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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:變壓器容量及損耗測試儀 變壓器損耗參數(shù)測試儀 華能牌 可定制

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡單介紹:
沖擊測試系統(tǒng)系應(yīng)用于諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的沖擊電壓試驗。此種測試系依據(jù)相關(guān)的國際標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范執(zhí)行全波(full)或截斷(chopped) 的閃電突波(L.I)變壓器容量及損耗測試儀 變壓器損耗參數(shù)測試儀 華能牌 可定制
詳情介紹:

HN7062A變壓器損耗參數(shù)測試儀 (容量,空負載測試儀 )變壓器容量及損耗測試儀 變壓器損耗參數(shù)測試儀 華能牌 可定制

變壓器容量及損耗測試儀 變壓器損耗參數(shù)測試儀 華能牌 可定制設(shè)備相當(dāng)于四種設(shè)備:有源變壓器容量測試儀 +變壓器損耗參數(shù)測試儀 +諧波+示波器。它可對變壓器的容量、空載電流、空載損耗、短路損耗、阻抗電壓等一系列工頻參數(shù)進行準(zhǔn)確的測量,并能測量空負載試驗時的電壓、電流失真度和諧波含量,還可以進行矢量。它以大屏幕彩色液晶作為顯示窗口,菜單操作并配有漢字提示,集多參量于一屏的顯示界面,人機對話界面友好,使用簡便、快捷,是各級電力用戶的采購產(chǎn)品。一個是測量室,一個是參比室。兩室通過切光板以一定周期同時或交替開閉光路。在測量室中導(dǎo)入被測氣體后,具有被測氣體特有波長的光被吸收,從而使透過測量室這一光路而進入紅外線接收氣室的光通量減少。氣體濃度越高,進入到紅外線接收氣室的光通量就越少;而透過參比室的光通量是一定的,進入到紅外線接收氣室的光通量也一定。被測氣體濃度越高,透過測量室和參比室的光通量差值就越大。這個光通量差值是以一定周期振動的振幅投射到紅外線接收氣室的。變壓器容量及損耗測試儀 變壓器損耗參數(shù)測試儀 華能牌 可定制

主菜單共有五個可選項,分別為:容量測試、負載測試、空載測試、歷史數(shù)據(jù)。需要選擇就用手觸摸相應(yīng)的圖標(biāo),下端顯示當(dāng)前的日期時間、內(nèi)部電池的電壓幅值和剩余電量百分比,從而可以及時掌握儀器的電池電量情況,了解儀器是否要充電避免沒有及時充電而在現(xiàn)場無法正常工作的情況。濾波器是通用的無源、線性、兩端口器件,通常采用掃頻傳輸/反射測試技術(shù)來完整的表征他的特性。雖然濾波器是一種簡單的電氣元件,但是它的特性在元件測試系統(tǒng)中的地位是很重要的。此案例是測試一個低通濾波器,要求它對于帶寬內(nèi)的信號具有的損耗和失真,而對寬帶之外的信號具有的。為了地測試這些特性,要求測量系統(tǒng)的頻率和功率電平在很寬的范圍內(nèi)都要非常。用GA4063可以對測試濾波器做簡單的定性,測試方法和實測效果如下圖所示。變壓器容量及損耗測試儀 變壓器損耗參數(shù)測試儀 華能牌 可定制

各功能選項的用途分別為:

容量測試:用來測量變壓器的容量值。

負載測試:使用外接的三相電源進行變壓器的負載測試

空載測試:使用外接的三相電源進行變壓器的空載試驗。

歷史數(shù)據(jù):查看已保存的測試結(jié)果記錄。

系統(tǒng)設(shè)置:設(shè)置儀器的參數(shù),及廠家出廠調(diào)

下面介紹每個界面的操作方法和儀器接線方法

1、 容量測試界面近日,“-希臘激光技術(shù)聯(lián)合實驗室”在故宮啟動并舉行揭牌儀式。活動當(dāng)日,故宮對外展示了五個儀器——大樣品室環(huán)境掃描電子顯微鏡、粉末X射線衍射儀、波長色散X射線熒光光譜儀、能量色散X射線熒光光譜儀和顯微共聚焦激光拉曼光譜儀。故宮博物院作為明清兩朝皇宮,無數(shù)的奇珍異寶匯聚其中,很多館藏都歷經(jīng)了數(shù)百年乃至上千年的滄桑,對于的保養(yǎng)修復(fù)似乎是一個永遠說不盡的話題。近日,“-希臘激光技術(shù)聯(lián)合實驗室”在故宮啟動并舉行揭牌儀式。變壓器容量及損耗測試儀 變壓器損耗參數(shù)測試儀 華能牌 可定制

1實驗接線方法

容量測試儀配有三把測試鉗(黃、綠、紅),每只鉗子分別引出兩根測試線,一根粗線、一根細線,粗線接到儀器面板上容量測試端子對應(yīng)顏色的電流端子(IaIb、Ic),細線接到儀器面板上容量測試端子對應(yīng)顏色的電壓端子(Ua、Ub、Uc),將鉗頭按顏色分別夾在被試變壓器的高壓側(cè)各相接線柱上,變壓器的低壓側(cè)要用短接線良好短接。

2)界面操作

容量測試設(shè)置界面如圖,項目有:一次電壓,二次電壓,變壓器類型,阻抗電壓,當(dāng)前溫度,矯正溫度,連接組別,標(biāo)稱容量,變壓器編號,測試人員。點擊確定開始測試。點擊返回,返回主界面

各項參數(shù)的含義和作用如下:熱成像通過檢測人表面的熱輻射進行測溫,基于測溫大數(shù)據(jù),通過測溫算法映射為內(nèi)部溫度。紅外測溫如何筑起防疫的道防線?毒2019-nCoV的癥狀為發(fā)熱、干咳、呼吸急促及呼吸困難。溫度升高或發(fā)熱通常是許多嚴(yán)重傳染的可靠預(yù)示。紅外熱成像能夠幫助檢測表示可能存在發(fā)熱癥狀的體溫升高,還能用作輔助診斷工具,幫助檢測可能發(fā)熱的人或限制毒性的傳播,如禽流感和豬流感,或感染,如非典型肺炎。變壓器容量及損耗測試儀 變壓器損耗參數(shù)測試儀 華能牌 可定制

一次電壓:變壓器高壓測電壓值,指被試變壓器施壓側(cè)的額定電壓值。用于區(qū)別不同電壓等級的變壓器;相同容量、不同電壓等級變壓器的短路試驗參數(shù)值是不同的;要做到準(zhǔn)確判斷,就必須輸入被試變壓器的高壓側(cè)額定電壓。點擊黃色輸入框,儀器彈出數(shù)字鍵盤,輸入一次電壓值,默認為10KV。半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造,晶圓測試,芯片封裝和封裝后測試組成,晶圓制造和芯片封裝討論較多,而測試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識經(jīng)常被邊緣化,下面集中介紹集成電路芯片測試的相關(guān)內(nèi)容,主要集中在WAT,CP和FT三個環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計、制造、封裝流程示意圖WAT(WaferAcceptanceTest)測試,也叫PCM(ProcessControlMonitoring),對Wafer劃片槽(ScribeLine)測試鍵(TestKey)的測試,通過電性參數(shù)來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定,CMOS的電容,電阻,Contact,metalLine等,一般在wafer完成制程前,是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據(jù),測試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上,ProbeCard另一端接在WAT測試機臺上,由WATRecipe自動控制測試位置和內(nèi)容,測完某條TestKey后,ProbeCard會自動移到下一條TestKey,直到整片Wafer測試完成。

二次電壓:變壓器低壓測電壓值,點擊黃色輸入框,儀器彈出數(shù)字鍵盤,輸入二次電壓值,默認為0.4KV。變壓器類型:指變壓器的不同類型。(不是變壓器形式),主要有8中類型,1油式無勵磁調(diào)壓配電,2油式無勵磁調(diào)壓電力,3油式有載調(diào)壓配電,4油式有載調(diào)壓電力,5干式無勵磁調(diào)壓配電,6干式無勵磁調(diào)壓電力,7干式有載調(diào)壓配電,8干式有載調(diào)壓電力。點擊黃色輸入框,出現(xiàn)下拉菜單,選擇點擊相應(yīng)的變壓器類型。默認為類型1(1油式無勵磁調(diào)壓配電)。

4151調(diào)制域儀具有的時間間隔測量功能及應(yīng)用演示如下:正時間間隔測量。4151調(diào)制域儀提供的正時間間隔測量功能,既可以實現(xiàn)單通道的連續(xù)周期測試,也可以實現(xiàn)雙通道之間的相對時間間隔測試,雙通道時間間隔測量需設(shè)置相對關(guān)系,AB或BA的正時間間隔測量。4151調(diào)制域儀正時間間隔的測量范圍為4ns~8s,時間測量分辨率為5ps。正時間間隔測量演示上圖是用Tek公司的任意波形發(fā)生模擬了雷達發(fā)射與接收脈沖信號的正時間間隔測試結(jié)果,B通道輸入脈沖信號的周期為1us,相對延遲時間為ns。變壓器容量及損耗測試儀 變壓器損耗參數(shù)測試儀 華能牌 可定制

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