HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
雷電衝擊電壓發(fā)生器 HNCJ係列 CVT諧振耐壓裝置試驗方法產(chǎn)品簡介：

衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗，檢驗絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗中。

適用範(fàn)圍：變壓器、電抗器、互感器及其它高壓電器、高壓晶閘管閥SVC(HVDC)、電力電纜、各類高壓絕緣子、套管等試品的標(biāo)準(zhǔn)雷電衝擊，雷電截斷波，操作衝擊及用戶要求的非標(biāo)準(zhǔn)衝擊波的各類衝擊電壓試驗。一套設(shè)備就可產(chǎn)生多種試驗波形（標(biāo)準(zhǔn)的和非標(biāo)準(zhǔn)的波形，用戶提出來的波形）。 適用領(lǐng)域：質(zhì)檢鑒定計量檢測監(jiān)督機(jī)構(gòu)，電力設(shè)備製造廠，鐵路通信，航天和航天飛行器,科研單位，大專院校以及氣象等部門的防雷和雷電試驗。兩點之前近刻度的舍入誤差就是量化噪聲的物理表現(xiàn)形式。所有ADC都會對連接至其輸入端的電壓執(zhí)行這種操作。它們會進(jìn)行信號檢測並將實際電壓近似為有限數(shù)量的步長。ADC中所用到的步長數(shù)量決定分辨率的大小。高精度Δ-ΣADC的噪聲成形特性通常會限度地降低熱噪聲和閃爍噪聲。對於16位或16位以下的器件而言，熱噪聲遠(yuǎn)遠(yuǎn)小於因信號近似而產(chǎn)生的誤差。在此類ADC中，大家會發(fā)現(xiàn)在低數(shù)據(jù)速率下數(shù)字代碼幾乎冇有發(fā)生變化。

產(chǎn)品彆稱：衝擊電壓發(fā)生器，雷電衝擊電壓發(fā)生器試驗裝置，雷電衝擊電流發(fā)生器，電壓發(fā)生器試驗裝置

FLIR紅外相機(jī)可以在現(xiàn)場抓取高質(zhì)量的紅外熱圖，並且存貯在後臺的計算機(jī)中，對於每一模的溫度都做保存，並且通過後臺的軟件作出統(tǒng)計，對於生產(chǎn)的工藝作出的控製，大大提高壓鑄廠家的工藝穩(wěn)定性和數(shù)據(jù)追溯能力。上圖是一個現(xiàn)場的紅外熱像監(jiān)控係統(tǒng)，通過安裝在機(jī)械臂上的紅外相機(jī)（安裝在保護(hù)殼中），紅外相機(jī)根據(jù)壓鑄係統(tǒng)中的PLC發(fā)出的命令抓圖，並且傳輸?shù)结崤_計算機(jī)中，做進(jìn)一步的溫度分布。借助FLIR在線紅外相機(jī)強大的功能以及穩(wěn)定性，這套係統(tǒng)已經(jīng)在大量客戶現(xiàn)場穩(wěn)定工作了。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

1、回路電感小，並采取帶阻濾波措施，在大電容量負(fù)載下能產(chǎn)生標(biāo)準(zhǔn)衝擊波，負(fù)載能力大。

2、電壓利用係數(shù)高，雷電波和操作波分彆不低於85%和80%。

3、調(diào)波方便，操作簡單，同步性能好，動作可靠。在帶寬500MHz以下的示波器，一般標(biāo)配是1倍衰減或10倍衰減的無源，某些的衰減比可手動選擇。不同衰減比的在帶寬、輸入電阻、輸入電容上麵都有差異：圖2ZP1025SA1倍、10倍衰減時的參數(shù)差異可見的輸入電容，比晶體手冊的負(fù)載電容要大。的介入，必定大大影響到原已參數(shù)優(yōu)化好的電路，從而嚴(yán)重影響晶體電路的起振。兩害相權(quán)取其輕，測量無源晶振時應(yīng)優(yōu)先選用10倍衰減。若10倍衰減的寄生參數(shù)還是過大，可以考慮選用有源高壓差分，其負(fù)載參數(shù)優(yōu)化得非常小，如Lecroy的ZP1000，輸入阻抗可達(dá)0.9p1M歐姆。雷電衝擊電壓發(fā)生器 HNCJ係列 CVT諧振耐壓裝置試驗方法

4、采用恒流充電自動控製技術(shù)，自動化程度高，抗乾擾能力強。