HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
衝擊電壓發(fā)生裝置 HNCJ係列 超低頻耐壓試驗(yàn)裝置生產(chǎn)廠家產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗(yàn)，檢驗(yàn)絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

適用範(fàn)圍：變壓器、電抗器、互感器及其它高壓電器、高壓晶閘管閥SVC(HVDC)、電力電纜、各類高壓絕緣子、套管等試品的標(biāo)準(zhǔn)雷電衝擊，雷電截?cái)嗖?，操作衝擊及用戶要求的非標(biāo)準(zhǔn)衝擊波的各類衝擊電壓試驗(yàn)。一套設(shè)備就可產(chǎn)生多種試驗(yàn)波形（標(biāo)準(zhǔn)的和非標(biāo)準(zhǔn)的波形，用戶提出來的波形）。 適用領(lǐng)域：質(zhì)檢鑒定計(jì)量檢測(cè)監(jiān)督機(jī)構(gòu)，電力設(shè)備製造廠，鐵路通信，航天和航天飛行器,科研單位，大專院校以及氣象等部門的防雷和雷電試驗(yàn)。相比一代產(chǎn)品，二代產(chǎn)品外形幾乎冇有變化，但功能更加強(qiáng)大；其中Baby-LIN-RM-II可以支持高速CAN和低速CAN；Baby-LIN-MB-II也可以支持CAN總線；手持式的測(cè)試設(shè)備HARP-5可同時(shí)支持CAN，LIN，並帶有顯示屏，具有數(shù)據(jù)記錄儀的功能。下圖是一個(gè)簡(jiǎn)單對(duì)比：Baby-LIN-II係列產(chǎn)品都配有免費(fèi)的LINWorks軟件，安裝在PC上支持所有工作流程，可以在WINXP,VISTA,WIN7/8/1(32/64位)上操作。

產(chǎn)品彆稱：衝擊電壓發(fā)生器，雷電衝擊電壓發(fā)生器試驗(yàn)裝置，雷電衝擊電流發(fā)生器，電壓發(fā)生器試驗(yàn)裝置

現(xiàn)把這兩個(gè)問題的和解決過程與讀者一同分享。係統(tǒng)概述及問題描述現(xiàn)簡(jiǎn)略的介紹該係統(tǒng)，其簡(jiǎn)略框圖如下：該係統(tǒng)由兩個(gè)模塊組成，前端模塊可插拔，在插入後會(huì)傳輸信號(hào)給FPGA，信號(hào)經(jīng)過前端接收，A/D采樣後進(jìn)入FPGA做信號(hào)處理，然後FPGA把處理過的信號(hào)通過PCIe接口傳送給工控機(jī)進(jìn)行後處理及顯示。工控機(jī)也會(huì)通過PCIe接口控製FPGA的工作狀態(tài)。前端的模塊是可插拔的。個(gè)問題是該機(jī)器在做測(cè)試時(shí)，發(fā)現(xiàn)在換模塊時(shí)會(huì)偶發(fā)的出現(xiàn)工控機(jī)與FPGA的通訊異常的現(xiàn)象，該現(xiàn)象出現(xiàn)的頻率很低，測(cè)試組的同事反饋在做測(cè)試時(shí)經(jīng)常會(huì)有換模塊的操作，但該現(xiàn)象基本上幾天才出現(xiàn)一次，雖然該現(xiàn)象概率低，但是問題影響甚為重大，必須攻破。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

1、回路電感小，並采取帶阻濾波措施，在大電容量負(fù)載下能產(chǎn)生標(biāo)準(zhǔn)衝擊波，負(fù)載能力大。

2、電壓利用係數(shù)高，雷電波和操作波分彆不低於85%和80%。

3、調(diào)波方便，操作簡(jiǎn)單，同步性能好，動(dòng)作可靠。當(dāng)金屬球體的半徑遠(yuǎn)大於信號(hào)波長(zhǎng)λ時(shí)15λ，並且球和雷達(dá)的距離R15λ時(shí)，此金屬球的雷達(dá)散射截麵與信號(hào)頻率無關(guān)。雷達(dá)散射界麵的基本概念雷達(dá)方程為典型的雷達(dá)方程描述，發(fā)射信號(hào)功率Pt通過增益為Gt的發(fā)射天線，並通過空間的衰減（距離為R）後，遇到目標(biāo)並將部分信號(hào)功率（反射信號(hào)與入射信號(hào)的功率比為目標(biāo)的雷達(dá)散射截麵）反射回雷達(dá)接收天線，同樣經(jīng)過空間衰減，通過增益為Gr的接收天線得到功率為Pr，Pr與以上這些參數(shù)的關(guān)係在方程中表示。2選擇數(shù)據(jù)記錄功能4.1.3導(dǎo)出抓包數(shù)據(jù)可以通過wirshark等方軟件工具打開4.1.4測(cè)試結(jié)果4.2.TimeMeasurements-時(shí)序測(cè)試4.2.1設(shè)置過濾條件參考4.1.1設(shè)置過濾條件如下，比如設(shè)置LWR報(bào)文指令，位置如下4.2.2選擇時(shí)序測(cè)試功能在彈出來的時(shí)序圖，可根據(jù)不同端口port的設(shè)置來確定不同參數(shù)的設(shè)置，比如fromporttoport，是用來測(cè)試circletime。衝擊電壓發(fā)生裝置 HNCJ係列 超低頻耐壓試驗(yàn)裝置生產(chǎn)廠家

4、采用恒流充電自動(dòng)控製技術(shù)，自動(dòng)化程度高，抗乾擾能力強(qiáng)。