HN300電纜故障測試儀 電纜外護套故障測試儀 HN300係列 電纜刺紮器現(xiàn)貨供應

 用於35kV及以下不同等級、不同截麵、不同介質(zhì)及材質(zhì)的電力電纜的各類故障，包括：開路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻閃絡性故障。可配合高壓設備實現(xiàn)傳統(tǒng)電纜故障測試的低壓脈衝法、衝擊閃絡法、速度測量法。 全中文操作軟件和使用界麵，子菜單方式和文字提示實現(xiàn)人機互動。工業(yè)級10.4寸彩色觸摸液晶屏顯示，全中文操作軟件和使用界麵，子菜單方式和文字提示實現(xiàn)人機互動。據(jù)悉，一般測控係統(tǒng)有傳感器、中間變換器和顯示記錄儀組成。傳感器將被測量檢出並轉(zhuǎn)換成已與測量的物理量，中間變換器對傳感器的輸出量進行、處理、轉(zhuǎn)換成後級儀表能接受的信號，輸出給其他係統(tǒng)，或由顯示記錄儀對測量結(jié)果進行顯示、記錄。傳感器是測量係統(tǒng)的的環(huán)節(jié)，對於控製係統(tǒng)來說，如果把計算機比作大腦，那麼傳感器就相當於五官，直接影響到係統(tǒng)的控製精度。傳感器一般由敏感元件、轉(zhuǎn)換文件、轉(zhuǎn)換電路組成。由敏感元件直接感受被測量，同時它自身的某一參數(shù)值變化與被測量值的變化有確定的關係，且這一參數(shù)容易測量輸出；然後由轉(zhuǎn)換元件將敏感元件的輸出轉(zhuǎn)換成電參數(shù)；後又轉(zhuǎn)換電路將轉(zhuǎn)換元件輸出的電參數(shù)放大，轉(zhuǎn)換成便於顯示、記錄、處理、控製的有用電信號。

技術參數(shù)

1. 采樣方法：低壓脈衝法、衝擊閃絡法、速度測量法

2. 采樣速率：200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz

3. 脈衝寬度：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs

4. 波速設置：交聯(lián)、聚氯、油浸紙、不滴油和未知類型自設定

5. 衝擊高壓：35kV及以下

6. 測試距離：＜60km，盲區(qū)≤1m

7. 分 辨 率：1m

8. 測試精度：1m

9. 顯示方式：工業(yè)級10.4寸彩色觸摸液晶屏

新一代“萬人迷”——2018年2月1日，版本的LabVIEWNXG，是LabVIEW工程係統(tǒng)設計軟件的下一代版本，引發(fā)業(yè)內(nèi)震動。工程師都需要麵對一個直接但複雜到難以想象的挑戰(zhàn)：解決尚未解決的難題。甚至，人們還期望他們能以更快的速度更少的資源，來解決問題。，測試家用溫控器。溫控器僅由雙金屬線圈構(gòu)成的年代已經(jīng)一去不複返了。從濕度和溫度傳感器到無線電路和動作感應，如今的溫控器融合了先進技術。係統(tǒng)的驗證需要各樣的儀器、傳感器和軟件專業(yè)知識，麵對這些挑戰(zhàn)，工程師應當從何入手？在工程中，儘可能找到省力的途徑來測量和測試複雜係統(tǒng)讓人感到十分困難。

 四、工作原理

       本產(chǎn)品采用的是時域反射（TDR）原理，即對電纜發(fā)射一電脈衝，電脈衝將在電纜中勻速傳輸，當遇到電纜阻抗發(fā)生變化的地方（故障點），電脈衝將產(chǎn)生反射。測距主機將電脈衝的發(fā)射和反射的變化以時域形式通過液晶屏顯示出來，通過屏幕上的波形可直接判讀故障距離。

① 開關按鍵：按下自鎖接通電源，再按解鎖斷開電源。開機2分鐘無任何操作時，屏幕將變暗進入屏保節(jié)能狀態(tài)。為了描述物理層結(jié)構(gòu)的特征，還必須進行頻域。S參數(shù)模型說明了這些數(shù)字電路結(jié)構(gòu)所展示出來的模擬特點包括：不連續(xù)點反射、頻率相關損耗、串擾和EMI等性能。為使設備性能符合標準，眼圖增加了重要的統(tǒng)計功能。為利用特性檢定技術改善仿真能力，可以采用基於測試結(jié)果的S參數(shù)或RLCG模型提取技術。隨著在多種工作模式下進行數(shù)字和模擬綜合（時域和頻域）變得越來越重要，要完成這些測試功能，通常需要使用多種測試儀表，同時操作多種儀表正變得越來越困難。

② 充電端口：用於連接充電器，給電池充電。

③ 中值旋鈕：順時針旋動中值向上走動；逆時針旋動中值向下走動。（需采樣刷新才有變化）大；逆時針旋動幅度減小。（需采樣刷新才有變化）

⑤ 采樣端口：四芯座，用於連接采樣線。綜上所述，對音頻儀器設備的測試源的設計和選擇有幅度可變、頻率可調(diào)兩個基本要求。通常的激勵源隻能做到單一的幅度可調(diào)(而頻率不變)或者頻率可調(diào)(而幅度不變)，冇有二者皆同時可調(diào)，這樣就導致了測試效率極低。為了提高測試效率，可以采用以正弦為載波包絡按指數(shù)衰減的信號作為測試源。1原理及仿真1.1設計原理如所示，該信號為按指數(shù)衰減的正弦信號，即其包絡為單邊衰減的指數(shù)信號，包絡內(nèi)是按正弦載波振蕩的。這樣指數(shù)衰減的包絡能反映出信號由大到小的變換規(guī)律，能滿足放大性能動態(tài)範圍的測試;而頻率可調(diào)可以方便頻率響應的測試。

⑥ 觸摸式彩色液晶屏：詳見“工作界麵介紹”。

按“       ”鍵，彈出采樣方式選擇子菜單。子菜單中包括：“低壓脈衝”、“閃絡方法”和“速度測量”。儀器開機默認“低壓脈衝”，根據(jù)測試需要，可選擇相應的采樣方式，再按“采樣方式”鍵退出。

按“       ”鍵，彈出脈衝寬度選擇子菜單。子菜單中包括7個選項，分彆為：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根據(jù)測試距離選擇合適的脈寬，按對應的子菜單鍵可以對脈衝寬度進行選擇，儀器開機默認0.2μs，再按“脈寬”鍵退出此項功能。注意：在高壓閃絡法測試中此項不做選擇。

泰克科技公司日前宣布，為Keithley4200A-SCS參數(shù)儀推出兩款源測量單元(SMU)模塊，即使在由於長電纜和複雜的測試設置而產(chǎn)生高負載電容時，其仍能執(zhí)行低電流測量。許多主要測試應用都麵臨著這一挑戰(zhàn)，如LCD顯示器製造和卡盤上的納米FET器件測試。在被測器件本身電容很小的情況下，許多低電流測量應用中所需要的測試設置也會增加SMU輸出端的電容。當測試連接電容太大時，終的低電流測量結(jié)果可能會變得不穩(wěn)定。