HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗(yàn)係統(tǒng) 青島華能生產(chǎn)配電箱溫升大電流試驗(yàn)設(shè)備 售後完善 

用於箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開關(guān)櫃進(jìn)行試驗(yàn)的要求。CAN的協(xié)議結(jié)構(gòu)中物理層、數(shù)據(jù)鏈路層已經(jīng)由硬件實(shí)現(xiàn)，目前都已經(jīng)標(biāo)準(zhǔn)化，有現(xiàn)成的部件(CAN控製器和)選擇。因此在單片機(jī)上加上CAN控製器、，軟件實(shí)現(xiàn)相應(yīng)的驅(qū)動(dòng)程序就基本實(shí)現(xiàn)了CAN的通訊功能。LIN（LocalInterconnectNetwork）總線：其易於實(shí)施、成本低、可應(yīng)用在對(duì)實(shí)時(shí)性要求不高的場(chǎng)合。車燈、車門、座椅和雨刷之類的控製是其應(yīng)用領(lǐng)域，它作為CAN網(wǎng)絡(luò)的有效補(bǔ)償，的優(yōu)勢(shì)在於成本低。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC範(fàn)圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開關(guān)櫃及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少於24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

出現(xiàn)負(fù)坡度的可能原因有以下兩種：光束準(zhǔn)直調(diào)整不正確。如果軸線短於1m則可能是材料熱膨脹補(bǔ)償係數(shù)不正確、材料溫度測(cè)量不正確或者波長(zhǎng)補(bǔ)償不正確。俯仰和扭擺造成阿貝偏置誤差、機(jī)床線性誤差。針對(duì)以上問(wèn)題，可采取的措施有：如果軸線行程很短，檢查激光的準(zhǔn)直情況；檢查EC10和測(cè)量頭是否已連接並有反應(yīng)；檢查輸入的手動(dòng)環(huán)境數(shù)據(jù)是否正確；檢查材料傳感器是否正確以及輸入的膨脹係數(shù)是否正確；使用角度光學(xué)鏡組重新做一次測(cè)量，檢查機(jī)床的俯仰和扭擺誤差。

具備供電電源三相輸入電壓、輸入電流顯示功能

具備試驗(yàn)過(guò)程記錄功能（持續(xù)記錄輸出電壓、輸出電流相關(guān)數(shù)據(jù)）

具備試驗(yàn)結(jié)果自動(dòng)計(jì)算功能

具備傳輸後編輯報(bào)告生成功能

具備全自動(dòng)測(cè)試與手動(dòng)測(cè)試兩種方法，全自動(dòng)測(cè)試時(shí)隻需簡(jiǎn)單設(shè)置試驗(yàn)電流、時(shí)間、記錄步長(zhǎng)即可，帶自動(dòng)穩(wěn)流係統(tǒng)。係統(tǒng)跟蹤目標(biāo)電流，自動(dòng)調(diào)整、平衡三相輸出電壓、電流，並可自動(dòng)記錄電流、電壓數(shù)據(jù)，。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

青島華能生產(chǎn)配電箱溫升大電流試驗(yàn)設(shè)備 售後完善TestCenter具有完全自主的知識(shí)產(chǎn)權(quán)。2012年，TestCenter入選國(guó)防科技工業(yè)百項(xiàng)先進(jìn)工業(yè)技術(shù)研究推廣應(yīng)用工程。如所示，為Testercenter的界麵，TestCenter可以在多個(gè)測(cè)試領(lǐng)域中被應(yīng)用，包括消費(fèi)類電子產(chǎn)品及裝備的電路板級(jí)、模塊級(jí)、係統(tǒng)級(jí)的功能測(cè)試與故障診斷。Testcenter界麵IEEE1232標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介故障診斷在裝備綜合保障中應(yīng)用廣泛，為了規(guī)範(fàn)測(cè)試診斷過(guò)程和實(shí)現(xiàn)診斷知識(shí)的共享，IEEE製訂了人工智能應(yīng)用於係統(tǒng)測(cè)試與診斷領(lǐng)域的通用標(biāo)準(zhǔn)即IEEE1232標(biāo)準(zhǔn)，也稱作AI-ESTATE標(biāo)準(zhǔn)。