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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:使用方法 沖擊電流發(fā)生器 電纜耐壓試驗裝置 多倍頻發(fā)生器

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡單介紹:
沖擊測試系統(tǒng)系應(yīng)用于諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的沖擊電壓試驗。此種測試系依據(jù)相關(guān)的國際標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范執(zhí)行全波(full)或截斷(chopped) 的閃電突波(L.I)使用方法 沖擊電流發(fā)生器 電纜耐壓試驗裝置 多倍頻發(fā)生器
詳情介紹:

HNCJ系列雷電沖擊電壓發(fā)生裝置
使用方法 沖擊電流發(fā)生器 電纜耐壓試驗裝置 多倍頻發(fā)生器使用方法 沖擊電流發(fā)生器 電纜耐壓試驗裝置 多倍頻發(fā)生器產(chǎn)品簡介:

聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059沖擊電壓發(fā)生器主要用于電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電沖擊電壓全波、雷電沖擊電壓截波和操作沖擊電壓波的沖擊電壓試驗,檢驗絕緣性能。沖擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等沖擊電壓的電源裝置。主要用于絕緣沖擊耐壓及介質(zhì)沖擊擊穿、放電等試驗中。

使用方法 沖擊電流發(fā)生器 電纜耐壓試驗裝置 多倍頻發(fā)生器但為了滿足低電壓作業(yè)的市場要求,有愈來愈電子產(chǎn)品廠商紛紛將產(chǎn)品的工作電壓調(diào)低,而長時間運(yùn)作的供電系統(tǒng),也必須順應(yīng)這個潮流。許多這方面的供電系統(tǒng),已經(jīng)采用3.3V的低電壓供應(yīng),相信在不久的將來,這類低壓供電系統(tǒng)也會越趨普及,甚至還有可能將供電電壓降至2.5V或以下。不過,由于整個系統(tǒng)所需的供電量持續(xù)上升,使得負(fù)載電流很容易就會產(chǎn)生不跌反升的現(xiàn)象。加上低壓降穩(wěn)壓器的效率極低,所產(chǎn)生的負(fù)載電流越高,功率消耗也就越大,使得低壓降穩(wěn)壓器在市場中越來越不受到歡迎。


沖擊測試系統(tǒng)系應(yīng)用于諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的沖擊電壓試驗。此種測試系依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范執(zhí)行全波(full)或截斷(chopped 的閃電突波L.I


伏安法測量地阻有明顯的不足之處,試驗時,接地棒距離地極為20~50m,而輔助接地距離接地點40~100m。另外,受外界干擾影響,在強(qiáng)電壓區(qū)域內(nèi)有時無法測量。測量儀檢測法。單鉗口接地電阻測試儀是當(dāng)前較為熱門的一種地阻測試儀。由于儀器體積小巧,操作又十分簡便,不失為檢測接地裝置好壞的儀器。該儀器適用于輸出電線桿塔、微波塔、避雷針等接地裝置的接地電阻測量。單鉗口接地電阻測試儀在測試時雖然使用一定頻率的信號以排除干擾,但在被測線纜上有很大電流存在的情況下,測量也會受到干擾,導(dǎo)致結(jié)果不準(zhǔn)確,且無法測量土壤電阻率。使用方法 沖擊電流發(fā)生器 電纜耐壓試驗裝置 多倍頻發(fā)生器
HN
CJ-V 雷電沖擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控制沖擊電壓發(fā)生器的操作,手動或自動完成充放電過程,真正實現(xiàn)智慧化操作。

充電控制功能

系統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗要求,調(diào)節(jié)充電電壓、充電時間、延時時間,能夠手動或者自動控制電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動控制方式充電時,根據(jù)設(shè)定值,自動充電并穩(wěn)定在充電電壓值上,延時3秒報警觸發(fā)。充電電壓的重復(fù)性和穩(wěn)定度很好。

動作控制

本體球距大小能夠自動跟蹤設(shè)定充電電壓值,也可手動控制調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動跟蹤設(shè)定充電電壓值,也可手動控制調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控制本體自動接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動/自動控制。

觸發(fā)控制

系統(tǒng)能夠手動、自動或報警觸發(fā)沖擊電壓發(fā)生器點火。觸發(fā)點火信號可以立延時


根據(jù)上圖顯示,固晶層缺陷會造成的熱阻增大,影響散熱性能,具體的影響程度與缺陷的大小有關(guān)。測量結(jié)殼熱阻:這兩次測試的分別:次測量,器件直接接觸到基板熱沉上;次測量,器件和基板熱沉中間夾著導(dǎo)熱雙面膠。由于兩次散熱路徑的改變僅僅發(fā)生在器件封裝殼之外,因此結(jié)構(gòu)函數(shù)上兩次測量的分界處就代表了器件的殼。如下圖所示的曲線變化,可得出器件的熱阻。結(jié)構(gòu)無損檢測:同批次產(chǎn)品,取固晶層完好、邊緣缺陷以及中間缺陷的樣品測試。使用方法 沖擊電流發(fā)生器 電纜耐壓試驗裝置 多倍頻發(fā)生器

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