HN300電纜故障測(cè)試儀 單脈衝電纜故障測(cè)試儀 HN300係列 高壓電橋測(cè)距儀5年保修

 用於35kV及以下不同等級(jí)、不同截麵、不同介質(zhì)及材質(zhì)的電力電纜的各類(lèi)故障，包括：開(kāi)路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻閃絡(luò)性故障。可配合高壓設(shè)備實(shí)現(xiàn)傳統(tǒng)電纜故障測(cè)試的低壓脈衝法、衝擊閃絡(luò)法、速度測(cè)量法。 全中文操作軟件和使用界麵，子菜單方式和文字提示實(shí)現(xiàn)人機(jī)互動(dòng)。工業(yè)級(jí)10.4寸彩色觸摸液晶屏顯示，全中文操作軟件和使用界麵，子菜單方式和文字提示實(shí)現(xiàn)人機(jī)互動(dòng)。電子行業(yè)基礎(chǔ)的測(cè)試測(cè)量設(shè)備——示波器，數(shù)年來(lái)也持續(xù)追求高帶寬、高精度、多通道等技術(shù)。而隨著外部接口信號(hào)速度的進(jìn)一步提升，如USB3.0的傳輸速度可達(dá)5Gbps/s，USB3.1的傳輸速度可達(dá)10Gbps/s，以及電子產(chǎn)品的發(fā)展趨勢(shì)如傳統(tǒng)大哥大到智能的轉(zhuǎn)變蘊(yùn)含了從大而功能簡(jiǎn)單到緊湊而功能強(qiáng)大的發(fā)展思路，傳統(tǒng)臺(tái)式儀器的演變似乎也有了新的趨勢(shì)，如近來(lái)泰克就發(fā)布了基於PC（USB）的頻譜儀和網(wǎng)絡(luò)儀。

技術(shù)參數(shù)

1. 采樣方法：低壓脈衝法、衝擊閃絡(luò)法、速度測(cè)量法

2. 采樣速率：200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz

3. 脈衝寬度：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs

4. 波速設(shè)置：交聯(lián)、聚氯、油浸紙、不滴油和未知類(lèi)型自設(shè)定

5. 衝擊高壓：35kV及以下

6. 測(cè)試距離：＜60km，盲區(qū)≤1m

7. 分 辨 率：1m

8. 測(cè)試精度：1m

9. 顯示方式：工業(yè)級(jí)10.4寸彩色觸摸液晶屏

此方案主要是利用變壓器產(chǎn)生負(fù)電壓在通過(guò)線性穩(wěn)壓器795進(jìn)行穩(wěn)壓。電源模塊輸出負(fù)電壓由於電子元件製造工藝技術(shù)越來(lái)越好，能量損耗越來(lái)越低，這樣一來(lái)越來(lái)越有利於電源的模塊化發(fā)展。而且在設(shè)計(jì)上也能做到小型化，輕型化設(shè)計(jì)。非隔離負(fù)壓輸出負(fù)電壓非隔離穩(wěn)壓輸出模塊非隔離模塊的正輸出與負(fù)輸出接法如所示，此電源模塊應(yīng)用與常用的LM785類(lèi)似，而且不需要安裝散熱片。如上圖，我們需要正負(fù)電壓給運(yùn)放等供電時(shí)，隻需要兩個(gè)ZY78xxS-5電源即可實(shí)現(xiàn)。

 四、工作原理

       本產(chǎn)品采用的是時(shí)域反射（TDR）原理，即對(duì)電纜發(fā)射一電脈衝，電脈衝將在電纜中勻速傳輸，當(dāng)遇到電纜阻抗發(fā)生變化的地方（故障點(diǎn)），電脈衝將產(chǎn)生反射。測(cè)距主機(jī)將電脈衝的發(fā)射和反射的變化以時(shí)域形式通過(guò)液晶屏顯示出來(lái)，通過(guò)屏幕上的波形可直接判讀故障距離。

① 開(kāi)關(guān)按鍵：按下自鎖接通電源，再按解鎖斷開(kāi)電源。開(kāi)機(jī)2分鐘無(wú)任何操作時(shí)，屏幕將變暗進(jìn)入屏保節(jié)能狀態(tài)。事實(shí)上，它為熱量流向障礙物所占據(jù)的區(qū)域製造了一個(gè)障礙物，這個(gè)障礙物顯然在能源方麵是有成本的。家具或其他障礙物後麵的輻射係統(tǒng)基本上增加了係統(tǒng)在啟動(dòng)和關(guān)閉期間的慣性。Sp1溫度23.8°C，Sp2溫度19.3°C，Sp3溫度22.2°C/2/3顯示了一個(gè)歧管，它為輻射供暖係統(tǒng)提供循環(huán)泵。Sp1點(diǎn)和Sp2點(diǎn)實(shí)際上幾乎處?kù)断嗤臏囟?，但設(shè)置相同的發(fā)射率值會(huì)導(dǎo)致錯(cuò)誤的結(jié)論。實(shí)際上，Sp1已經(jīng)應(yīng)用了電子膠帶，它的發(fā)射率非常接近儀器設(shè)定的值。

② 充電端口：用於連接充電器，給電池充電。

③ 中值旋鈕：順時(shí)針旋動(dòng)中值向上走動(dòng)；逆時(shí)針旋動(dòng)中值向下走動(dòng)。（需采樣刷新才有變化）大；逆時(shí)針旋動(dòng)幅度減小。（需采樣刷新才有變化）

⑤ 采樣端口：四芯座，用於連接采樣線。網(wǎng)絡(luò)(的電纜及元器件)能夠顯著減小進(jìn)入到周?chē)h(huán)境中而可能被攔截的電磁能輻射等級(jí)。不同乾擾場(chǎng)的選擇乾擾場(chǎng)主要有電磁乾擾及射頻乾擾兩種。電磁乾擾(EMI)主要是低頻乾擾，馬達(dá)、熒光燈以及電源線是通常的電磁乾擾源。射頻乾擾(RFI)是指無(wú)線頻率乾擾，主要是高頻乾擾。無(wú)線電、電視轉(zhuǎn)播、雷達(dá)及其他無(wú)線通訊是通常的射頻乾擾源。對(duì)於抵抗電磁乾擾，選擇編織為有效，因其具有較低的臨界電阻;對(duì)於射頻乾擾，箔層有效，因編織依賴(lài)於波長(zhǎng)的變化，它所產(chǎn)生的縫隙使得高頻信號(hào)可自由進(jìn)出導(dǎo)體;而對(duì)於高低頻混合的乾擾場(chǎng)，則要采用具有寬帶覆蓋功能的箔層加編織網(wǎng)的組合方式。

⑥ 觸摸式彩色液晶屏：詳見(jiàn)“工作界麵介紹”。

按“       ”鍵，彈出采樣方式選擇子菜單。子菜單中包括：“低壓脈衝”、“閃絡(luò)方法”和“速度測(cè)量”。儀器開(kāi)機(jī)默認(rèn)“低壓脈衝”，根據(jù)測(cè)試需要，可選擇相應(yīng)的采樣方式，再按“采樣方式”鍵退出。

按“       ”鍵，彈出脈衝寬度選擇子菜單。子菜單中包括7個(gè)選項(xiàng)，分彆為：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根據(jù)測(cè)試距離選擇合適的脈寬，按對(duì)應(yīng)的子菜單鍵可以對(duì)脈衝寬度進(jìn)行選擇，儀器開(kāi)機(jī)默認(rèn)0.2μs，再按“脈寬”鍵退出此項(xiàng)功能。注意：在高壓閃絡(luò)法測(cè)試中此項(xiàng)不做選擇。

MarvinTestSolutions與Rohde＆Schwarz合作開(kāi)發(fā)5GIC的ATE係統(tǒng)，也將參與這場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)之中。：TS-96e-5G外觀圖產(chǎn)品介紹硬件部分TS-96e-5GmmWe測(cè)試係統(tǒng)可提供高達(dá)5GHz的測(cè)試性能。該係統(tǒng)將實(shí)驗(yàn)室級(jí)RF性能直接集成到mmWe被測(cè)設(shè)備（DUT）中，用於mmWe設(shè)備的多網(wǎng)站生產(chǎn)測(cè)試或設(shè)備表征。此外，MTS還提供全套數(shù)字和參數(shù)測(cè)試以及SPI/I2C接口支持，以便在功能上控製/監(jiān)控被測(cè)設(shè)備。