HN300電纜故障測試儀 電纜外護套故障測試儀 HN300係列 高壓電橋測距儀30年經(jīng)驗

 用於35kV及以下不同等級、不同截麵、不同介質(zhì)及材質(zhì)的電力電纜的各類故障，包括：開路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻閃絡(luò)性故障。可配合高壓設(shè)備實現(xiàn)傳統(tǒng)電纜故障測試的低壓脈衝法、衝擊閃絡(luò)法、速度測量法。 全中文操作軟件和使用界麵，子菜單方式和文字提示實現(xiàn)人機互動。工業(yè)級10.4寸彩色觸摸液晶屏顯示，全中文操作軟件和使用界麵，子菜單方式和文字提示實現(xiàn)人機互動。否則,有可能造成光纜打滾折斷纖芯。分纖將光纖穿過熱縮管。將不同束管，不同顏色的光纖分開，穿過熱縮管。剝?nèi)T覆層的光纖很脆弱，使用熱縮管，可以保護光纖熔接頭。打開古河S176熔接機電源，采用預(yù)置的42種程式進行熔接，並在使用中和使用後及時去除熔接機中的灰塵，特彆是夾具，各鏡麵和V型槽內(nèi)的粉塵和光纖碎未。CATV使用的光纖有常規(guī)型單模光纖和色散位移單模光纖，工作波長也有1310nm和1550nm兩種。

技術(shù)參數(shù)

1. 采樣方法：低壓脈衝法、衝擊閃絡(luò)法、速度測量法

2. 采樣速率：200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz

3. 脈衝寬度：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs

4. 波速設(shè)置：交聯(lián)、聚氯、油浸紙、不滴油和未知類型自設(shè)定

5. 衝擊高壓：35kV及以下

6. 測試距離：＜60km，盲區(qū)≤1m

7. 分 辨 率：1m

8. 測試精度：1m

9. 顯示方式：工業(yè)級10.4寸彩色觸摸液晶屏

上升和下降時間決定脈衝行為，因此也決定著雕刻速度?；旌蠚怏w中的氮會降低脈衝頻率至1kHz左右。這對於過去的很多應(yīng)用已經(jīng)足夠，但對於未來的需求來說是不夠的。典型的激光功率和時間關(guān)係圖顯示出±5~1%的偏差值。這不適合控製3D雕刻材料。被測試的激光器的激光指向穩(wěn)定性出奇的好，這對於聲光調(diào)製器的使用（對入射角非常敏感）將起著直接的影響。在接近聲光調(diào)製器的功率極限時，鍺晶體對的激光場模式非常敏感。

 四、工作原理

       本產(chǎn)品采用的是時域反射（TDR）原理，即對電纜發(fā)射一電脈衝，電脈衝將在電纜中勻速傳輸，當遇到電纜阻抗發(fā)生變化的地方（故障點），電脈衝將產(chǎn)生反射。測距主機將電脈衝的發(fā)射和反射的變化以時域形式通過液晶屏顯示出來，通過屏幕上的波形可直接判讀故障距離。

① 開關(guān)按鍵：按下自鎖接通電源，再按解鎖斷開電源。開機2分鐘無任何操作時，屏幕將變暗進入屏保節(jié)能狀態(tài)。先測試出可控矽的峰值電壓，將電線正負極連接至K兩極，接地線接至室內(nèi)主接地上，逐漸升壓，測試其漏電流數(shù)值。進行漏電測試後，逐漸升壓，觀測漏電流，當數(shù)值超過其額定峰值電壓後，可控矽被擊穿，但采用此方法可能會破壞其PN結(jié)，並且隻能測試其是否導(dǎo)通，而不能測試其導(dǎo)通是否良好，故不再采用此法進行測試。搖表測試法用搖表對可控矽進行測量，參照之前使用的漏電檢測法。為防止搖表法測試過程中擊穿或損壞可控矽，改變搖表操作方法，即要對搖表電壓和轉(zhuǎn)速進行控製，兩筆端鏈接K極對其進行測試。

② 充電端口：用於連接充電器，給電池充電。

③ 中值旋鈕：順時針旋動中值向上走動；逆時針旋動中值向下走動。（需采樣刷新才有變化）大；逆時針旋動幅度減小。（需采樣刷新才有變化）

⑤ 采樣端口：四芯座，用於連接采樣線。超級電容在電動車領(lǐng)域有著廣闊的應(yīng)用前景，將是未來電動車發(fā)展的重要方向之一。超級電容的機理與特點超級電容是近期發(fā)展起來的一種新型儲能元件，是一種具有超級儲電能力、可提供強大脈動功率的物理二次電源，它與常規(guī)電容器不同，其容量可達數(shù)萬法。超級電容按儲能機理主要分為三類：由碳電極和電解液界麵上電荷分離產(chǎn)生的雙電層電容;采用金屬氧化物作為電極，在電極表麵和體相發(fā)生氧化還原反應(yīng)而產(chǎn)生可逆化學(xué)吸附的法拉第電容;由導(dǎo)電聚合物作為電極而發(fā)生氧化還原反應(yīng)的電容。

⑥ 觸摸式彩色液晶屏：詳見“工作界麵介紹”。

按“       ”鍵，彈出采樣方式選擇子菜單。子菜單中包括：“低壓脈衝”、“閃絡(luò)方法”和“速度測量”。儀器開機默認“低壓脈衝”，根據(jù)測試需要，可選擇相應(yīng)的采樣方式，再按“采樣方式”鍵退出。

按“       ”鍵，彈出脈衝寬度選擇子菜單。子菜單中包括7個選項，分彆為：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根據(jù)測試距離選擇合適的脈寬，按對應(yīng)的子菜單鍵可以對脈衝寬度進行選擇，儀器開機默認0.2μs，再按“脈寬”鍵退出此項功能。注意：在高壓閃絡(luò)法測試中此項不做選擇。

當總線變?yōu)榭臻f時，若RXD引腳輸出低電平，則可能導(dǎo)致MCU接收到錯誤數(shù)據(jù)或MCU在正常數(shù)據(jù)後誤接收1個000。RSM485PCHT門限電平數(shù)據(jù)發(fā)生了什麼變化?如所示，1在AB差分電壓處於±200mV門限電平之內(nèi)時輸出高電平，2在AB差分電壓處於±200mV門限電平之內(nèi)時輸出低電平，可以看出，2可能導(dǎo)致MCU接收到錯誤的數(shù)據(jù)，並且在數(shù)據(jù)後誤接收到1個000數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)後多000如所示，若總線上持續(xù)存在數(shù)據(jù)信號或連續(xù)發(fā)送多個字節(jié)數(shù)據(jù)，在數(shù)據(jù)之間存在的空閒狀態(tài)可能會被2識彆為1個起始位，從而導(dǎo)致數(shù)據(jù)連續(xù)錯誤。