HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗係統(tǒng) 青島華能生產(chǎn)多路配電箱溫升試驗設(shè)備 廠家直供 

用於箱變,配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標(biāo)準(zhǔn)對開關(guān)櫃進(jìn)行試驗的要求。但由於-85至-115dBm的範(fàn)圍高於背景噪聲水平，GPS信號對於GPS接收器始終可見，因此測得的C/NOdBHz水平對於滑塊衰減幾乎冇有關(guān)聯(lián)性。降低LabSatRF水平就會發(fā)現(xiàn)C/NO存在一定程度的下降，但並非線性下降。為LabSat添加40dB外部衰減，會將RF功率降至大約-125dBm至-155dBm的範(fàn)圍。該範(fàn)圍與GPS天線在戶外接受的RF水平一致，並低於背景噪聲水平。以此方式降低信號後，就可對C/NO實現(xiàn)更充分的線性控製。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC範(fàn)圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開關(guān)櫃及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時間應(yīng)滿足工作時間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時間：大電流輸出不少於24小時

輸出相數(shù)：三相  多路

你知道現(xiàn)在的處理器已經(jīng)發(fā)展為8核和10核處理器了嗎?這些處理器需要多個內(nèi)核來同時運(yùn)行很多應(yīng)用程序，操作遊戲和高質(zhì)量流的圖形處理器。這些全新的處理器需要很高的電流(有時超過10A)，並且需要以儘可能快的速度傳送這個電流。由於不斷增長的內(nèi)核數(shù)量，為這些處理器供電的器件的屬性也在發(fā)生著變化。在滿足小外形尺寸需要的同時，需要真正的業(yè)內(nèi)進(jìn)的電源技術(shù)。TI有幾款為處理器供電的降壓轉(zhuǎn)換器，諸如TPS62180、LP8758和TPS62184。

具備供電電源三相輸入電壓、輸入電流顯示功能

具備試驗過程記錄功能（持續(xù)記錄輸出電壓、輸出電流相關(guān)數(shù)據(jù)）

具備試驗結(jié)果自動計算功能

具備傳輸後編輯報告生成功能

具備全自動測試與手動測試兩種方法，全自動測試時隻需簡單設(shè)置試驗電流、時間、記錄步長即可，帶自動穩(wěn)流係統(tǒng)。係統(tǒng)跟蹤目標(biāo)電流，自動調(diào)整、平衡三相輸出電壓、電流，並可自動記錄電流、電壓數(shù)據(jù)，。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

青島華能生產(chǎn)多路配電箱溫升試驗設(shè)備 廠家直供其主要功能是用於檢測電容充電完畢後u的漏電流指標(biāo)。檢測指標(biāo)合格後，電容樣品將被**放電並流向後道包裝環(huán)節(jié)，而測試不通過的樣品則被篩選出來另作處理。在電容生產(chǎn)過程中，采用的電容老化測試設(shè)備是否地檢測出產(chǎn)品性能至關(guān)重要。如果對u的漏電流指標(biāo)測試精度不達(dá)標(biāo)，可能會導(dǎo)致部分不合格產(chǎn)品流入後道成品中，降低電容產(chǎn)品的大批量可靠性。若將指標(biāo)調(diào)節(jié)過於苛刻，將導(dǎo)致生產(chǎn)過程中部分合格產(chǎn)品被誤判為失效，造成不必要的報廢損失，降低經(jīng)濟(jì)效益。