有的朋友買了示波器，看到示波器的刷新率標(biāo)稱，可能會很好奇，想知道能否測出來。相對于采樣率、存儲深度等由硬件特性決定的指標(biāo)，刷新率完全是由處理器處理方式?jīng)Q定的，合理的數(shù)據(jù)處理方式可以得到更高的刷新率，接下來我們就手把手教大家測量示波器的刷新率，感興趣的朋友可以拿起手中的示波器測一下。我們先來了解下示波器刷新率（也叫波形捕獲率）的概念。波形捕獲率概念波形捕獲率是個什么概念呢？波形捕獲率是相對于數(shù)字示波器來說的。

HN12A變頻式互感器綜合儀（CT/PT儀）

功能簡介：

1 勵磁特性試驗(yàn)

2 變比試驗(yàn)

3 相位和極性試驗(yàn)

4 CT一次電流及負(fù)荷時的比差、角差測量

5 CT二次繞組電阻測量

6 CT二次回路負(fù)荷測量

7 CT暫態(tài)特性測試與

8 CT升流試驗(yàn)

9 測量校核型號的CT、PT，包括保護(hù)CT、計量CT、TP級暫態(tài)CT、勵磁飽和電壓達(dá)到40KV的CT、變壓器套管CT、各電壓級PT等.

10 點(diǎn)電壓/電流、10%(5%)誤差曲線、準(zhǔn)確限值系數(shù)、儀表保安系數(shù)、二次時間常數(shù)、剩磁系數(shù)、準(zhǔn)確級、飽和和不飽和電感等CT、PT參數(shù)的測量.

自動給出點(diǎn)電壓/電流、 10％誤差曲線、 5％誤差曲線、準(zhǔn)確限值系數(shù)（ALF）、 儀表保安系數(shù)（FS）、 二次時間常數(shù)(Ts)、剩磁系數(shù)(Kr)、準(zhǔn)確級、飽和和不飽和電感等參數(shù)。20世紀(jì)80年始，非制冷紅外焦平面陣列探測器在美國支持下發(fā)展起來的，在1992年研發(fā)完成后才對布。初期技術(shù)路線包括德州儀器研制的BST熱釋電探測器和霍尼韋爾研制的氧化釩（VOx）微測輻射熱計探測器。后來由于熱釋電技術(shù)本身的一些局限性，微測輻射熱計探測器逐漸勝出。2009年，L-3公司終宣布停止繼續(xù)生產(chǎn)熱釋電探測器。之后，法國的CEA/LETI以及德州儀器公司又分別研制了非晶硅（a-Si）微測輻射熱計探測器。

技術(shù)參數(shù)：

輸出電壓：0~180V (RMS)
■ 輸出電流：0~12A，峰值36A
■ 電壓測量：準(zhǔn)確度 ±0.1%
■ CT變比測量范圍：1~30000
■ PT變比測量范圍：1~30000CP/PT儀 鐵心磁性能測量儀 使用方法OTA測試可以將產(chǎn)品內(nèi)部輻射干擾、產(chǎn)品結(jié)構(gòu)、天線的因素、射頻芯片收發(fā)算法等因素考慮進(jìn)去，是非常接近產(chǎn)品實(shí)際使用場景的測試手段。我們以早的3GUESISOOTA測試為例來了解OTA測試所需的基本環(huán)境：吸波暗室，轉(zhuǎn)盤（控制UE旋轉(zhuǎn)）天線（在某一固置接收UE輻射信號）用于提供天線虛擬信號的無線測試平臺（如KeysightUXM系列，圖中未顯示）測量過程中將通過旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)臺來控制并測量UE天線在不同方向的輻射特性。