HN300電纜故障測(cè)試儀 單脈衝電纜故障測(cè)試儀 HN300係列 地下管線(xiàn)探測(cè)儀30年經(jīng)驗(yàn)

 用於35kV及以下不同等級(jí)、不同截麵、不同介質(zhì)及材質(zhì)的電力電纜的各類(lèi)故障，包括：開(kāi)路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻閃絡(luò)性故障。可配合高壓設(shè)備實(shí)現(xiàn)傳統(tǒng)電纜故障測(cè)試的低壓脈衝法、衝擊閃絡(luò)法、速度測(cè)量法。 全中文操作軟件和使用界麵，子菜單方式和文字提示實(shí)現(xiàn)人機(jī)互動(dòng)。工業(yè)級(jí)10.4寸彩色觸摸液晶屏顯示，全中文操作軟件和使用界麵，子菜單方式和文字提示實(shí)現(xiàn)人機(jī)互動(dòng)。反摩爾定律逼著所有的硬件設(shè)備公司必須趕上摩爾定律所規(guī)定的更新速度，而所有的硬件和設(shè)備生產(chǎn)廠(chǎng)活得都是非常辛苦的。曾經(jīng)的太陽(yáng)公司就是受反摩爾定律影響的例子，其由於無(wú)法跟上整個(gè)行業(yè)的速度，被IT生態(tài)鏈上遊的軟件公司甲骨文並購(gòu)了。AMD要不是因?yàn)閷?duì)英特爾反壟斷的限製，恐怕也已經(jīng)不存在了。積極影響：反摩爾定律促成科技領(lǐng)域質(zhì)的進(jìn)步，並為新興公司提供生存和發(fā)展的可能。和所有事物的發(fā)展一樣，IT領(lǐng)域的技術(shù)進(jìn)步也有量變和質(zhì)變兩種。

技術(shù)參數(shù)

1. 采樣方法：低壓脈衝法、衝擊閃絡(luò)法、速度測(cè)量法

2. 采樣速率：200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz

3. 脈衝寬度：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs

4. 波速設(shè)置：交聯(lián)、聚氯、油浸紙、不滴油和未知類(lèi)型自設(shè)定

5. 衝擊高壓：35kV及以下

6. 測(cè)試距離：＜60km，盲區(qū)≤1m

7. 分 辨 率：1m

8. 測(cè)試精度：1m

9. 顯示方式：工業(yè)級(jí)10.4寸彩色觸摸液晶屏

渦流探傷儀無(wú)損檢測(cè)技術(shù)是一種在不破壞受檢對(duì)象的前提下測(cè)定、評(píng)價(jià)物體內(nèi)部或表層物理和機(jī)械性能及各類(lèi)缺陷和其他技術(shù)參數(shù)的綜合性檢測(cè)技術(shù)。其應(yīng)用範(fàn)圍隨著科學(xué)與生產(chǎn)的發(fā)展日趨廣泛。在汽車(chē)製造行業(yè)中渦流探傷儀無(wú)損檢測(cè)的應(yīng)用十分廣泛。許多汽車(chē)零部件，如製動(dòng)鼓、製動(dòng)盤(pán)、軸頸、轉(zhuǎn)向節(jié)等關(guān)鍵的**件，如果零部件表麵出現(xiàn)細(xì)微裂紋，或者內(nèi)部有缺陷，在長(zhǎng)期交變應(yīng)力的作用下，裂紋會(huì)從外表逐漸向內(nèi)發(fā)展，或者由內(nèi)向外延伸，進(jìn)而產(chǎn)生**隱患。

 四、工作原理

       本產(chǎn)品采用的是時(shí)域反射（TDR）原理，即對(duì)電纜發(fā)射一電脈衝，電脈衝將在電纜中勻速傳輸，當(dāng)遇到電纜阻抗發(fā)生變化的地方（故障點(diǎn)），電脈衝將產(chǎn)生反射。測(cè)距主機(jī)將電脈衝的發(fā)射和反射的變化以時(shí)域形式通過(guò)液晶屏顯示出來(lái)，通過(guò)屏幕上的波形可直接判讀故障距離。

① 開(kāi)關(guān)按鍵：按下自鎖接通電源，再按解鎖斷開(kāi)電源。開(kāi)機(jī)2分鐘無(wú)任何操作時(shí)，屏幕將變暗進(jìn)入屏保節(jié)能狀態(tài)。而對(duì)於這些設(shè)備來(lái)說(shuō)，信號(hào)的完整性變得非常重要，特彆是線(xiàn)路板的阻抗對(duì)信號(hào)完整性起到了至關(guān)重要的作用。SequidTDR作為專(zhuān)業(yè)的線(xiàn)路板阻抗測(cè)量工具擁有優(yōu)越的性能，抖動(dòng)Jrms500fs的差分階躍信號(hào)源，物理上升時(shí)間65ps，Sequid特有的仿真算法，能通過(guò)算法計(jì)算出上升時(shí)間不同上升時(shí)間的阻抗差彆，算法上升時(shí)間可達(dá)25ps，這完全可以測(cè)試距離非常短的高速線(xiàn)路。由於距離越短的線(xiàn)路測(cè)試的誤差會(huì)越大，通過(guò)的校準(zhǔn)給線(xiàn)路做補(bǔ)償是非常必要的，Sequid的TDR有帶有的補(bǔ)償功能，通過(guò)open、short及負(fù)載的校準(zhǔn)，讓連接位置及線(xiàn)路損耗得到了很好的補(bǔ)償。

② 充電端口：用於連接充電器，給電池充電。

③ 中值旋鈕：順時(shí)針旋動(dòng)中值向上走動(dòng)；逆時(shí)針旋動(dòng)中值向下走動(dòng)。（需采樣刷新才有變化）大；逆時(shí)針旋動(dòng)幅度減小。（需采樣刷新才有變化）

⑤ 采樣端口：四芯座，用於連接采樣線(xiàn)。由P區(qū)引出的電極為陽(yáng)極，由N區(qū)引出的電極為陰極，如下圖所示，溫度對(duì)二極管的性能有較大的影響，這是由於半導(dǎo)體材料的特性所致，溫度升高時(shí)，二極管的正向壓降將減小，每增加1oC，正向壓降減小約2mV，可以從下圖看出，由半導(dǎo)體理論可以得出，PN結(jié)所加端電壓u與流過(guò)它的電流i的關(guān)係為：其中，Is為反向飽和電流，對(duì)於矽材料來(lái)說(shuō)，Is約為10pA;q為電子的電量，q=1.6*10-9C；k是玻耳茨曼常數(shù)，k=1.38*10-23J/K；T為溫度，kT/q可以用UT來(lái)代替，則常溫下，即T=300K時(shí)，UT約為26mV。

⑥ 觸摸式彩色液晶屏：詳見(jiàn)“工作界麵介紹”。

按“       ”鍵，彈出采樣方式選擇子菜單。子菜單中包括：“低壓脈衝”、“閃絡(luò)方法”和“速度測(cè)量”。儀器開(kāi)機(jī)默認(rèn)“低壓脈衝”，根據(jù)測(cè)試需要，可選擇相應(yīng)的采樣方式，再按“采樣方式”鍵退出。

按“       ”鍵，彈出脈衝寬度選擇子菜單。子菜單中包括7個(gè)選項(xiàng)，分彆為：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根據(jù)測(cè)試距離選擇合適的脈寬，按對(duì)應(yīng)的子菜單鍵可以對(duì)脈衝寬度進(jìn)行選擇，儀器開(kāi)機(jī)默認(rèn)0.2μs，再按“脈寬”鍵退出此項(xiàng)功能。注意：在高壓閃絡(luò)法測(cè)試中此項(xiàng)不做選擇。

如何按照次序啟動(dòng)測(cè)試？如何暫停測(cè)試？如何繼續(xù)測(cè)試？如何中止測(cè)試？如何同步測(cè)試？如何將進(jìn)度跨線(xiàn)程報(bào)告給主界麵線(xiàn)程？這就好比自己乾管好自己就行了，但是一個(gè)團(tuán)隊(duì)乾活就有團(tuán)隊(duì)管理和建設(shè)的問(wèn)題。並行測(cè)試任務(wù)調(diào)度規(guī)劃生成問(wèn)題當(dāng)然，可以依靠人工拍腦袋的方式生成並行測(cè)試任務(wù)調(diào)度規(guī)劃，測(cè)試任務(wù)發(fā)生變化怎麼辦？測(cè)試對(duì)象發(fā)生變化怎麼辦？如果都靠拍腦袋不是不行，但是很難，這就產(chǎn)生了並行測(cè)試任務(wù)調(diào)度規(guī)劃自動(dòng)生成這一難題。