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HN300電纜故障測(cè)試儀 電纜故障綜合測(cè)試儀 HN300係列 電纜試紮器(雙控、雙槍5年保修
用於35kV及以下不同等級(jí)、不同截麵、不同介質(zhì)及材質(zhì)的電力電纜的各類(lèi)故障,包括:開(kāi)路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻閃絡(luò)性故障。可配合高壓設(shè)備實(shí)現(xiàn)傳統(tǒng)電纜故障測(cè)試的低壓脈衝法、衝擊閃絡(luò)法、速度測(cè)量法。 全中文操作軟件和使用界麵,子菜單方式和文字提示實(shí)現(xiàn)人機(jī)互動(dòng)。工業(yè)級(jí)10.4寸彩色觸摸液晶屏顯示,全中文操作軟件和使用界麵,子菜單方式和文字提示實(shí)現(xiàn)人機(jī)互動(dòng)。實(shí)時(shí)頻譜功能界麵顯示其中,熒光頻譜圖是基於頻譜統(tǒng)計(jì)的二維圖譜。在熒光頻譜圖中,橫軸代表頻率,縱軸代表幅度,像素點(diǎn)的色彩代表該頻率點(diǎn)的幅度統(tǒng)計(jì)次數(shù),如所示。通過(guò)熒光頻譜圖和無(wú)縫瀑布圖對(duì)實(shí)現(xiàn)信號(hào)實(shí)現(xiàn)無(wú)丟失顯示,實(shí)時(shí)頻譜功能可以發(fā)現(xiàn)瞬態(tài)信號(hào)並顯示信號(hào)的實(shí)時(shí)變化。熒光頻譜原理示意圖熒光頻譜圖的應(yīng)用熒光頻譜將一段時(shí)間內(nèi)所統(tǒng)計(jì)的各個(gè)頻率及相應(yīng)幅度出現(xiàn)的次數(shù)轉(zhuǎn)化為顏色,通過(guò)顏色揭示信號(hào)的概率。一般而言,熒光頻譜圖默認(rèn)設(shè)置能夠滿(mǎn)足絕大數(shù)的信號(hào)顯示要求。
技術(shù)參數(shù)
1. 采樣方法:低壓脈衝法、衝擊閃絡(luò)法、速度測(cè)量法
2. 采樣速率:200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz
3. 脈衝寬度:0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs
4. 波速設(shè)置:交聯(lián)、聚氯、油浸紙、不滴油和未知類(lèi)型自設(shè)定
5. 衝擊高壓:35kV及以下
6. 測(cè)試距離:<60km,盲區(qū)≤1m
7. 分 辨 率:1m
8. 測(cè)試精度:1m
9. 顯示方式:工業(yè)級(jí)10.4寸彩色觸摸液晶屏
輸入電阻值應(yīng)限製在10Ω以下。至少,選擇電容器以地匹配分流電阻器及其電感的時(shí)間常數(shù);或者,選擇電容器以提供低於該點(diǎn)的極點(diǎn)。使輸入濾波器時(shí)間常數(shù)等於或大於並聯(lián)電阻及其電感時(shí)間常數(shù):這簡(jiǎn)化為基於使用10Ω電阻來(lái)確定每個(gè)RFILT的CFILT值:如果主要目的是濾除高頻噪聲,則應(yīng)將電容器增加至提供所需濾波的值。,100kHz的濾波頻率需要一個(gè)80nF電容。該電容器可以有一個(gè)低額定電壓值,但應(yīng)具有良好的高頻特性。
四、工作原理
本產(chǎn)品采用的是時(shí)域反射(TDR)原理,即對(duì)電纜發(fā)射一電脈衝,電脈衝將在電纜中勻速傳輸,當(dāng)遇到電纜阻抗發(fā)生變化的地方(故障點(diǎn)),電脈衝將產(chǎn)生反射。測(cè)距主機(jī)將電脈衝的發(fā)射和反射的變化以時(shí)域形式通過(guò)液晶屏顯示出來(lái),通過(guò)屏幕上的波形可直接判讀故障距離。
① 開(kāi)關(guān)按鍵:按下自鎖接通電源,再按解鎖斷開(kāi)電源。開(kāi)機(jī)2分鐘無(wú)任何操作時(shí),屏幕將變暗進(jìn)入屏保節(jié)能狀態(tài)。電源作為電子產(chǎn)品或者電池的供電設(shè)備,除了性能要滿(mǎn)足供電產(chǎn)品的要求外,其自身的保護(hù)措施也非常重要。如過(guò)壓、過(guò)流、過(guò)功率、過(guò)溫保護(hù)等,過(guò)流保護(hù)點(diǎn)測(cè)試,也就是OCP測(cè)試。以前是手工去調(diào)整電流的大小,人工觀(guān)察現(xiàn)像。但是手和眼睛的反應(yīng)速度等因素導(dǎo)致要進(jìn)行多次測(cè)量才能確定。全天科技研發(fā)設(shè)計(jì)的可編程直流電子負(fù)載自帶OCP和OPP測(cè)試功能,很好的解決了此問(wèn)題。在此菜單下使用者可以設(shè)置電流或功率開(kāi)始值、結(jié)束值、步數(shù)、每步時(shí)間、並且還可以設(shè)定觸發(fā)電壓及規(guī)格上下限。
② 充電端口:用於連接充電器,給電池充電。
③ 中值旋鈕:順時(shí)針旋動(dòng)中值向上走動(dòng);逆時(shí)針旋動(dòng)中值向下走動(dòng)。(需采樣刷新才有變化)大;逆時(shí)針旋動(dòng)幅度減小。(需采樣刷新才有變化)
⑤ 采樣端口:四芯座,用於連接采樣線(xiàn)。接觸式的測(cè)試方法中測(cè)溫元件直接與被測(cè)介質(zhì)接觸,直接測(cè)得被測(cè)物體的溫度,因而簡(jiǎn)單、可靠、測(cè)量精度高。經(jīng)常用到的如所示:.功能單一的測(cè)溫儀產(chǎn)品的溫升試驗(yàn)也是安規(guī)要求的一個(gè)重要部分,那麼我們?cè)谠O(shè)計(jì)一款產(chǎn)品時(shí),如何實(shí)現(xiàn)經(jīng)濟(jì)而且便捷的測(cè)量呢?開(kāi)關(guān)電源中MOSFET和二極管會(huì)產(chǎn)生開(kāi)關(guān)損耗以及傳導(dǎo)損耗、電感損耗包括線(xiàn)圈損耗和磁芯損耗、電容等造成的損耗,這些損耗終都以熱的形式展現(xiàn)出來(lái),而過(guò)熱又會(huì)降低元器件性能導(dǎo)致?lián)p耗加劇,所以了解無(wú)用功率損失在哪裡很重要。
⑥ 觸摸式彩色液晶屏:詳見(jiàn)“工作界麵介紹”。
按“ ”鍵,彈出采樣方式選擇子菜單。子菜單中包括:“低壓脈衝”、“閃絡(luò)方法”和“速度測(cè)量”。儀器開(kāi)機(jī)默認(rèn)“低壓脈衝”,根據(jù)測(cè)試需要,可選擇相應(yīng)的采樣方式,再按“采樣方式”鍵退出。
按“ ”鍵,彈出脈衝寬度選擇子菜單。子菜單中包括7個(gè)選項(xiàng),分彆為:0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根據(jù)測(cè)試距離選擇合適的脈寬,按對(duì)應(yīng)的子菜單鍵可以對(duì)脈衝寬度進(jìn)行選擇,儀器開(kāi)機(jī)默認(rèn)0.2μs,再按“脈寬”鍵退出此項(xiàng)功能。注意:在高壓閃絡(luò)法測(cè)試中此項(xiàng)不做選擇。
X射線(xiàn)光譜儀的好壞常常是以X射線(xiàn)強(qiáng)度測(cè)量的理論統(tǒng)計(jì)誤差來(lái)表示的,BX係列波長(zhǎng)色散X射線(xiàn)熒光儀的穩(wěn)定性和再現(xiàn)性,已足以保證待測(cè)樣品測(cè)量的精度,被樣品的製樣技術(shù)成為影響準(zhǔn)確度的至關(guān)重要的因素,在樣品製備方麵所花的工夫?qū)?huì)反映在結(jié)果的質(zhì)量上。X射線(xiàn)熒光儀器誤差的來(lái)源主要有以下幾個(gè)方麵:1.采樣誤差:非均質(zhì)材料樣品的代表性2.樣品的製備:製樣技術(shù)的穩(wěn)定性產(chǎn)生均勻樣品的技術(shù)3.不適當(dāng)?shù)臉?biāo)樣:待測(cè)樣品是否在標(biāo)樣的組成範(fàn)圍內(nèi)標(biāo)樣元素測(cè)定值的準(zhǔn)確度標(biāo)樣與樣品的穩(wěn)定性4.儀器誤差:計(jì)數(shù)的統(tǒng)計(jì)誤差樣品的位置靈敏度和漂移重現(xiàn)性5.不適當(dāng)?shù)亩繑?shù)學(xué)模型:不正確的算法元素間的乾擾效應(yīng)未經(jīng)校正顆粒效應(yīng)純物質(zhì)的熒光強(qiáng)度隨顆粒的減小而增大,在多元素體係中,已經(jīng)證明一些元素的強(qiáng)度與吸收和增應(yīng)有關(guān),這些效應(yīng)可以引起某些元素的強(qiáng)度增加和另一些元素的強(qiáng)度減小。