充電準備就緒測試：檢查供電設備是否能檢測到車輛準備就緒并啟動充電。啟動及充電階段測試：在充電過程中，檢查供電設備是否能通過PWM信號占空比告知其可供電能力。正常充電結束測試：檢查供電設備在收到車輛停止充電指令時充電結束過程是否正常。充電連接控制時序測試本測試的目的是檢查供電設備充電連接控制狀態(tài)跳轉和時間間隔是否滿足要求。狀態(tài)轉換示意圖如下圖所示，充電時供電設備充電連接時序應滿足GB/T18487.1-2015中A.4和A.5規(guī)定的要求。
HN6000A四通道變頻抗干擾高壓介質損耗測試儀  遠見 青島華能HN6000 四通道介質損耗測試儀 變壓器空載負載測試儀

   該儀器可用正、反接線方法測量不接地或直接地的高壓電器設備?？梢詼y量電容式電壓互感器的tg及主電容C1、C2電容量。適用于電力行業(yè)中變壓器、互感器、套管、電容器、避雷器等設備的介損測量。

抗干擾介損自動測試儀 技術參數(shù)
    1、準確度：
    Cx: ±（讀數(shù)×1%+1pF）
    tg: ±（讀數(shù)×1%+0.00040）
    2、抗干擾指標： 變頻抗干擾，在200%干擾下仍能達到上述準確度
    3、電容量范圍：
    內施高壓： 3pF～60000pF/10kV 60pF～1μF/0.5kV
    外施高壓： 3pF～1.5μF/10kV 60pF～30μF/0.5kV
    分辨率： 更高0.001pF，4位有效數(shù)字
    4、tg范圍： 不限，分辨率0.001%，電容、電感、電阻三種試品自動識別。
    5、試驗電流范圍：10μA～1A
    6、內施高壓： 
    設定電壓范圍：0.5～10kV
    輸出電流：200mA
    升降壓方式： 連續(xù)平滑調節(jié)
    試驗頻率：
    45、50、55、60、65Hz單頻     
    45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動雙變頻泰克科技公司日前宣布，為Keithley4200A-SCS參數(shù)儀推出兩款源測量單元(SMU)模塊，即使在由于長電纜和復雜的測試設置而產生高負載電容時，其仍能執(zhí)行低電流測量。許多主要測試應用都面臨著這一挑戰(zhàn)，如LCD顯示器制造和卡盤上的納米FET器件測試。在被測器件本身電容很小的情況下，許多低電流測量應用中所需要的測試設置也會增加SMU輸出端的電容。當測試連接電容太大時，終的低電流測量結果可能會變得不穩(wěn)定。
    頻率準度： ±0.01Hz
    7、外施高壓：
    正接線時試驗電流1A，工頻或變頻40-70Hz
    反接線時試驗電流10kV/1A，工頻或變頻40-70Hz
    8、CVT自激法低壓輸出：輸出電壓3～50V，輸出電流3～30A遠見 青島華能HN6000 四通道介質損耗測試儀 變壓器空載負載測試儀其中半導體器件(包括：半導體分立器件、集成電路等)大多數(shù)是輻射敏感器件，輻射環(huán)境對這些器件的性能會產生不同程度的影響，甚至使其失效。針對輻射效應，在器件的材料、電路設計、結構設計、工藝制造及封裝等各個環(huán)節(jié)采取加固措施，使其具有一定的抗輻射性能。選擇抗輻射加固的器件應用在空間輻射環(huán)境中，將能提高航天器的可靠性和使用壽命;應用在戰(zhàn)略中，將能提高其效能和突防能力?？臻g輻射環(huán)境對電子器件主要產生電離輻射總劑量(TID)效應和單粒子效應(SEE);核輻射環(huán)境尤其是核環(huán)境，主要產生瞬時電離輻射總劑量效應、中子輻射效應和電磁脈沖損傷效應。