HNWDL-8000溫升三相大電流發(fā)生器 青島華能專業(yè)定製 熔斷器測試儀 廠家直供

又稱：大電流溫升試驗設(shè)備，大電流溫升試驗係統(tǒng)，大電流溫升試驗裝置

功能簡介：

     HNWDL-10000溫升三相大電流發(fā)生器主要用於母線槽，開關(guān)，開關(guān)櫃和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗及溫升試驗。

功能特點：

1）內(nèi)置高配置工控機，采用可編程控製器西門子S730PLC作為中心處理器，對交流信號進(jìn)行實時掃描,實現(xiàn)監(jiān)測和閉環(huán)控製，並設(shè)計設(shè)置管理，隻有獲得相應(yīng)操作權(quán)限的人員，才能進(jìn)行某些功能的操作。”紅外熱像儀可以通過蝙蝠的熱特征來實現(xiàn)蝙蝠的監(jiān)測。蝙蝠是夜行動物，通常在黃昏時離開白天的棲息地，這是在行動中捕捉蝙蝠的理想時刻。由於紅外熱像儀探測的是熱量，而不是光線，因此研究人員可以在夜間研究蝙蝠，而夜間正是蝙蝠活躍的時段。由於其視覺特性，熱成像技術(shù)還可與智能軟件相結(jié)合，智能軟件能夠計數(shù)和識彆蝙蝠並執(zhí)行智能運動跟蹤。PPUR研究小組成員在洞穴前的瀉湖裡，黃昏前時刻，這時是紅外熱像儀捕捉離開洞穴的蝙蝠的理想時刻。

2）進(jìn)口PC機15英寸真彩大液晶觸摸工業(yè)平板電腦操作，采用支持現(xiàn)場總線技術(shù)的智能型傳感器，實現(xiàn)數(shù)據(jù)傳送的全數(shù)字化，顯示操作單元選用了觸摸式彩色液晶顯示屏，全中文菜單，界麵清晰直觀，操作簡單方便。測試無需外接任何輔助設(shè)備，全自動控製，式操作，快捷、簡單、方便

3）本儀器測試方法有全自動測試與手動測試兩種方法，隻需設(shè)置簡單的試驗電流與時間即可。帶有自動穩(wěn)流係統(tǒng)，配有4個USB口，輕鬆U盤、打印機等多種設(shè)備。並以通過鼠標(biāo)接口直接操作。提供RS232和RS485兩種通訊接口選擇，可與後臺計算機連接，通過RS232接口可以直接與電腦PC機通訊，可以打印曲線，提供電腦通訊軟件；實現(xiàn)數(shù)據(jù)和溫度曲線打印；在精密測試測量行業(yè)，測量準(zhǔn)確度(精度)是儀器本身的靈魂，是儀器重要的指標(biāo)之一，但不同的儀器其準(zhǔn)確度有不同的表達(dá)方式，因此隻有理解了儀器的精度指標(biāo)後才能更好地指導(dǎo)我們進(jìn)行測量。在測試測量過程中，受測量儀器硬件本身、測量條件或測量方法的影響，測量得到的結(jié)果(測量值)與真實值之間有一定的差異，這個差異就是測量誤差，測量誤差可能包含與測量值成比例的誤差，也可能包含與測量值無關(guān)的固定誤差。

4）隻需設(shè)置好目標(biāo)電流即可，無需人工監(jiān)控，僅需設(shè)定測試、電流和步長，省去手動調(diào)壓、人工記錄、描繪曲線等煩瑣勞動，減小勞動強度，提高工作效率也可工作結(jié)束後把數(shù)據(jù)讀到電腦上查看即可。

5）有超過限定值自動報功能具有可靠的過熱、過流、過壓及短路自我保護(hù)功能。交流調(diào)壓裝置保護(hù)應(yīng)采用微機自動保護(hù)控製和機械微動限位開關(guān)雙重保護(hù)，確保恒流電源正常工作，提高產(chǎn)品的**性、可靠性。

傳感器可以被用來測量物理量。根據(jù)測量的物理量不同，傳感器可以分成溫度傳感器、流量傳感器、壓力傳感器等很多種類。但是所有傳感器工作原理都是基於物理定律，如果出現(xiàn)了新的現(xiàn)象或在特定物質(zhì)中，在某方麵出現(xiàn)了奇異的效應(yīng)，就可以利用這些現(xiàn)象和效應(yīng)來研製傳感器。經(jīng)常被用來製作傳感器的物理現(xiàn)象和效應(yīng)有霍爾效應(yīng)、多普勒效應(yīng)、壓阻效應(yīng)、應(yīng)變效應(yīng)等。但是並不是所有研製出來的傳感器都能夠使用，因為傳感器要滿足可靠性的要求，為了從傳感器的輸出信號中得到被測量的原始信息，如果傳感器不穩(wěn)定，那麼對同樣的輸入信號，其輸出信號就不一樣，則傳感器會給出錯誤的輸出信號，使傳感器的作用失靈。

主要技術(shù)指標(biāo)：電流值由客戶根據(jù)需要確定

型號		HNWDL-8000A
大輸出電流		交流單相8000A  3組
電路方式		電動柱式調(diào)壓器
交流輸入	相線	3Φ4W +G
	電壓	380V±10%，50Hz±2%三相四線
	輸入電流	834A
輸出	相線	1Φ2W +G
	開路電壓	0-20V自動轉(zhuǎn)換
	電流	AC  0-8000A連續(xù)可調(diào)   準(zhǔn)度：0.5
	穩(wěn)流準(zhǔn)度	輸出電流≤±0.2%
	輸出端子	接線端子
	保護(hù)	電子電路快速偵測過電壓、過電流、過高溫自動跳脫保護(hù)及告裝置 非測試狀態(tài)電壓為零，電流為零

青島華能專業(yè)定製 熔斷器測試儀 廠家直供半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓製造，晶圓測試，芯片封裝和封裝後測試組成，晶圓製造和芯片封裝討論較多，而測試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識經(jīng)常被邊緣化，下麵集中介紹集成電路芯片測試的相關(guān)內(nèi)容，主要集中在WAT，CP和FT三個環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計、製造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數(shù)來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成製程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據(jù)，測試方法是用ProbeCard紮在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機臺上，由WATRecipe自動控製測試位置和內(nèi)容，測完某條TestKey後，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。