HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
雷電衝擊電壓發(fā)生裝置 HNCJ係列 CVT檢驗諧振升壓裝置定製定做產(chǎn)品簡介：

衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗，檢驗絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗中。

適用範(fàn)圍：變壓器、電抗器、互感器及其它高壓電器、高壓晶閘管閥SVC(HVDC)、電力電纜、各類高壓絕緣子、套管等試品的標(biāo)準(zhǔn)雷電衝擊，雷電截斷波，操作衝擊及用戶要求的非標(biāo)準(zhǔn)衝擊波的各類衝擊電壓試驗。一套設(shè)備就可產(chǎn)生多種試驗波形（標(biāo)準(zhǔn)的和非標(biāo)準(zhǔn)的波形，用戶提出來的波形）。 適用領(lǐng)域：質(zhì)檢鑒定計量檢測監(jiān)督機構(gòu)，電力設(shè)備製造廠，鐵路通信，航天和航天飛行器,科研單位，大專院校以及氣象等部門的防雷和雷電試驗。如果將“L”和“E”接反了，流過絕緣體內(nèi)及表麵的漏電流經(jīng)外殼彙集到地，由地經(jīng)“L”流進測量線圈，使“G”失去作用而給測量帶來很大誤差。另外，因為“E”端內(nèi)部引線同外殼的絕緣程度比“L”端與外殼的絕緣程度要低，當(dāng)兆歐表放在地上使用時，采用正確接線方式時，“E”端對儀表外殼和外殼對地的絕緣電阻，相當(dāng)於短路，不會造成誤差，而當(dāng)“L”與“E”接反時，“E”對地的絕緣電阻同被測絕緣電阻並聯(lián)，而使測量結(jié)果偏小，給測量帶來較大誤差。

產(chǎn)品彆稱：衝擊電壓發(fā)生器，雷電衝擊電壓發(fā)生器試驗裝置，雷電衝擊電流發(fā)生器，電壓發(fā)生器試驗裝置

低壓接頭用手上緊，加上鎖緊螺絲可減少以上故障的發(fā)生，一旦發(fā)現(xiàn)低壓接頭損壞，應(yīng)重新更換。高壓接頭的故障與低壓接頭差不多，汙染和裝置不當(dāng)也常有發(fā)生。使用合適的工具在擰緊接頭的時候一定要仔細，過緊可能會損壞螺紋、刃環(huán)等，引起漏液，糟糕的是會使接頭斷在螺母內(nèi)部。使用手擰緊接頭，不需要任何工具就可以密封。旋緊接頭時要用死扳手，不用活扳手，保證不損壞接頭。注意接頭的清潔組裝與拆卸接頭時要檢查在密封麵上有無微粒和無機鹽晶體。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

1、回路電感小，並采取帶阻濾波措施，在大電容量負載下能產(chǎn)生標(biāo)準(zhǔn)衝擊波，負載能力大。

2、電壓利用係數(shù)高，雷電波和操作波分彆不低於85%和80%。

3、調(diào)波方便，操作簡單，同步性能好，動作可靠。如果我們用積分法和光度法去測試同一個燈，對比測試結(jié)果我們會發(fā)現(xiàn)二者測試的總光通量數(shù)據(jù)有較大差異。本文重點講述的是LED燈具在積分球和分布式光度計中流明測試的差異。積分法測試總光通量的原理是通過光通量標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)。由於用標(biāo)準(zhǔn)燈校準(zhǔn)，所以不必知道球體的光譜輸出量，被測LED燈產(chǎn)品的光通量φTEST（λ）是與標(biāo)準(zhǔn)燈比較計算出來的。通常來講積分法適合用於小型集成LED燈具和相對較小的LED光源測試總光通量和色度參數(shù)，這是總光通量的相對測試方法，采用積分法具有測量速度快和無需暗室的優(yōu)點，通常體積越小，越接近於點光源的燈具測試結(jié)果越準(zhǔn)確。雷電衝擊電壓發(fā)生裝置 HNCJ係列 CVT檢驗諧振升壓裝置定製定做

4、采用恒流充電自動控製技術(shù)，自動化程度高，抗乾擾能力強。