HN1015A蓄電池充放電，活化測(cè)試儀 單體蓄電池充放電測(cè)試儀 HN1016B 直流接地故障檢測(cè)儀價(jià)格實(shí)惠

本儀器是針對(duì)整組蓄電池係列測(cè)試，不同規(guī)格型號(hào)對(duì)整組要求不同，具體根據(jù)儀表為準(zhǔn)。單體電池電壓為2V\12V（根據(jù)具體指標(biāo)定）的鉛酸蓄電池組進(jìn)行測(cè)試的儀器。

測(cè)試步驟介紹據(jù)，216年汽車(chē)電子標(biāo)簽(OBU)的市場(chǎng)需求量有近千萬(wàn)套。某國(guó)內(nèi)ETC行業(yè)的企業(yè)，OBU年銷(xiāo)量達(dá)數(shù)百萬(wàn)套。他們?cè)谝豢頞BU中使用某MCU廠商的Cortex-M3內(nèi)核芯片作為主控MCU，量產(chǎn)時(shí)采用為在線編程的方式，在PCB板上，對(duì)MCU進(jìn)行批量燒錄。就像：在燒片過(guò)程中，客戶發(fā)現(xiàn)燒錄良率非常低，經(jīng)常莫名的燒錄失敗。每天幾千套的產(chǎn)能要求，低良率生產(chǎn)，讓生產(chǎn)部門(mén)在燒錄環(huán)節(jié)束手無(wú)策。為提高產(chǎn)能效率及燒錄的穩(wěn)定性，客戶請(qǐng)求技術(shù)支持。

1.4.1在線監(jiān)測(cè)測(cè)試：

步：連接單體電壓采集器。（詳見(jiàn)章節(jié)2.4）

步：把整組電壓測(cè)試線連接到電池組兩端。（詳見(jiàn)章節(jié)2.5）

步：插入電源，主機(jī)開(kāi)機(jī)。

第四步：進(jìn)入在線監(jiān)測(cè)參數(shù)設(shè)置。(詳見(jiàn)章節(jié)3.1）

第五步：“確定”開(kāi)始測(cè)試。

1.4.2 放電測(cè)試：在冇有彆的外力的情況下，電子會(huì)很好的保持著。在需要消去電子時(shí)，利用紫外線進(jìn)行照射，給電子足夠的能量，逃逸出浮柵。EEPROM的寫(xiě)入過(guò)程，是利用了隧道效應(yīng)，即能量小於能量勢(shì)壘的電子能夠穿越勢(shì)壘到達(dá)另一邊。量子力學(xué)認(rèn)為物理尺寸與電子自由程相當(dāng)時(shí)，電子將呈現(xiàn)波動(dòng)性,這裡就是表明物體要足夠的小。就pn結(jié)來(lái)看，當(dāng)p和n的雜質(zhì)濃度達(dá)到一定水平時(shí)，並且空間電荷極少時(shí)，電子就會(huì)因隧道效應(yīng)向?qū)нw移。電子的能量處?kù)赌硞€(gè)級(jí)彆允許級(jí)彆的範(fàn)圍稱(chēng)為“帶”，較低的能帶稱(chēng)為價(jià)帶，較高的能帶稱(chēng)為導(dǎo)帶。

步：連接單體電壓采集器（詳見(jiàn)章節(jié)2.4）。純負(fù)載不具此功能

步：放電開(kāi)關(guān)，撥到分的位置(防止放電電纜反接，損壞儀器；反接告警提示)。

步：把放電線一端連到主機(jī)，另一端連到電池組兩端。（注意紅正黑負(fù)）。接反會(huì)告警提示。（詳見(jiàn)章節(jié)2.5）

第四步：把整組電壓測(cè)試線連接到電池組2端。

第五步：插入電源(電池組供電不用接AC220V電源，直接將放電開(kāi)關(guān)撥到合的位置)，主機(jī)開(kāi)機(jī)。

第六步：進(jìn)入放電參數(shù)設(shè)置。(詳見(jiàn)章節(jié)3.2）

第七步：將放電開(kāi)關(guān)撥到合的位置（電池組供電省略此步驟）。

第八步：“確定”開(kāi)始測(cè)試。

1.4.3容量快測(cè)（選配功能）在標(biāo)準(zhǔn)GB/T4365-1995中對(duì)電磁兼容嚴(yán)格的定義是：設(shè)備或係統(tǒng)在其電磁環(huán)境中能正常工作且不對(duì)該環(huán)境中任何事物構(gòu)成不能承受的電磁擾的能力。電磁兼容性包括兩方麵：電磁乾擾（electromagneticinterference;EMI）、電磁耐受（electromagneticsusceptibility;EMS）。EMI指的是電氣產(chǎn)品本身通電後，因電磁感應(yīng)效應(yīng)所產(chǎn)生的電磁波對(duì)周?chē)娮釉O(shè)備所造成的乾擾影響；EMS則是指電氣產(chǎn)品本身對(duì)外來(lái)電磁波的乾擾防禦能力。

步：連接單體電壓采集器（詳見(jiàn)章節(jié)2.4）。

步：放電開(kāi)關(guān)，撥到分的位置(防止放電電纜反接，損壞儀器；反接告警提示)。

步：把放電線一端連到主機(jī)，另一端連到電池組兩端。（注意紅正黑負(fù)）。接反會(huì)告警提示。（詳見(jiàn)章節(jié)2.5）

第四步：把整組電壓測(cè)試線連接到電池組2端。

第五步：插入電源，主機(jī)開(kāi)機(jī)。

第六步：進(jìn)入容量快測(cè)參數(shù)設(shè)置。(詳見(jiàn)章節(jié)3.3）

第七步：將放電開(kāi)關(guān)撥到合的位置。

第八步：“確定”開(kāi)始測(cè)試。單芯片集成的趨勢(shì)使得手持設(shè)備變的小巧而可靠，並具備了多種功能?，F(xiàn)在的驅(qū)動(dòng)器的尺寸已經(jīng)小於1mm3，但仍然能提供高質(zhì)量、無(wú)明顯乾擾的輸出信號(hào)。除了半導(dǎo)體製造技術(shù)的進(jìn)步之外，小尺寸的芯片和表麵貼裝芯片的流行也意味著更多的高科技元件能做成的體積。表麵貼裝芯片比過(guò)孔式模型有更多的優(yōu)勢(shì)，比如能用取放機(jī)器進(jìn)行簡(jiǎn)單的自動(dòng)組裝，在節(jié)省空間的雙麵電路板設(shè)計(jì)方麵提供更多的靈活性。采用較少的元件是另一個(gè)節(jié)省空間和能量的趨勢(shì)，它能使便攜設(shè)備在變小的同時(shí)延長(zhǎng)了電池壽命。單體蓄電池充放電測(cè)試儀 HN1016B 直流接地故障檢測(cè)儀價(jià)格實(shí)惠