拉曼散射是由光纖中非傳播的局域密度不均勻和成分不均勻所致，這種不均勻性是在拉纖階段，化硅由熔融態(tài)轉(zhuǎn)變?yōu)槟虘B(tài)的過(guò)程中形成的。脈沖在光纖中所走過(guò)的路程為：2L=vt。其中，t為入射光經(jīng)后向散射返回到光纖入射端所需時(shí)間;v為光在光纖中的傳播速度，v=c/n，c為真空中的光速，n為光纖的折射率;L為光纖某處到光纖入射端的距離。在t時(shí)刻測(cè)量距光纖入射端距離為L(zhǎng)處局域的后向拉曼散射光，OTDR為分布式測(cè)量提供可靠的理論依據(jù)。
HN7031A全自動(dòng)三相電容電感測(cè)試儀電容電感測(cè)試儀 30年經(jīng)驗(yàn) 手持式變壓器變比測(cè)試儀

自動(dòng)三相電容電感測(cè)試儀 可以在不拆線的狀態(tài)下，直接測(cè)量成組并聯(lián)電容器的單相電容或組合連接類型的三相電容器，也能夠測(cè)量電抗器的電感，接線簡(jiǎn)單，測(cè)試、記錄方便，大大提高了工作效率。

功能特點(diǎn)
    1、內(nèi)部自帶電馳，自動(dòng)數(shù)字合成產(chǎn)生三相大功率測(cè)試電源，不用外接電源即可使用；
    2、儀器可在不拆線情況下測(cè)量成組并聯(lián)電容器的單個(gè)單相電容及測(cè)量連接類型的三相電容；
    3、可三相同測(cè)或測(cè)量三只并聯(lián)電容器或電抗器；
    4、儀器可以測(cè)量電抗器的電感量；
    5、儀器可以測(cè)量工頻電流的幅值以及電流中2－32次的諧波含量；
    6、儀器可顯示出在測(cè)量電容器或電抗器的過(guò)程中測(cè)量的電壓、電流、功率、相位角、阻抗等數(shù)據(jù)，以便更好的問(wèn)題所在；

可見(jiàn)光是人眼能夠感受的電磁波，經(jīng)三棱鏡折射后，能見(jiàn)到紅、橙、黃、綠、青、藍(lán)、紫七色光紅外線是這些電磁波的一部分，它和可見(jiàn)光、紫外線、X射線、γ射線和無(wú)線電波一起，構(gòu)成了一個(gè)完整連續(xù)的電磁波譜。如上圖所示，波長(zhǎng)范圍是0.76μm到1000μm的電磁輻射，我們稱為紅外線輻射。任何溫度高于零度(-273.15°C)的物體都在不停地發(fā)射紅外輻射(熱輻射)。人眼看不見(jiàn)，且不同溫度對(duì)外輻射的波長(zhǎng)不一樣。對(duì)于而言,體內(nèi)溫度相對(duì)是恒定的(具體內(nèi)容:溫度:36.6°C~38°C;口腔溫度:35.5°C~37.5°C;腋下溫度:34.7*C~37.3°C;耳蝸溫度:35.8°C~38°C;額頭溫度:35.8°C~37.8°C)。
HN7033A自動(dòng)電容電流測(cè)試儀

直接從PT的二次側(cè)測(cè)量配電網(wǎng)的電容電流，與傳統(tǒng)的測(cè)試方法相比，該儀器無(wú)需和一次側(cè)打交道，因而不存在試驗(yàn)的性，無(wú)需做繁雜的安措施和等待冗長(zhǎng)的調(diào)度命令，只需將測(cè)量線接于PT的開(kāi)口三角端就可以測(cè)量出電容電流的數(shù)據(jù)。

自動(dòng)電容電流測(cè)試儀 技術(shù)參數(shù)
    1、測(cè)量范圍：對(duì)地總電容 ≤120μF（三相對(duì)地）
       電容電流 ≤500A（35kv系統(tǒng) ）
       電容電流 ≤200A（10kv系統(tǒng) ）
    2、測(cè)量精度：0.5μF～5μF   ±10%±50個(gè)字
                 5μF～90μF    ±5%
                 90μF～120μF  ±10%電容電感測(cè)試儀 30年經(jīng)驗(yàn) 手持式變壓器變比測(cè)試儀大氣衰減的影響被測(cè)電氣設(shè)備表面紅外輻射能量，經(jīng)大氣傳輸?shù)郊t外檢測(cè)儀器，這就會(huì)受到大氣組合中的水蒸汽、化碳、等氣體分子吸收衰減和空氣中懸浮微粒散射衰減的影響。設(shè)備輻射能量傳輸?shù)乃p隨著檢測(cè)儀器到被測(cè)設(shè)備間的距離，會(huì)降低被測(cè)設(shè)備輻射的透過(guò)率，所以其衰減是隨距離的增大而增加。降低被檢設(shè)備故障部位與正常部位的輻射對(duì)比度，也會(huì)因?yàn)榧t外儀器接收到的目標(biāo)能量減少，使得儀器顯示出來(lái)的溫度低于被測(cè)故障點(diǎn)的實(shí)際溫度值，從而造成漏檢或誤診斷，尤其對(duì)于檢測(cè)溫升較低的設(shè)備故障時(shí)。