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現(xiàn)把這兩個(gè)問(wèn)題的和解決過(guò)程與讀者一同分享。系統(tǒng)概述及問(wèn)題描述現(xiàn)簡(jiǎn)略的介紹該系統(tǒng),其簡(jiǎn)略框圖如下:該系統(tǒng)由兩個(gè)模塊組成,前端模塊可插拔,在插入后會(huì)傳輸信號(hào)給FPGA,信號(hào)經(jīng)過(guò)前端接收,A/D采樣后進(jìn)入FPGA做信號(hào)處理,然后FPGA把處理過(guò)的信號(hào)通過(guò)PCIe接口傳送給工控機(jī)進(jìn)行后處理及顯示。工控機(jī)也會(huì)通過(guò)PCIe接口控制FPGA的工作狀態(tài)。前端的模塊是可插拔的。個(gè)問(wèn)題是該機(jī)器在做測(cè)試時(shí),發(fā)現(xiàn)在換模塊時(shí)會(huì)偶發(fā)的出現(xiàn)工控機(jī)與FPGA的通訊異常的現(xiàn)象,該現(xiàn)象出現(xiàn)的頻率很低,測(cè)試組的同事反饋在做測(cè)試時(shí)經(jīng)常會(huì)有換模塊的操作,但該現(xiàn)象基本上幾天才出現(xiàn)一次,雖然該現(xiàn)象概率低,但是問(wèn)題影響甚為重大,必須攻破。
HN10A互感器特性綜合測(cè)試儀互感器伏安特性測(cè)試儀 電流互感器現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試儀 全自動(dòng)互感器試驗(yàn)臺(tái)
功能簡(jiǎn)介:
測(cè)試互感器:PT、CT(保護(hù)類(lèi)、計(jì)量類(lèi))、伏安特性(勵(lì)磁特性)曲線(xiàn)、自動(dòng)給出點(diǎn)值、自動(dòng)給出5%和10%的誤差曲線(xiàn)、變比測(cè)量、比差測(cè)量、相位(角差)測(cè)量、極性判斷、一次通流測(cè)試、交流耐壓測(cè)試、二次負(fù)荷測(cè)試、二次繞組測(cè)試、鐵心退磁等設(shè)計(jì)的多功能現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)儀器。
技術(shù)參數(shù):
1、工作電源:AC220V±10% 、50Hz
2、設(shè)備輸出:0~2500Vrms, 5Arms(20A峰值)
3、大電流輸出:0~1000A
4、二次繞組電阻測(cè)量范圍:0.1~50Ω
5、二次繞組電阻測(cè)量準(zhǔn)度:≤0.5%、分辨力0.01
6、二次實(shí)際負(fù)荷測(cè)量范圍:5~300VA
7、二次實(shí)際負(fù)荷測(cè)量準(zhǔn)度:≤0.5%±0.1VA一個(gè)捕獲周期包括采樣時(shí)間和死區(qū)時(shí)間,模擬信號(hào)通過(guò)ADC采樣量化變轉(zhuǎn)為數(shù)字信號(hào)同時(shí)存儲(chǔ),整個(gè)采樣存儲(chǔ)過(guò)程的時(shí)間稱(chēng)為采樣時(shí)間。示波器必須對(duì)存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)進(jìn)行測(cè)量運(yùn)算顯示等處理,才能開(kāi)始下一次的采樣,這段時(shí)間稱(chēng)為死區(qū)時(shí)間。死區(qū)時(shí)間內(nèi),示波器并沒(méi)有進(jìn)行波形采集。一個(gè)捕獲周期完成就會(huì)進(jìn)入下一個(gè)捕獲周期。捕獲周期的倒數(shù)就是波形刷新率,如.1中所示,波形刷新率=1/(Tacq+Tdeat)。.1示波器采樣過(guò)程示意圖影響波形刷新率的因素有哪些?采樣時(shí)間和死區(qū)時(shí)間如.1中所示,波形刷新率為T(mén)acq(采樣時(shí)間)和Tdeat(死區(qū)時(shí)間)的倒數(shù),其中采樣時(shí)間由示波器屏幕的采樣窗格決定,用水平時(shí)基檔位乘以水平方向格數(shù),當(dāng)水平時(shí)基確定后,采樣時(shí)間就會(huì)固定。
軟件使用說(shuō)明
11.1 將配套光盤(pán)放入計(jì)算機(jī)光驅(qū)中,解壓“軟件”至C盤(pán)根目錄。
11.2,安裝“wic_x86_chs.exe”文件,其次,安裝“dotNetFx40_Full_x86_x64.exe”軟件,默認(rèn)安裝地址即可。
11.3安裝完畢后,打開(kāi)“伏安特性”文件夾,選擇打開(kāi)“VATeXing.exe”操作軟件,如圖38即為上位機(jī)操作軟件。
11.4在“VATeXing.exe”操作軟件中,下方選擇互感器種類(lèi)“CT”或“PT”,應(yīng)用語(yǔ)言“中文”或“英文”。
11.5如需生成報(bào)告格式文件,必須載入試驗(yàn)結(jié)果數(shù)據(jù),具體操作方法如下:
a)、將存儲(chǔ)試驗(yàn)數(shù)據(jù)的U盤(pán)連接至計(jì)算機(jī)。
b)、在圖38中選擇打開(kāi)“選擇文件”,出現(xiàn)圖39操作窗口,在圖39中可根據(jù)需要載入所需文件。
c)、試驗(yàn)結(jié)果數(shù)據(jù)說(shuō)明:以“A”為開(kāi)頭的數(shù)據(jù)為勵(lì)磁特性結(jié)果數(shù)據(jù),以“B”為開(kāi)頭的數(shù)據(jù)為變比極性結(jié)果數(shù)據(jù),以“C”為開(kāi)頭的數(shù)據(jù)為負(fù)荷結(jié)果數(shù)據(jù),以“D”為開(kāi)頭的數(shù)據(jù)為直阻結(jié)果數(shù)據(jù)。以“E”為開(kāi)頭的數(shù)據(jù)為角差比差結(jié)果數(shù)據(jù),以“T”為開(kāi)頭的數(shù)據(jù)為暫態(tài)結(jié)果數(shù)據(jù)。
11.6 載入數(shù)據(jù)結(jié)束后,選擇“確定”出現(xiàn)圖40界面,在此界面右上方設(shè)置相應(yīng)參數(shù)后,選擇“生成誤差曲線(xiàn)”則完成所有試驗(yàn)結(jié)果的載入。
11.7 載入完成后,可根據(jù)需要選擇“保存”或打印結(jié)果數(shù)據(jù)。
11.8 選擇“保存”選項(xiàng),則以WORD的形式顯示結(jié)果如圖41。
11.9 如需繼續(xù)加載試驗(yàn)結(jié)果數(shù)據(jù),請(qǐng)先上次載入的數(shù)據(jù)。
HN12A變頻式互感器綜合儀(CT/PT儀)
功能簡(jiǎn)介:
1 勵(lì)磁特性試驗(yàn)
2 變比試驗(yàn)
3 相位和極性試驗(yàn)
4 CT一次電流及負(fù)荷時(shí)的比差、角差測(cè)量
5 CT二次繞組電阻測(cè)量
6 CT二次回路負(fù)荷測(cè)量
7 CT暫態(tài)特性測(cè)試與
8 CT升流試驗(yàn)
9 測(cè)量校核型號(hào)的CT、PT,包括保護(hù)CT、計(jì)量CT、TP級(jí)暫態(tài)CT、勵(lì)磁飽和電壓達(dá)到40KV的CT、變壓器套管CT、各電壓級(jí)PT等.
10 點(diǎn)電壓/電流、10%(5%)誤差曲線(xiàn)、準(zhǔn)確限值系數(shù)、儀表保安系數(shù)、二次時(shí)間常數(shù)、剩磁系數(shù)、準(zhǔn)確級(jí)、飽和和不飽和電感等CT、PT參數(shù)的測(cè)量.
自動(dòng)給出點(diǎn)電壓/電流、 10%誤差曲線(xiàn)、 5%誤差曲線(xiàn)、準(zhǔn)確限值系數(shù)(ALF)、 儀表保安系數(shù)(FS)、 二次時(shí)間常數(shù)(Ts)、剩磁系數(shù)(Kr)、準(zhǔn)確級(jí)、飽和和不飽和電感等參數(shù)。
技術(shù)參數(shù):
輸出電壓:0~180V (RMS)
■ 輸出電流:0~12A,峰值36A
■ 電壓測(cè)量:準(zhǔn)確度 ±0.1%
■ CT變比測(cè)量范圍:1~30000
■ PT變比測(cè)量范圍:1~30000互感器伏安特性測(cè)試儀 電流互感器現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試儀 全自動(dòng)互感器試驗(yàn)臺(tái)所逐出的次級(jí)光電子稱(chēng)為俄歇電子。當(dāng)較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不被原子內(nèi)吸收,而是以光子形式放出,便產(chǎn)生X射線(xiàn)熒光,其能量等于兩能級(jí)之間的能量差。射線(xiàn)熒光的能量或波長(zhǎng)是特征性的,與元素有一一對(duì)應(yīng)的關(guān)系。由Moseley定律可知,只要測(cè)出熒光X射線(xiàn)的波長(zhǎng),就可以知道元素的種類(lèi),這就是熒光X射線(xiàn)定性的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線(xiàn)的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系,據(jù)此,可以進(jìn)行元素定量。