結(jié)構(gòu)與等效電路本文提出的新型CMRC平面結(jié)構(gòu)如所示，其LC等效電路模型如所示。介質(zhì)基板采用TaconicCER_1，其介電常數(shù)er=9.5,厚度.64mm。圖CMRC的平面結(jié)構(gòu)圖LC等效電路模型濾波器特性仿真主要結(jié)構(gòu)參數(shù)對(duì)傳輸特性的影響我們對(duì)所示CMRC結(jié)構(gòu)應(yīng)用HFSS進(jìn)行建模以及仿真，并了主要結(jié)構(gòu)參數(shù)對(duì)濾波器傳輸特性的影響。在仿真中我們發(fā)現(xiàn)xy1以及y2對(duì)濾波器傳輸特性的影響較大，其影響特性曲線如至所示，由和可知減小x1和y1可以降低諧振頻率，從而相應(yīng)的可以減小低通頻率范圍，這是因?yàn)樵诘刃щ娐纺Ｐ椭?，減小x1或y1都可以提高單位長(zhǎng)度的分布串聯(lián)電感(L和L1)。
HN6000A四通道變頻抗干擾高壓介質(zhì)損耗測(cè)試儀  遠(yuǎn)見(jiàn) 青島華能HN6000 多通道介質(zhì)損耗測(cè)試儀 變壓器綜合測(cè)試臺(tái)

   該儀器可用正、反接線方法測(cè)量不接地或直接地的高壓電器設(shè)備?？梢詼y(cè)量電容式電壓互感器的tg及主電容C1、C2電容量。適用于電力行業(yè)中變壓器、互感器、套管、電容器、避雷器等設(shè)備的介損測(cè)量。

抗干擾介損自動(dòng)測(cè)試儀 技術(shù)參數(shù)
    1、準(zhǔn)確度：
    Cx: ±（讀數(shù)×1%+1pF）
    tg: ±（讀數(shù)×1%+0.00040）
    2、抗干擾指標(biāo)： 變頻抗干擾，在200%干擾下仍能達(dá)到上述準(zhǔn)確度
    3、電容量范圍：
    內(nèi)施高壓： 3pF～60000pF/10kV 60pF～1μF/0.5kV
    外施高壓： 3pF～1.5μF/10kV 60pF～30μF/0.5kV
    分辨率： 更高0.001pF，4位有效數(shù)字
    4、tg范圍： 不限，分辨率0.001%，電容、電感、電阻三種試品自動(dòng)識(shí)別。
    5、試驗(yàn)電流范圍：10μA～1A
    6、內(nèi)施高壓： 
    設(shè)定電壓范圍：0.5～10kV
    輸出電流：200mA
    升降壓方式： 連續(xù)平滑調(diào)節(jié)
    試驗(yàn)頻率：
    45、50、55、60、65Hz單頻     
    45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動(dòng)雙變頻現(xiàn)階段四種主流無(wú)線充電技術(shù)值得一提的是，由于磁共振(MR)及磁感應(yīng)(MI)技術(shù)各有擅場(chǎng)，因此兩大陣營(yíng)皆已推出雙模技術(shù)。無(wú)線充電主要聯(lián)盟發(fā)展就無(wú)線充電技術(shù)的發(fā)展來(lái)看，除上述利用磁場(chǎng)傳輸電力的磁感應(yīng)及磁共振技術(shù)外，無(wú)線電波式式相對(duì)發(fā)展較成熟的技術(shù)，電場(chǎng)耦合式無(wú)線充電技術(shù)則因獲得AppleWatch的采用，也躋身為現(xiàn)階段主流無(wú)線充電技術(shù)的一員。
    頻率準(zhǔn)度： ±0.01Hz
    7、外施高壓：
    正接線時(shí)試驗(yàn)電流1A，工頻或變頻40-70Hz
    反接線時(shí)試驗(yàn)電流10kV/1A，工頻或變頻40-70Hz
    8、CVT自激法低壓輸出：輸出電壓3～50V，輸出電流3～30A遠(yuǎn)見(jiàn) 青島華能HN6000 多通道介質(zhì)損耗測(cè)試儀 變壓器綜合測(cè)試臺(tái)我們把積分時(shí)間這個(gè)術(shù)語(yǔ)定義為熱像儀內(nèi)部熱成像探測(cè)器生成一個(gè)單幀的曝光時(shí)間。以較長(zhǎng)的曝光時(shí)間來(lái)操作熱像儀能夠提高靈敏度，但與此同時(shí)，這也限制了熱像儀的測(cè)溫范圍：高溫物體如此明亮，以至于它們超出了熱像儀的規(guī)定測(cè)溫范圍。如果一個(gè)場(chǎng)景或一組連續(xù)鏡頭包含需要同時(shí)測(cè)量的溫差，熱像儀的曝光時(shí)間應(yīng)大大縮短。但由于超出了規(guī)定的測(cè)溫范圍，這種縮短本身會(huì)造成場(chǎng)景較冷區(qū)域溫差測(cè)量的能力下降，導(dǎo)致這些區(qū)域在屏幕上顯示為黑色或噪點(diǎn)，如至4所示。