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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:HN系列 蓄電池循環(huán)放電測試儀 量大價優(yōu) 蓄電池內(nèi)阻測試儀

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡單介紹:
它具有三種獨立的使用方式:電池放電方式,電池充電方式和電池活化方式??梢葬槍β浜箅姵夭煌膶嶋H情況,對落后電池進(jìn)行容量試驗,低壓恒流充電,或設(shè)置多個循環(huán)周期對容量的電池作循環(huán)多次充放電,以激化電池極板失效的活性物質(zhì)使電池活化,提升落后電池的容量HN系列 蓄電池循環(huán)放電測試儀 量大價優(yōu) 蓄電池內(nèi)阻測試儀
詳情介紹:


HN1016B蓄電池充放測試儀 HN系列 蓄電池循環(huán)放電測試儀 量大價優(yōu) 蓄電池內(nèi)阻測試儀

HN系列  蓄電池循環(huán)放電測試儀 量大價優(yōu) 蓄電池內(nèi)阻測試儀該產(chǎn)品集蓄電池恒流放電,單體監(jiān)測,智能充電于一體。一多用,減少企業(yè)成本,降低維護(hù)人員勞動強度,為電池和UPS電源維護(hù)提供科學(xué)的檢測手段。用于電信、、電力等部門

蓄電池組充放檢電一體機=蓄電池組恒流放電+蓄電池組智能充電+單體電池電壓監(jiān)測+蓄電池組活化.

我們在使用銅合金檢測儀器的過程中,所測結(jié)果誤差大或者根本做不出結(jié)果,在排除儀器本身問題的情況下,往往容易出現(xiàn)的問題就是化學(xué)試劑的問題,那么我們就來談?wù)劵瘜W(xué)試劑到底要注意哪些問題。試劑瓶上均應(yīng)貼上標(biāo)簽,標(biāo)明試劑的名稱、濃度、配制日期,并在標(biāo)簽外面涂上一層薄蠟。在工作中要注意保護(hù)試劑瓶的標(biāo)簽,使之完整無缺,若一旦丟失,應(yīng)及時補貼;分裝試劑時,固體試劑應(yīng)裝在易于拿取的廣口瓶中,液體試劑應(yīng)盛放在容易倒取的細(xì)口瓶或滴瓶中,見光易分解的試劑如銀等應(yīng)裝在棕色試劑瓶中,并保存于暗處;盛放堿液的試劑瓶要用橡皮塞;熟悉常用金屬元素儀化學(xué)試劑的性質(zhì),如市售酸堿的濃度、試劑的溶解性、有機溶劑的沸點、試劑的毒性及化學(xué)性質(zhì)等取用試劑前,應(yīng)看清標(biāo)簽。HN系列  蓄電池循環(huán)放電測試儀 量大價優(yōu) 蓄電池內(nèi)阻測試儀

主機接線說明

2.5.1接線、拆線原則

測試前接線時應(yīng)按照“先儀器,后電池”的順序進(jìn)行接線,即:先接儀器端的連線,后接電池端的連線。

測試完畢,用戶拆線時應(yīng)按“先電池、后儀器”的順序進(jìn)行拆線,即先拆電池端的連線,后拆儀器端的連接。

2.5.2 放電電纜的連接

放電電纜線將測試儀的“放電電流接口”與電池組并接。

注:“正”(紅色)接電池組正極,“負(fù)”(黑色)接電池組負(fù)極。 嚴(yán)禁接反!

2.5.3 整組電壓采集線的連接在這些應(yīng)用中,儀有直接的經(jīng)濟(jì)影響。當(dāng)產(chǎn)品的監(jiān)管權(quán)或“擁有權(quán)”轉(zhuǎn)移時,征費的合理性會受到懷疑,市政部門作為買入方,會質(zhì)疑為什么供應(yīng)商的流量計與其自身流量計的測量結(jié)果不同。由于大多數(shù)解決方案都十分昂貴并會中斷運行,很少得到采用,征費公司找不到簡便辦法證明其流量計是準(zhǔn)確有效的。于是,市政部門只能調(diào)整它們的測量結(jié)果并降低征收的費用。類似的情況,當(dāng)電磁流量計用來測量待處理的水質(zhì)時,的精度會使處理費用增加(即化學(xué)品與能源的浪費),并可能影響環(huán)境。HN系列  蓄電池循環(huán)放電測試儀 量大價優(yōu) 蓄電池內(nèi)阻測試儀

用整組電壓采集線將測試儀“整組電壓”與電池組正、負(fù)極并接。

注:整組電壓線的“正”(紅色夾子)接電池組正極,“負(fù)”(黑色夾子)接電池組負(fù)極。  嚴(yán)禁接反!

2.5.4 連接測試儀供電220V電源線。當(dāng)采用直流供電時不接。

2.5.5 請用戶仔細(xì)檢查接線是否正確,注意電池端子、電壓采集線端子、放電電流端子正、負(fù)極接線是否正確,嚴(yán)禁接反!

2.5.6 檢查無誤后,接通電源,測試儀開始工作半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造,晶圓測試,芯片封裝和封裝后測試組成,晶圓制造和芯片封裝討論較多,而測試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識經(jīng)常被邊緣化,下面集中介紹集成電路芯片測試的相關(guān)內(nèi)容,主要集中在WAT,CP和FT三個環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計、制造、封裝流程示意圖WAT(WaferAcceptanceTest)測試,也叫PCM(ProcessControlMonitoring),對Wafer劃片槽(ScribeLine)測試鍵(TestKey)的測試,通過電性參數(shù)來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定,CMOS的電容,電阻,Contact,metalLine等,一般在wafer完成制程前,是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據(jù),測試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上,ProbeCard另一端接在WAT測試機臺上,由WATRecipe自動控制測試位置和內(nèi)容,測完某條TestKey后,ProbeCard會自動移到下一條TestKey,直到整片Wafer測試完成。HN系列  蓄電池循環(huán)放電測試儀 量大價優(yōu) 蓄電池內(nèi)阻測試儀




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