HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
雷電衝擊耐壓試驗(yàn)裝置 HNCJ係列 三倍頻電源發(fā)生器試驗(yàn)方法產(chǎn)品簡介：

衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗(yàn)，檢驗(yàn)絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

適用範(fàn)圍：變壓器、電抗器、互感器及其它高壓電器、高壓晶閘管閥SVC(HVDC)、電力電纜、各類高壓絕緣子、套管等試品的標(biāo)準(zhǔn)雷電衝擊，雷電截?cái)嗖?，操作衝擊及用戶要求的非標(biāo)準(zhǔn)衝擊波的各類衝擊電壓試驗(yàn)。一套設(shè)備就可產(chǎn)生多種試驗(yàn)波形（標(biāo)準(zhǔn)的和非標(biāo)準(zhǔn)的波形，用戶提出來的波形）。 適用領(lǐng)域：質(zhì)檢鑒定計(jì)量檢測監(jiān)督機(jī)構(gòu)，電力設(shè)備製造廠，鐵路通信，航天和航天飛行器,科研單位，大專院校以及氣象等部門的防雷和雷電試驗(yàn)。概述開關(guān)係統(tǒng)是任何的測試係統(tǒng)中的關(guān)鍵的部分，它們允許客戶通過不用的方式來連接測試儀器和被測件，從而確保了在測試的過程中被測件的不同的部分可以連接到測試儀器中，從而減少了需要用來測試的儀器設(shè)備。很多用戶可能會(huì)想到開關(guān)係統(tǒng)作為係統(tǒng)中的關(guān)鍵的部分，會(huì)由於原因而損壞，而不是因?yàn)殚_關(guān)係統(tǒng)本身不可靠。因?yàn)殚_關(guān)係統(tǒng)所處的位置是非常容易受損的，所以，意外的發(fā)生的可能性就更大了。開關(guān)係統(tǒng)是基於繼電器開關(guān)的，是屬於機(jī)械裝置，所以是有一定的使用壽命的，但是高性能的繼電器的使用壽命是很長的。

產(chǎn)品彆稱：衝擊電壓發(fā)生器，雷電衝擊電壓發(fā)生器試驗(yàn)裝置，雷電衝擊電流發(fā)生器，電壓發(fā)生器試驗(yàn)裝置

為了保證CAN總線物理層的一致性，CANDT係統(tǒng)參考ISO11898-2標(biāo)準(zhǔn)及主流車企標(biāo)準(zhǔn)對CAN節(jié)點(diǎn)相關(guān)的參數(shù)進(jìn)行測量，本文主要對CANDT的測試項(xiàng)——總線輸入電壓限值測試進(jìn)行解讀。主要參考來源總線輸入電壓限值測試項(xiàng)的評估包括隱性輸入電壓限值和顯性輸入電壓限值測試，其參考ISO11898-2標(biāo)準(zhǔn)的原理如下：CAN節(jié)點(diǎn)隱性輸入電壓限值一個(gè)CAN節(jié)點(diǎn)集成電路協(xié)議設(shè)置為總線空閒時(shí)，可檢測到的隱性位輸入限值應(yīng)通過圖1的電路測量。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

1、回路電感小，並采取帶阻濾波措施，在大電容量負(fù)載下能產(chǎn)生標(biāo)準(zhǔn)衝擊波，負(fù)載能力大。

2、電壓利用係數(shù)高，雷電波和操作波分彆不低於85%和80%。

3、調(diào)波方便，操作簡單，同步性能好，動(dòng)作可靠。對TBC試件進(jìn)行早期無損檢測具有重大意義。實(shí)驗(yàn)原理根據(jù)Grzegorz采用盲孔缺陷代替脫粘缺陷進(jìn)行的方法，在對TBC脫粘缺陷的檢測實(shí)驗(yàn)中，通常在TBC試件的金屬基底上製作盲孔缺陷來模擬真實(shí)的脫粘缺陷。本文的線激光掃描熱成像方法分為粗掃描階段和細(xì)掃描階段。在粗掃描階段的檢測原理中，LLFST係統(tǒng)能夠在TBC試件表麵彙聚出激光點(diǎn)，控製激光點(diǎn)以直線方向高速移動(dòng)。當(dāng)掃描速度足夠快且做線狀移動(dòng)時(shí)，激光點(diǎn)可以看作是線激光。雷電衝擊耐壓試驗(yàn)裝置 HNCJ係列 三倍頻電源發(fā)生器試驗(yàn)方法

4、采用恒流充電自動(dòng)控製技術(shù)，自動(dòng)化程度高，抗乾擾能力強(qiáng)。