安規(guī)測試儀檢定裝置有以下幾種 直流電阻測試儀校驗儀 耐電壓測試儀校驗儀 HN系列 接地導通測試儀檢定裝置 生產廠家

HN8061A

依據JJG1005—2005《電子式絕緣電阻表檢定規(guī)程》、JJG622—1997《絕緣電阻表（兆歐表）檢定規(guī)程》,用于檢定電子式絕緣電阻表的示值誤差、跌落電壓、短路電流。
電壓分兩檔：0～500V  0～5000V  -10000V
 短路電流：0～2mA    0～20mA
電阻0-200G-1T-10TMOS管種類和結構MOSFET管是FET的一種(另一種是JFET)，可以被制造成增強型或耗盡型，P溝道或N溝道共4種類型，但實際應用的只有增強型的N溝道MOS管和增強型的P溝道MOS管，所以通常提到NMOS，或者PMOS指的就是這兩種。右圖是這兩種MOS管的符號。至于為什么不使用耗盡型的MOS管，不建議刨根問底。對于這兩種增強型MOS管，比較常用的是NMOS。原因是導通電阻小且容易制造。所以開關電源和馬達驅動的應用中，一般都用NMOS。

HN8062A接地電阻表校驗裝置

用于檢定JJG336-2004《接地電阻表檢定規(guī)程》所適用的我目前生產的型號的模擬式、數(shù)字式接地電阻表以及進口的同類儀表，也可做普通電阻箱使用，具有調節(jié)范圍寬，使用方便，造型美觀等優(yōu)點。當號信號被脈沖調制后，信號的頻率譜密度會發(fā)生變化，為經脈沖調制后的頻率譜。頻率譜特性按脈沖重復頻率PRF(pulseRepetitionFrequency)為等間隔的離散頻譜，頻譜形狀為sinx/x幸格函數(shù)。脈寬的倒數(shù)為過零點的位置。圖連續(xù)波經脈沖調制后的功率譜1.1脈寬和脈沖重復頻率對相位噪聲的影響下圖水平位置表示脈沖重復頻率PRF保持不變，而改變脈沖寬度τ脈沖頻率譜的變化情況，垂直位置表示脈沖寬度τ保持不變，而改變脈沖重復頻率PRF脈沖頻率譜的變化情況。

HN8063A耐電壓測試儀校驗裝置

1、測量準度： 

電壓：1000v  2500v  5000v  10000v  30000v

準度：1級  0.5級  0.2級WSSX-483雙金屬溫度計是一種常用的現(xiàn)場檢測儀表，可以直接測量生產過程中-8℃-+5℃范圍內液體、蒸汽和氣體介質溫度，具有測量、性能穩(wěn)定、可靠性高等優(yōu)點。本文主要來介紹一下WSSX-483雙金屬溫度計產品知識，希望可以幫助到大家。WSSX-483雙金屬溫度計簡介WSSX-483雙金屬溫度計帶有電接觸裝置一即機械電接點。當被測介質溫度變化時，自由端上的細軸及轉向傳動機構帶動指針及動觸點轉動，在標度盤上指示出溫度的變化值，當其與定觸點(上、下限定觸點)接觸或斷開時的瞬時，使電路系統(tǒng)中的繼電器及接觸器動作，以達到自動控制和報警目的，應符合JB/T8831998標。

HN8065A型泄漏電流測試儀檢定裝置

一、性能特點

1、源、表測量范圍：

       電壓源（AC，DC）：電壓：250V、50V、5V

       電流源（AC，DC）：20mA、2mA

       頻率計：10-100Hz熱像儀每秒記錄一次溫度。數(shù)據圖形是圖像中所有像素的平均值。數(shù)據直方圖雖然顯示得更清楚，但大部分的數(shù)據點都位于36.8?C至37?C之間。記錄的寬溫度范圍是從36.6?C至37.2?C。我們來看下這個數(shù)據，所有像素平均值的預期精度可能達到0.5?C。有些人可能甚至會聲稱FLIRA325sc等使用相同探測器的其他熱像儀的精度為±1?C。不過，也有些人可能會辯稱，上面圖形顯示的是所有像素的平均值，可能并不能代表個別的像素。

HN8066A型接地導通電阻測試儀檢定裝置

2、一次額定電流：25A、2.5A。(大30A、3A)

3、電阻四盤連續(xù)帶電可調。

4、直接指示一次電流值，可做交直流大電流標準表用。從事件表我們看到，幀CAN-FD的位置在-12.479ms，也就是在內存數(shù)據的開端，已經達到了全內存。當然這種功能強大的全內存也是受一定條件約束的，我們在下面的內容中會提到。系統(tǒng)會判斷情況新特性是基于保持原來速度，盡量拓寬范圍的思想設計出來的。這意味著，對于大數(shù)據量的，是基于一定比例的樣本點抽取后進行的(用于的數(shù)據量越少，越快)。系統(tǒng)會根據抽點的情況，與協(xié)議的特點(波特率等)比較，判斷是否存在風險(錯誤或不能的風險)。

HN8068A型回路電阻測試儀，直流電阻測試儀檢定裝置

2 一次額定電流：

1A、10A、100A、200A、300A、600A

3 電阻盤0、1、2、3……20帶電可調。

4 直接指示一次電流值,可做直流大電流標準表用。

直流電阻測試儀校驗儀 耐電壓測試儀校驗儀 HN系列 接地導通測試儀檢定裝置 生產廠家時間交錯技術可使用多個相同的ADC（文中雖然僅討論了ADC，但所有原理同樣適用于DAC的時間交錯特性），并以比每一個單數(shù)據轉換器工作采樣速率更高的速率來處理常規(guī)采樣數(shù)據序列。簡單說來，時間交錯（IL）由時間多路復用M個相同的ADC并聯(lián)陣列組成。如圖1所示。這樣可以得到更高的凈采樣速率fs（采樣周期Ts=1/fs），哪怕陣列中的每一個ADC實際上以較低的速率進行采樣（和轉換），即fs/M。舉例而言，通過交錯四個10位/100MSPSADC，理論上可以實現(xiàn)10位/400MSPSADC。