HNWDL-8000溫升三相大電流發(fā)生器 青島華能專業(yè)定製 電纜熱循環(huán)裝置 生產(chǎn)廠家

又稱：大電流溫升試驗設(shè)備，大電流溫升試驗係統(tǒng)，大電流溫升試驗裝置

功能簡介：

     HNWDL-10000溫升三相大電流發(fā)生器主要用於母線槽，開關(guān)，開關(guān)櫃和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗及溫升試驗。

功能特點：

1）內(nèi)置高配置工控機，采用可編程控製器西門子S730PLC作為中心處理器，對交流信號進(jìn)行實時掃描,實現(xiàn)監(jiān)測和閉環(huán)控製，並設(shè)計設(shè)置管理，隻有獲得相應(yīng)操作權(quán)限的人員，才能進(jìn)行某些功能的操作。一直以來，工程師關(guān)注的一個重點就是波形的穩(wěn)定性。然而在對波形的長時間監(jiān)控中，突發(fā)的數(shù)據(jù)乾擾往往難以捕捉，就成為了許多工程師的心頭之患。本文介紹幾種實用功能，協(xié)助工程師們快速異常數(shù)據(jù)的位置。查看波形是電子測量儀器常用的一個功能。為了確保波形是否穩(wěn)定運行，工程師們往往需要對觀測信號進(jìn)行長時間的采樣檢測，本文介紹ZDL6示波記錄儀常用的3種波形異常檢測功能，可以通過這3種功能迅速到異常數(shù)據(jù)的發(fā)生位置，大大提高測試效率。

2）進(jìn)口PC機15英寸真彩大液晶觸摸工業(yè)平板電腦操作，采用支持現(xiàn)場總線技術(shù)的智能型傳感器，實現(xiàn)數(shù)據(jù)傳送的全數(shù)字化，顯示操作單元選用了觸摸式彩色液晶顯示屏，全中文菜單，界麵清晰直觀，操作簡單方便。測試無需外接任何輔助設(shè)備，全自動控製，式操作，快捷、簡單、方便

3）本儀器測試方法有全自動測試與手動測試兩種方法，隻需設(shè)置簡單的試驗電流與時間即可。帶有自動穩(wěn)流係統(tǒng)，配有4個USB口，輕鬆U盤、打印機等多種設(shè)備。並以通過鼠標(biāo)接口直接操作。提供RS232和RS485兩種通訊接口選擇，可與後臺計算機連接，通過RS232接口可以直接與電腦PC機通訊，可以打印曲線，提供電腦通訊軟件；實現(xiàn)數(shù)據(jù)和溫度曲線打?。籗implelink傳感器控製器是的16位處理單元(CPU)核心，在活動模式、待機模式和啟動耗能階段均隻消耗極低功率。如圖2所示，該傳感器控製器包括模擬和數(shù)字外圍設(shè)備，它們專為實現(xiàn)超低功率而進(jìn)行了優(yōu)化。利用這些外圍設(shè)備和2MHz時鐘模式，使得該控製器非常適合感應(yīng)式測量應(yīng)用，從而實現(xiàn)超低功率：，基於感應(yīng)式測量原則，可以在100Hz時達(dá)到低至3.9μA的平均電流消耗值。欲了解詳情，請參閱流量表應(yīng)用示例，閱讀“采用CC13x2R無線MCU的單芯片流量表解決方案。

4）隻需設(shè)置好目標(biāo)電流即可，無需人工監(jiān)控，僅需設(shè)定測試、電流和步長，省去手動調(diào)壓、人工記錄、描繪曲線等煩瑣勞動，減小勞動強度，提高工作效率也可工作結(jié)束後把數(shù)據(jù)讀到電腦上查看即可。

5）有超過限定值自動報功能具有可靠的過熱、過流、過壓及短路自我保護(hù)功能。交流調(diào)壓裝置保護(hù)應(yīng)采用微機自動保護(hù)控製和機械微動限位開關(guān)雙重保護(hù)，確保恒流電源正常工作，提高產(chǎn)品的**性、可靠性。

Atmel、賽普拉斯、Microchip和NXP等多家公司已經(jīng)把部分用戶可定義邏輯添加到自己的部件上，用於修複部分此類問題。這些器件主要是帶附加邏輯的微控製器。CPU仍然是主要的處理器件，附加邏輯的作用是提高CPU的工作效率。這類器件常見於成本敏感性產(chǎn)品中，但也在低級任務(wù)中用作小型協(xié)處理器，以減輕主處理器的負(fù)擔(dān)，從而提升效率。另一方麵FPGA也正在朝著類似的目標(biāo)前進(jìn)，雖然是從另一個方向。賽靈思和Altera多年來一直在添加軟硬核處理器以創(chuàng)建片上係統(tǒng)。

主要技術(shù)指標(biāo)：電流值由客戶根據(jù)需要確定

型號		HNWDL-8000A
大輸出電流		交流單相8000A  3組
電路方式		電動柱式調(diào)壓器
交流輸入	相線	3Φ4W +G
	電壓	380V±10%，50Hz±2%三相四線
	輸入電流	834A
輸出	相線	1Φ2W +G
	開路電壓	0-20V自動轉(zhuǎn)換
	電流	AC  0-8000A連續(xù)可調(diào)   準(zhǔn)度：0.5
	穩(wěn)流準(zhǔn)度	輸出電流≤±0.2%
	輸出端子	接線端子
	保護(hù)	電子電路快速偵測過電壓、過電流、過高溫自動跳脫保護(hù)及告裝置 非測試狀態(tài)電壓為零，電流為零

青島華能專業(yè)定製 電纜熱循環(huán)裝置 生產(chǎn)廠家半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓製造，晶圓測試，芯片封裝和封裝後測試組成，晶圓製造和芯片封裝討論較多，而測試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識經(jīng)常被邊緣化，下麵集中介紹集成電路芯片測試的相關(guān)內(nèi)容，主要集中在WAT，CP和FT三個環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計、製造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數(shù)來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成製程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據(jù)，測試方法是用ProbeCard紮在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機臺上，由WATRecipe自動控製測試位置和內(nèi)容，測完某條TestKey後，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。