HN8000兆歐表檢定裝置

HN8000型兆歐表檢定裝置是根據(jù)JJG622-1997《絕緣電阻表（兆歐表）檢定規(guī)程》，JJG 1005-2005《電子式絕緣電阻表檢定規(guī)程》，DL/T 979-2005 《直流高壓高阻箱檢定規(guī)程》之要求設(shè)計製造的新型絕緣電阻表檢定裝置，其測試電壓可達(dá)10000V。各項指標(biāo)均符合規(guī)程的要求。它不僅能檢定型號、不同規(guī)格的國產(chǎn)、進(jìn)口絕緣電阻表（兆歐表），而且可用作高阻計的檢定。就效率測試這一點來說，電機(jī)驅(qū)動器也是一樣的。為了保證電機(jī)的效率和電機(jī)驅(qū)動器效率測試的準(zhǔn)確性，必須保證兩者是在同一個負(fù)載下時對效率進(jìn)行測量的，也就是說，要保證在同一個時間點下進(jìn)行采集。這裡一般會用到多通道的功率儀進(jìn)行測量，如下圖，就是一種非常常用的對變頻電機(jī)及變頻器進(jìn)行同步測試的方法。在此係統(tǒng)中，變頻器(電機(jī)驅(qū)動器)的三相輸入、三相輸出、電機(jī)的轉(zhuǎn)速扭矩輸出都接到同一臺設(shè)備(功率儀)上進(jìn)行采集，並通過設(shè)備內(nèi)部的效率運算工具實現(xiàn)對電機(jī)、電機(jī)驅(qū)動器及整個係統(tǒng)的效率同步測量。

2.5 結(jié)構(gòu)

    采用十進(jìn)製步進(jìn)序列，高阻部分和低阻部分分開的分體式結(jié)構(gòu)，其中高阻部分采用密封式鑄鋁機(jī)箱，電阻輸出範(fàn)圍10⁹~10¹²Ω，低阻部分采用半封閉式鐵皮機(jī)箱，電阻輸出範(fàn)圍10²~10⁹Ω；端電壓測量範(fàn)圍100V~10kV。

2.6  兆歐表檢定裝置未列指標(biāo)均符合高阻箱檢定規(guī)程之要求。

2.7  體積、重量：618×290×130（mm）、20kg交叉編譯相關(guān)庫移植人臉識彆算法庫，該庫基於NCNN神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)上搭建人臉識彆係統(tǒng)，依賴的庫有OpenCV、NCNN以及Sqlit3。這些庫需要交叉編譯，其中OpenCV和Sqlit3的ARM版S32V已經(jīng)提供不需要再進(jìn)行編譯，編譯後的NCNN和人臉識彆算法庫都是靜態(tài)庫，不需要拷貝到目標(biāo)板上。人臉檢測Demo通過Qt來實現(xiàn)界麵顯示，在pro文件中添加VSDK中獲取攝像頭數(shù)據(jù)的相關(guān)庫，算法移植的相關(guān)庫，然後通過如下API接口獲取圖像數(shù)據(jù)。

使用方法

5.1 使用前的準(zhǔn)備

檢查裝置中各開關(guān)能否正常旋轉(zhuǎn)，端電壓表能否正常顯示。

5.2  數(shù)字式兆歐表電阻測量功能的檢定

5.2.1 按圖4要求接線（同名端相接）。

5.2.2選擇全檢量程調(diào)節(jié)旋鈕直接輸出對應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)電阻值，記錄數(shù)字式兆歐表的讀數(shù)，依據(jù)公式算出相對誤差：

式中：δ —— 被檢兆歐表電阻讀數(shù)值的相對誤差，%；

R_x —— 被檢兆歐表電阻讀數(shù)值，Ω；

R_n —— 檢定裝置電阻標(biāo)稱值，Ω。

5.3  指針式兆歐表電阻測量功能的檢定

5.3.1 按圖5要求接線（同名端相接）。

5.3.2 按兆歐表中的被檢分度值預(yù)置高阻箱的電阻值。

5.3.3 啟動恒轉(zhuǎn)速源（轉(zhuǎn)速設(shè)定在120轉(zhuǎn)/分，若需其它轉(zhuǎn)速，按增、減速鍵即可）。

5.3.4 調(diào)節(jié)高阻箱的電阻值，使得兆歐表指針與被檢分度線重合，高阻箱示值即為被檢分度值對應(yīng)的實測值，依據(jù)公式(2)算出誤差：

式中：δ —— 被檢兆歐表電阻讀數(shù)值的相對誤差，%；

R_x —— 被檢兆歐表電阻分度線數(shù)值，Ω；

R_n —— 被檢分度線數(shù)值對應(yīng)的實測值，Ω。

5.3.5 按同樣方法順序檢定每個標(biāo)有數(shù)值的分度線。

5.3.6本裝置由低阻部分和高阻部分組合而成，當(dāng)被檢兆歐表分度值大於1GΩ時，需將高阻部分與低阻部分接連使用，其連線方式如下圖： 

其中EMI包括：CE（傳導(dǎo)乾擾），RE（輻射乾擾），PT(乾擾功率測試)等等。EMS包括：ESD(靜電放電），RS（輻射耐受），EFT/B(快速脈衝耐受)，surge（雷擊），CS（傳導(dǎo)耐受）等。常見的擾源顯然，EMC設(shè)計的目的就是使所設(shè)計的電子設(shè)備或係統(tǒng)在預(yù)期的電磁環(huán)境中能夠?qū)崿F(xiàn)電磁兼容。換而言之,就是說設(shè)計的電子設(shè)備或係統(tǒng)必須能夠滿足EMC標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的兩方麵的能力。常見EMC測試項目電磁乾擾（EMI）的原理EMI的產(chǎn)生原因形式的電磁乾擾是影響電子設(shè)備兼容性的主要原因。

7.1  該檢定裝置應(yīng)在乾燥、無腐蝕氣體、無陽光直射、無強磁場乾擾、溫度在23℃±5℃、相對濕度≤75%的環(huán)境中使用。

7.2  如因存放、使用不善，使得該裝置受潮，出現(xiàn)乾燥劑變色，除更換乾燥劑外，還需用小於50℃的乾燥熱風(fēng)對裝置內(nèi)部（特彆是高阻值部分）進(jìn)行去濕處理後方能保證該裝置的正常使用。

7.3  檢定裝置若長時間未使用，在再次使用前應(yīng)將電阻調(diào)節(jié)開關(guān)從頭至尾轉(zhuǎn)動數(shù)次，保證其接觸良好?；瘜W(xué)工業(yè)中，測控技術(shù)的應(yīng)用有：溫度測量、流量測量、液位測量、濃度、酸度、濕度、密度、濁度、熱值及混合氣體組分等參數(shù)測量需要的測量儀表與按照預(yù)定規(guī)律控製被控參數(shù)的控製儀表等。機(jī)械工業(yè)中，測控技術(shù)的應(yīng)用有：精密數(shù)字控製機(jī)床、自動生產(chǎn)線、工業(yè)機(jī)器人等。航天工業(yè)中，測控技術(shù)的應(yīng)用有：飛行器的飛行高度、飛行速度、飛行狀態(tài)與方向、加速度、過載以及發(fā)動機(jī)狀態(tài)等參數(shù)的測量，航天技術(shù)的航天運載器技術(shù)、航天器技術(shù)、航天測控技術(shù)等。青島華能供應(yīng) 絕緣電阻測試儀校驗裝置 價格實惠