HNXZ-270kva/70kv調(diào)頻式串聯(lián)諧振耐壓裝置 (規(guī)格廠家選定)
發(fā)電機交流耐壓試驗裝置 HNNY 交直流高壓分壓器

一、產(chǎn)品概述

該裝置主要針對電纜，電機等及其係統(tǒng)的交流耐壓試驗設(shè)計製造。電抗器采用多隻分開設(shè)計，既可滿足高電壓、小電流的設(shè)備試驗條件要求的耐壓設(shè)備。

2、主要功能及其技術(shù)特點：

裝置具有過壓、過流、零位啟動、係統(tǒng)失諧（閃落）等保護功能，過壓過流保護值可以根據(jù)用戶需要整定，試品閃落時閃落保護動作並能記下閃落電壓值，以供試驗。

自動掃頻時頻率起點可以在規(guī)定範圍內(nèi)任意設(shè)定，掃頻方向可以向上、向下選擇，同時彩色液晶大屏幕顯示掃描諧振、升壓、記時曲線方便使用者直觀了解是否找到諧振點。

應(yīng)用背景用頻裝備是現(xiàn)代化戰(zhàn)爭中的重要組成部分，在很多場合用頻裝備性能指標的高低直接決定了戰(zhàn)爭全局的勝敗。然而，在的實際戰(zhàn)區(qū)的電磁環(huán)境中，充斥著種類繁多的複雜電磁信號，雷達、導航、通信、敵方乾擾、自然噪聲等信號。同時由於電磁信號的傳播受到實際地理環(huán)境的顯著影響，導致戰(zhàn)區(qū)電磁環(huán)境異常複雜。用頻裝備在複雜電磁環(huán)境下的性能測試成為其研製過程中的重要內(nèi)容。概括來說，裝備的電磁性能測試按環(huán)境不同可分為三類。

二、技術(shù)參數(shù)

1、-指生產(chǎn)廠家代碼

210kVA指設(shè)備能輸出的額定容量，單位為kVA

70kV指設(shè)備能輸出的電壓等級，單位為kV；（電壓值根據(jù)具體需要）

2、技術(shù)指標

（1）額定電壓：

70kV---滿足10kV電纜的交流耐壓試驗；

（2）輸出電壓波形畸變率：<1.0％

（3）允許連續(xù)工作時間：額定條件下一次性工作30分鐘，在對電纜耐壓時，滿足連續(xù)工作60分鐘

（4）裝置自身品質(zhì)因數(shù)：Q>50

（5）電纜試驗時滿負荷下品質(zhì)因數(shù)：Q>30（與負載相關(guān)）

（6）輸入電源：單相380V/220V

（7）頻率調(diào)節(jié)範圍：30Hz～300Hz

（8）係統(tǒng)測量精度：1.5％

（9）裝置具有過壓、過流、零位啟動等保護功能

3、技術(shù)參數(shù)

（1）電源控製箱 1臺

額定功率：4.5kW；

輸入電壓：單相 380V/220V±15%  50Hz

輸出電壓：0～400V可調(diào)

輸出電壓頻率：30～300Hz  

0.1Hz步進可調(diào) 

頻率不穩(wěn)定度≤0.02%

輸出電流：0～11.25A

（2）電抗器 3臺

額定工作電壓：25kV

額定工作電流：1A

額定電感量：100H

連續(xù)工作時間：60分鐘

溫    升：小於60度

工作頻率：30~300Hz

（3）勵磁變壓器 1臺

額定容量：4.5kVA

輸入電壓：400V/200V

輸出電壓：1kV/3kV

輸出電流：4.5A/1.5A

 便攜式設(shè)備所采用的IC器件大多是高集成度、小體積產(chǎn)品，精密的加工工藝使矽晶氧化層非常薄，因而更易擊穿，有的在2V左右就會受到損傷。傳統(tǒng)的保護方法已不再普遍適用，有的甚至還會造成對設(shè)備性能的乾擾。TVS二極管的特點可用於便攜式設(shè)備的ESD保護器件有很多，設(shè)計人員可用分立器件搭建保護回路，但由於便攜設(shè)備對於空間的限定以及避免回路自感，這種方法已逐漸被更加集成化的器件所替代。多層金屬氧化物器件、陶瓷電容還有二極管都可以有效地進行防護，它們的特性及表現(xiàn)各有不同，TVS二極管在此類應(yīng)用中的特表現(xiàn)為其贏得了越來越大的市場。

（4）電容分壓器-50kV

電容量：1000pF

額定電壓:70kV

工作頻率：30～300HZ使用組合透鏡係統(tǒng)對物體成像，實現(xiàn)加電時液晶透鏡區(qū)域清晰，具有大視場、局部高分辨率的效果。本文通過實驗測量模組光圈與液晶透鏡匹配、液晶透鏡位置等對於成像質(zhì)量的影響。研究方向：液晶透鏡成像係統(tǒng)測試目的：展示成像係統(tǒng)對於局部區(qū)域的清晰成像效果，測量不同位置、不同光圈下成像係統(tǒng)的MTF，其對於成像質(zhì)量的影響。測試設(shè)備:相機、鏡頭、函數(shù)發(fā)生器、功率放大器ATA-24組合透鏡係統(tǒng)放大器型號:AigtekATA-242實驗過程：1.實驗室製備液晶透鏡，並通過乾涉法獲取波前信息，得到zernike係數(shù)，得到液晶透鏡的性能參數(shù)，以選擇合適的驅(qū)動電壓；組裝成像係統(tǒng)，對不同區(qū)域的物體進行成像實驗；使用ISO12233板對成像係統(tǒng)進行對焦測試，測試不同光圈、不同液晶透鏡位置的MTF值。接觸式的測試方法中測溫元件直接與被測介質(zhì)接觸，直接測得被測物體的溫度，因而簡單、可靠、測量精度高。經(jīng)常用到的如所示：.功能單一的測溫儀產(chǎn)品的溫升試驗也是安規(guī)要求的一個重要部分，那麼我們在設(shè)計一款產(chǎn)品時，如何實現(xiàn)經(jīng)濟而且便捷的測量呢?開關(guān)電源中MOSFET和二極管會產(chǎn)生開關(guān)損耗以及傳導損耗、電感損耗包括線圈損耗和磁芯損耗、電容等造成的損耗，這些損耗終都以熱的形式展現(xiàn)出來，而過熱又會降低元器件性能導致?lián)p耗加劇，所以了解無用功率損失在哪裡很重要。

（5）測試線及附件 1套