HN7062A變壓器損耗參數(shù)測(cè)試儀 (容量，空負(fù)載測(cè)試儀 ）變壓器容量及損耗測(cè)試儀 變壓器空載負(fù)載測(cè)試儀 華能牌 長期供應(yīng)

設(shè)備相當(dāng)于四種設(shè)備：有源變壓器容量測(cè)試儀 +變壓器損耗參數(shù)測(cè)試儀 +諧波儀 +示波器。它可對(duì)變壓器的容量、空載電流、空載損耗、短路損耗、阻抗電壓等一系列工頻參數(shù)進(jìn)行準(zhǔn)確的測(cè)量，并能測(cè)量空負(fù)載試驗(yàn)時(shí)的電壓、電流失真度和諧波含量，還可以進(jìn)行矢量。它以大屏幕彩色液晶作為顯示窗口，菜單操作并配有漢字提示，集多參量于一屏的顯示界面，人機(jī)對(duì)話界面友好，使用簡便、快捷，是各級(jí)電力用戶的采購產(chǎn)品。PLL中用到的濾波器限制了支持的基波頻率上限，因此在基波頻率較高時(shí)，同步采樣法一般無法支持；同樣是濾波器原因，無法很好濾除低偶次諧波，所以低偶次諧波幅值較大時(shí)，PLL就無法同步基波采樣，諧波結(jié)果也就完全錯(cuò)誤。頻率重心法不需要額外濾波器，采樣器件可工作在支持的采樣頻率，使有效譜線拉開的同時(shí)提高了支持的諧波頻率范圍，而為了消除泄漏的影響，需要使用更多的數(shù)據(jù)進(jìn)行傅里葉變換。所以頻率重心法引入了數(shù)倍于同步采樣法的計(jì)算量。

主菜單共有五個(gè)可選項(xiàng)，分別為：容量測(cè)試、負(fù)載測(cè)試、空載測(cè)試、歷史數(shù)據(jù)。需要選擇就用手觸摸相應(yīng)的圖標(biāo)，下端顯示當(dāng)前的日期時(shí)間、內(nèi)部電池的電壓幅值和剩余電量百分比，從而可以及時(shí)掌握儀器的電池電量情況，了解儀器是否要充電避免沒有及時(shí)充電而在現(xiàn)場無法正常工作的情況?！奔t外熱像儀可以通過蝙蝠的熱特征來實(shí)現(xiàn)蝙蝠的監(jiān)測(cè)。蝙蝠是夜行動(dòng)物，通常在黃昏時(shí)離開白天的棲息地，這是在行動(dòng)中捕捉蝙蝠的理想時(shí)刻。由于紅外熱像儀探測(cè)的是熱量，而不是光線，因此研究人員可以在夜間研究蝙蝠，而夜間正是蝙蝠活躍的時(shí)段。由于其視覺特性，熱成像技術(shù)還可與智能軟件相結(jié)合，智能軟件能夠計(jì)數(shù)和識(shí)別蝙蝠并執(zhí)行智能運(yùn)動(dòng)跟蹤。PPUR研究小組成員在洞穴前的瀉湖里，黃昏前時(shí)刻，這時(shí)是紅外熱像儀捕捉離開洞穴的蝙蝠的理想時(shí)刻。

各功能選項(xiàng)的用途分別為：

容量測(cè)試：用來測(cè)量變壓器的容量值。

負(fù)載測(cè)試：使用外接的三相電源進(jìn)行變壓器的負(fù)載測(cè)試

空載測(cè)試：使用外接的三相電源進(jìn)行變壓器的空載試驗(yàn)。

歷史數(shù)據(jù)：查看已保存的測(cè)試結(jié)果記錄。

系統(tǒng)設(shè)置：設(shè)置儀器的參數(shù)，及廠家出廠調(diào)

下面介紹每個(gè)界面的操作方法和儀器接線方法

1、 容量測(cè)試界面滾動(dòng)模式滾動(dòng)模式的特點(diǎn)如下：連續(xù)采樣，無采樣間隔，邊采樣邊顯示，無觸發(fā)設(shè)置，波形始終從右往左滾動(dòng)顯示。所示。優(yōu)點(diǎn)：采樣無死區(qū)，且實(shí)時(shí)顯示，不會(huì)丟失數(shù)據(jù)。但應(yīng)注意到，采樣率過低也會(huì)導(dǎo)致采到的數(shù)據(jù)沒有意義，所以選擇深存儲(chǔ)示波器是至關(guān)重要的，深存儲(chǔ)波形不失真，重建。缺點(diǎn)：波形無法穩(wěn)定顯示，沒有觸發(fā)的概念，不能自動(dòng)識(shí)別低概率信號(hào)。小提示：為什么滾動(dòng)模式下，波形是從右往左滾動(dòng)顯示的呢？因?yàn)閅T模式定義的時(shí)間軸是左負(fù)右正（左側(cè)為舊數(shù)據(jù)右側(cè)為新數(shù)據(jù)），那么新采集的數(shù)據(jù)必然是從右側(cè)增加，舊的數(shù)據(jù)則從左側(cè)移出屏外，所以就形成了從右往左滾動(dòng)顯示。

1）實(shí)驗(yàn)接線方法

容量測(cè)試儀配有三把測(cè)試鉗（黃、綠、紅），每只鉗子分別引出兩根測(cè)試線，一根粗線、一根細(xì)線，粗線接到儀器面板上容量測(cè)試端子對(duì)應(yīng)顏色的電流端子（Ia、Ib、Ic），細(xì)線接到儀器面板上容量測(cè)試端子對(duì)應(yīng)顏色的電壓端子（Ua、Ub、Uc），將鉗頭按顏色分別夾在被試變壓器的高壓側(cè)各相接線柱上，變壓器的低壓側(cè)要用短接線良好短接。

2）界面操作

容量測(cè)試設(shè)置界面如圖，項(xiàng)目有：一次電壓，二次電壓，變壓器類型，阻抗電壓，當(dāng)前溫度，矯正溫度，連接組別，標(biāo)稱容量，變壓器編號(hào)，測(cè)試人員。點(diǎn)擊確定開始測(cè)試。點(diǎn)擊返回，返回主界面

各項(xiàng)參數(shù)的含義和作用如下：它是電動(dòng)汽車高壓電路系統(tǒng)重要保護(hù)模塊，也是整車控制系統(tǒng)的重要組成部分。繼電器的原理是根據(jù)控制信號(hào)或線圈電流變化，控制觸點(diǎn)動(dòng)作完成電路的通斷，這是一種經(jīng)典的控制器件。隨著新能源汽車的發(fā)展應(yīng)用，許多繼電器廠家推出了相應(yīng)的高壓直流繼電器產(chǎn)品，同時(shí)也需要搭建符合車載環(huán)境的測(cè)試設(shè)備，完成汽車行業(yè)的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。應(yīng)用某繼電器廠,其高壓直流繼電器在多德系車企BDU中使用,采購ITECH直流電源作為產(chǎn)品測(cè)試之用。IT6C系列直流電源電壓可達(dá)225V，電流可達(dá)24A，功率可擴(kuò)展至1.152MW，特別適合新能源領(lǐng)域直流測(cè)試需求。

一次電壓：變壓器高壓測(cè)電壓值，指被試變壓器施壓側(cè)的額定電壓值。用于區(qū)別不同電壓等級(jí)的變壓器；相同容量、不同電壓等級(jí)變壓器的短路試驗(yàn)參數(shù)值是不同的；要做到準(zhǔn)確判斷，就必須輸入被試變壓器的高壓側(cè)額定電壓。點(diǎn)擊黃色輸入框，儀器彈出數(shù)字鍵盤，輸入一次電壓值，默認(rèn)為10KV。所謂的脈沖充電延長電池壽命或提高電池容量這一類神奇的充電器并不存在于鋰離子電池的世界中，鋰離子是非常“干凈”的系統(tǒng)。將鋰離子電池充電至高電壓后，電池會(huì)變得不穩(wěn)定。如果給4.2V的電池充電至4.3V，會(huì)使得電池正極積淀金屬鋰，負(fù)極材料被氧化，失去穩(wěn)定性的電池會(huì)產(chǎn)生CO2。電池內(nèi)壓力升高，如果保持充電狀態(tài)，內(nèi)壓達(dá)到1000-1380kPa時(shí)，保證電池**的電流切斷器（CID）即會(huì)切斷電流。當(dāng)壓力持續(xù)升高到3450kPa時(shí)，隔膜爆開脫落，電池可能終殼體泄漏，伴隨燃燒。

二次電壓：變壓器低壓測(cè)電壓值，點(diǎn)擊黃色輸入框，儀器彈出數(shù)字鍵盤，輸入二次電壓值，默認(rèn)為0.4KV。變壓器類型：指變壓器的不同類型。（不是變壓器形式），主要有8中類型，1油式無勵(lì)磁調(diào)壓配電，2油式無勵(lì)磁調(diào)壓電力，3油式有載調(diào)壓配電，4油式有載調(diào)壓電力，5干式無勵(lì)磁調(diào)壓配電，6干式無勵(lì)磁調(diào)壓電力，7干式有載調(diào)壓配電，8干式有載調(diào)壓電力。點(diǎn)擊黃色輸入框，出現(xiàn)下拉菜單，選擇點(diǎn)擊相應(yīng)的變壓器類型。默認(rèn)為類型1(即1油式無勵(lì)磁調(diào)壓配電)。

半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造，晶圓測(cè)試，芯片封裝和封裝后測(cè)試組成，晶圓制造和芯片封裝討論較多，而測(cè)試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識(shí)經(jīng)常被邊緣化，下面集中介紹集成電路芯片測(cè)試的相關(guān)內(nèi)容，主要集中在WAT，CP和FT三個(gè)環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計(jì)、制造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測(cè)試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對(duì)Wafer劃片槽（ScribeLine）測(cè)試鍵（TestKey）的測(cè)試，通過電性參數(shù)來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測(cè)廠的依據(jù)，測(cè)試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測(cè)試機(jī)臺(tái)上，由WATRecipe自動(dòng)控制測(cè)試位置和內(nèi)容，測(cè)完某條TestKey后，ProbeCard會(huì)自動(dòng)移到下一條TestKey，直到整片Wafer測(cè)試完成。