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2測試系統(tǒng)的安裝調試存在困難測試系統(tǒng)中的激振器采用懸置安裝,在懸吊彈簧剛度的選擇,激振器頂桿末端阻抗頭的安裝,振動傳感器的安裝,以及信號發(fā)生器和功放的調節(jié)上也存在一定技巧。由于我司具有豐富的振動測試經驗和激振器安裝調試經驗,該項目所遇到的問題都得到了較好的解決。測試系統(tǒng)2.1軟件DASPV11工程版平臺軟件2.2采集硬件16通道24位INV3060V數據采集儀PCB三向加速度傳感器激振系統(tǒng)(激振器、功率放大器、信號發(fā)生器)阻抗頭試驗結果通過測試獲得了高精密阻尼導軌的傳遞函數,動剛度/動柔度,加阻尼器前后減振效果的對比等相關試驗結果,部分試驗結果如下所示。
HN7010A系列直流電阻測試儀三相變壓器變比組別測試儀 華能牌 變壓器油色譜儀可定制
產品概述
變壓器的直流電阻是變壓器制造中半成品、成品出廠試驗、安裝、交接試驗及電力部門預防性試驗的必測項目,能有效發(fā)現(xiàn)變壓器線圈的選材、焊接、連接部位松動、缺股、斷線等制造缺陷和運行后存在的隱患。
二、功能特點
l 對星型接法有中性點引出的繞組測試時,儀器可以采取三相同時測量的方式測試A0、B0、C0相的直流電阻,大大節(jié)省測試時間;
l 顯示、打印變壓器的高中低壓繞組的測試數據,并自動計算出三相不平衡率;
l 具有完善的反電勢保護功能;
在工程師的日常測試中,有時會發(fā)現(xiàn)用萬用表測試的結果與許多高精度的儀器測試的結果并不一致,工程師往往會陷入迷茫,到底哪個值才是正確的?原來,選擇不同的測量模式,會導致結果大相徑庭,本文將對常見的4種測量模式進行解析,大家莫要傻傻分不清。測試同樣一個信號,不同的計算方式與測量模式將會得出完全不同的結果,常用的4種測量模式包括:RMS(真有效值也稱有效值或均方根值)、MEAN(校準到有效值的整流平均值也稱校正平均值)、DC(簡單平均值也稱直流分量)、RMEAN(整流平均值也稱平均值)。
三、技術參數
輸出電流 三相測試:2*10A、2*5A、2*2A
單相測試:20A、10A、2A
測試范圍 2*10A:500μΩ~500mΩ
2*5A: 1mΩ~1Ω
2*2A: 2.5mΩ~2.5Ω
20A: 250μΩ~1Ω
10A: 500μΩ~2Ω
2A: 2.5mΩ~10Ω
分 辨 率 0.1μΩ
測量精度 ±(0.2%讀數+2字)
外形尺寸 420mm×250mm×340mm
儀器重量 15kg裝備中,測控技術的應用有:制導、智能型、自動化指揮系統(tǒng)(IRS系統(tǒng))、外層空間裝備(如偵察、通信、預警、導航衛(wèi)星等等)。測控技術的形成與發(fā)展科學技術發(fā)展史實人類認識自然、改造自然的歷史、也是人類文明史的重要組成部分??茖W技術的發(fā)展取決于測量技術的發(fā)展。近代自然科學是從真正意義上的測量開始的。許多杰出的科學家夢都是科學儀器的家和測量方法的創(chuàng)立者。測量技術的進步直接帶動著科學技術的進步。
面板介紹
1.IA、IB、IC、Io:電流輸出接線柱;
2.UA、UB、UC、Uo:電壓輸入接線柱;
3.電源開關:儀器的電源開關及;
4.接 地 柱:儀器**接地;
5.打 印 機:打印測試數據;
6.液 晶 屏:顯示測試數據,操作提示功能;
7.鍵 盤:『返回』對應的返回上一層菜單功能;
『確定』對應光標按鈕的執(zhí)行功能;
『存儲』對應測試項目的數據存儲;
『選擇』對應光標選擇菜單功能;
LED的芯片其實就是個半導體,有如以下的IV曲線。反向電壓如果加的過高,LED會因被擊穿而損壞,所以很多時候我們需要去測量反向電壓。若只是單純要測量芯片的特性,基本上使用電源和萬用表即可。主要可測試的項目包括正向電壓、擊穿電壓、漏電流…測試LED的整體IV曲線特性幾個參數正向電壓:Vf擊穿電壓:Vr漏電流:IL這些項目的測試其實并不算困難,但必須要選對合適的測量儀器。若是選擇了不適合的測量儀器,測試的值誤差則會非常大。
六、儀器接線
6.1將電源線把儀器與外部AC220V電源連接,將接地端子與大地連接。
6.2然后依次將接線端子的四個測試鉗(黃綠紅黑)分別接到變壓器高壓側的A、B、C、O。也可以將接線端子的四個測試鉗(黃綠紅黑)分別接到變壓器低壓側的a、b、c、o,如果只有三個套管,可以不接黑色測試鉗,但這種情況不可以選擇三相同時測量和單相電阻測量,只能選擇單線電阻測量且不用再移動測試鉗。
6.3當選擇單相電阻測試時必須接黑色的測試鉗,當選擇單線電阻測試時,需注意所選的測試方式與所夾的測試鉗要一一對應。
6.4單相變壓器使用時將接線端子黃色和黑色的測試鉗接到單相變壓器的高壓側或低壓側,選擇單相電阻測試方式測量即可。
6.5儀器配套的測試線已經將電流、電壓線設計到同一測試鉗口上,接線簡單方便多數頻譜儀用戶都知道,測量高出頻譜儀顯示平均噪聲電平20dB以內的信號都會受儀器本底噪聲的影響,而使得測量結果變差。頻譜儀測量的結果是RF輸入信號頻譜和儀器噪聲頻譜的疊加,是不是可以將頻譜儀本底噪聲測量出來,然后從頻譜儀每次測量結果中刪減掉本底噪聲呢?本底噪聲擴展技術是一種利用已知的儀器的本底噪聲提高測量精度的校正算法,就是一種將前端的本底噪聲減掉,只和顯示輸入信號的功率電平的測量方法,不僅可以提高測量精度,也可以擴展動態(tài)范圍。