HN300電纜故障測試儀 電纜故障測試儀 HN300係列 電纜故障路徑儀生產(chǎn)廠家

 用於35kV及以下不同等級、不同截麵、不同介質(zhì)及材質(zhì)的電力電纜的各類故障，包括：開路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻閃絡(luò)性故障。可配合高壓設(shè)備實現(xiàn)傳統(tǒng)電纜故障測試的低壓脈衝法、衝擊閃絡(luò)法、速度測量法。 全中文操作軟件和使用界麵，子菜單方式和文字提示實現(xiàn)人機互動。工業(yè)級10.4寸彩色觸摸液晶屏顯示，全中文操作軟件和使用界麵，子菜單方式和文字提示實現(xiàn)人機互動。RS485是一種非常常用的差分通信總線，傳輸距離較遠，抗乾擾性也很好。但是對於通訊過程中的偶然故障，如何才能實現(xiàn)長達幾小時，甚至是幾天的通信過程監(jiān)控呢？測試需求：低成本長期監(jiān)控RS485總線通信過程。測試難點：RS485本身是差分總線，需要使用差分才能準確捕獲信號，但業(yè)內(nèi)很少有邏輯儀的差分，而且價值非常昂貴。測試步驟：先用示波器配合普通看一下波形，如。圖1示波器配合普通捕獲的波形我們可以清楚的看到在通訊協(xié)議信號上疊加了非常大的共模乾擾。

技術(shù)參數(shù)

1. 采樣方法：低壓脈衝法、衝擊閃絡(luò)法、速度測量法

2. 采樣速率：200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz

3. 脈衝寬度：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs

4. 波速設(shè)置：交聯(lián)、聚氯、油浸紙、不滴油和未知類型自設(shè)定

5. 衝擊高壓：35kV及以下

6. 測試距離：＜60km，盲區(qū)≤1m

7. 分 辨 率：1m

8. 測試精度：1m

9. 顯示方式：工業(yè)級10.4寸彩色觸摸液晶屏

目前T/R組件測試大多采用串行順序測試的模式，即執(zhí)行完一個測試任務(wù)，再啟動另一個測試任務(wù)，直至完成測試。這相當(dāng)於要求幾個人累計完成1千米的跑步，現(xiàn)在采用的是接力跑模式，為什麼不能根據(jù)每個人的能力一起跑呢？豈不是更快？多T/R組件並行測試模式就是在同一時刻，不同的T/R組件以多線程的方式執(zhí)行不同的測試任務(wù)，測試任務(wù)之間所需的儀器和通道並不衝突。並行測試難點不同於數(shù)字和低頻測試儀器，當(dāng)今射頻微波測試儀器自身的測試通道還比較少，一般也隻能完成某一類性能參數(shù)的測試。

 四、工作原理

       本產(chǎn)品采用的是時域反射（TDR）原理，即對電纜發(fā)射一電脈衝，電脈衝將在電纜中勻速傳輸，當(dāng)遇到電纜阻抗發(fā)生變化的地方（故障點），電脈衝將產(chǎn)生反射。測距主機將電脈衝的發(fā)射和反射的變化以時域形式通過液晶屏顯示出來，通過屏幕上的波形可直接判讀故障距離。

① 開關(guān)按鍵：按下自鎖接通電源，再按解鎖斷開電源。開機2分鐘無任何操作時，屏幕將變暗進入屏保節(jié)能狀態(tài)。半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓製造，晶圓測試，芯片封裝和封裝後測試組成，晶圓製造和芯片封裝討論較多，而測試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識經(jīng)常被邊緣化，下麵集中介紹集成電路芯片測試的相關(guān)內(nèi)容，主要集中在WAT，CP和FT三個環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計、製造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數(shù)來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成製程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據(jù)，測試方法是用ProbeCard紮在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機臺上，由WATRecipe自動控製測試位置和內(nèi)容，測完某條TestKey後，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。

② 充電端口：用於連接充電器，給電池充電。

③ 中值旋鈕：順時針旋動中值向上走動；逆時針旋動中值向下走動。（需采樣刷新才有變化）大；逆時針旋動幅度減小。（需采樣刷新才有變化）

⑤ 采樣端口：四芯座，用於連接采樣線。大直徑測徑儀是對大直徑鋼管、棒材、鋼軸等進行在線檢測的設(shè)備，但為了適用於各規(guī)格軋材的使用，大直徑測徑儀的量程非常大，本文就介紹一下如何操作選擇合適的量程以應(yīng)對各規(guī)格的軋材外徑檢測。大直徑測徑儀是集光學(xué)、機械、電子電路、通訊和計算機軟件技術(shù)為一身的成套設(shè)備。整套係統(tǒng)主要由探測頭、安裝框架、導(dǎo)軌滑臺、工控機、控製櫃等幾部分構(gòu)成。它可自動調(diào)節(jié)測量範圍，方便不同軋材尺寸的在線檢測，在選擇測徑儀時，將生產(chǎn)線上生產(chǎn)的所有規(guī)格的軋材外徑範圍都考慮進去，即範圍與範圍，保證測徑儀的測量範圍包含所有量程。

⑥ 觸摸式彩色液晶屏：詳見“工作界麵介紹”。

按“       ”鍵，彈出采樣方式選擇子菜單。子菜單中包括：“低壓脈衝”、“閃絡(luò)方法”和“速度測量”。儀器開機默認“低壓脈衝”，根據(jù)測試需要，可選擇相應(yīng)的采樣方式，再按“采樣方式”鍵退出。

按“       ”鍵，彈出脈衝寬度選擇子菜單。子菜單中包括7個選項，分彆為：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根據(jù)測試距離選擇合適的脈寬，按對應(yīng)的子菜單鍵可以對脈衝寬度進行選擇，儀器開機默認0.2μs，再按“脈寬”鍵退出此項功能。注意：在高壓閃絡(luò)法測試中此項不做選擇。

傅立葉變換紅外光譜技術(shù)結(jié)合其多種形式的非接觸測量方式，可以實現(xiàn)對氣體的主被動測量，非常適合用於化工業(yè)園區(qū)的排放現(xiàn)場監(jiān)測。FTIR技術(shù)用於氣體定量存在兩個主要問題，一是氣體分子吸收截麵受氣壓、溫度影響明顯，二是FTIR係統(tǒng)的分辨率一般遠小於氣體分子譜線的展寬，儀器線型受到乾涉圖采樣，切趾和輻射入射立體角等因素影響。這些影響因素使得表觀譜線產(chǎn)生難以忽略的偏移和展寬。20世紀80年代後期，隨著科學(xué)技術(shù)的進步，環(huán)境監(jiān)測技術(shù)迅速發(fā)展，儀器，計算機控製等現(xiàn)代化手段在大氣環(huán)境監(jiān)測中得到了廣泛應(yīng)用，自動連續(xù)監(jiān)測係統(tǒng)相繼問世。