩(wěn)定還需要驗(yàn)證；而示波器的時(shí)鐘精度看上去與前兩者相差並不大，但需要考慮到：量化誤差（前端信號(hào)采集係統(tǒng)的8位ADC引起的信號(hào)幅度測(cè)量誤差）引起的垂直電平測(cè)量不準(zhǔn)確性，以及采樣率不足等因素都會(huì)引起水平軸的測(cè)量誤差，終導(dǎo)致頻率值測(cè)量誤差，而且其分辨率情況需要實(shí)測(cè)驗(yàn)證。