HN6000A四通道變頻抗干擾高壓介質(zhì)損耗測試儀  遠見 青島華能HN6000 介損測試儀 變壓器空負載測試儀

   該儀器可用正、反接線方法測量不接地或直接地的高壓電器設(shè)備?？梢詼y量電容式電壓互感器的tg及主電容C1、C2電容量。適用于電力行業(yè)中變壓器、互感器、套管、電容器、避雷器等設(shè)備的介損測量。

抗干擾介損自動測試儀 技術(shù)參數(shù)
    1、準確度：
    Cx: ±（讀數(shù)×1%+1pF）
    tg: ±（讀數(shù)×1%+0.00040）
    2、抗干擾指標： 變頻抗干擾，在200%干擾下仍能達到上述準確度
    3、電容量范圍：
    內(nèi)施高壓： 3pF～60000pF/10kV 60pF～1μF/0.5kV
    外施高壓： 3pF～1.5μF/10kV 60pF～30μF/0.5kV
    分辨率： 更高0.001pF，4位有效數(shù)字
    4、tg范圍： 不限，分辨率0.001%，電容、電感、電阻三種試品自動識別。
    5、試驗電流范圍：10μA～1A
    6、內(nèi)施高壓： 
    設(shè)定電壓范圍：0.5～10kV
    輸出電流：200mA
    升降壓方式： 連續(xù)平滑調(diào)節(jié)
    試驗頻率：
    45、50、55、60、65Hz單頻     
    45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動雙變頻半導體材料研究和器件測試通常要測量樣本的電阻率和霍爾電壓。半導體材料的電阻率主要取決于體摻雜，在器件中，電阻率會影響電容、串聯(lián)電阻和閾值電壓。霍爾電壓測量用來推導半導體類型(n還是p)、自由載流子密度和遷移率。為確定半導體范德堡法電阻率和霍爾電壓，進行電氣測量時需要一個電流源和一個電壓表。為自動進行測量，一般會使用一個可編程開關(guān)，把電流源和電壓表切換到樣本的所有側(cè)。A-SCS參數(shù)儀擁有4個源測量單元(SMUs)和4個前置放大器(用于高電阻測量)，可以自動進行這些測量，而不需可編程開關(guān)。
    頻率準度： ±0.01Hz
    7、外施高壓：
    正接線時試驗電流1A，工頻或變頻40-70Hz
    反接線時試驗電流10kV/1A，工頻或變頻40-70Hz
    8、CVT自激法低壓輸出：輸出電壓3～50V，輸出電流3～30A遠見 青島華能HN6000 介損測試儀 變壓器空負載測試儀智能（Smartphone）和智能手表（SmartWatch）的“智能（Smart）”同時具備兩層含義：“智慧、聰明”和“小巧、輕薄”。曾經(jīng)的日本通過在范圍內(nèi)制造更小型的產(chǎn)品，創(chuàng)造并擁有了較高的質(zhì)量，得以技術(shù)的發(fā)展。日本曾通過電子計算機、手表、攜帶式收音機、音樂播放器（Player）、緊湊型數(shù)碼相機（CompactDigitalCamera）、集成電路錄音機（ICRecorder）等一系列的的電子產(chǎn)品拓展了世界市場。