HNCJ系列雷電沖擊電壓發(fā)生裝置
使用方法 沖擊電壓試驗(yàn)裝置 串聯(lián)諧振耐壓試驗(yàn)裝置 變頻調(diào)感發(fā)電機(jī)交流耐壓試驗(yàn)裝置產(chǎn)品簡介：

聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059沖擊電壓發(fā)生器主要用于電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電沖擊電壓全波、雷電沖擊電壓截波和操作沖擊電壓波的沖擊電壓試驗(yàn)，檢驗(yàn)絕緣性能。沖擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等沖擊電壓的電源裝置。主要用于絕緣沖擊耐壓及介質(zhì)沖擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

本應(yīng)用測試針對非標(biāo)稱50Ω的線纜，包括同軸、雙絞線、差分高速數(shù)據(jù)線的測試，包括阻抗參數(shù)、S參數(shù)（插損、駐波、Smith圖等等），也可以繪制眼圖。根據(jù)電纜的性能，如頻率范圍、長度、是否差分，設(shè)置時(shí)域門控，可以按照線纜連接的位置，門控選通，獲得實(shí)際物理線纜的各項(xiàng)參數(shù)結(jié)果。門控選通測試結(jié)果對應(yīng)被測線纜，不含接頭和夾具以及其它測試線纜。必要性和難點(diǎn)由于被測線纜不是50Ω標(biāo)準(zhǔn)同軸線纜，可能是高速數(shù)據(jù)線、差分線等。

沖擊測試系統(tǒng)系應(yīng)用于諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的沖擊電壓試驗(yàn)。此種測試系依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范執(zhí)行全波（full）或截?cái)啵╟hopped） 的閃電突波（L.I）

光電探測器是將光脈沖轉(zhuǎn)換成電信號的元器件，在LiDAR系統(tǒng)中充當(dāng)眼睛的角色，是關(guān)鍵的傳感器。目前主要的光電探測器有雪崩光電二極管（AvalanchePhotonDiode，簡光電探測器是將光脈沖轉(zhuǎn)換成電信號的元器件，在LiDAR系統(tǒng)中充當(dāng)“眼睛”的角色，是關(guān)鍵的傳感器。目前主要的光電探測器有雪崩光電二極管（AvalanchePhotonDiode，簡稱APD）/單光子雪崩二極管（SinglePhotonAvalancheDiode，簡稱SPAD）、硅光電倍增管（MPPC）和PIN光電二極管。
HNCJ-V 雷電沖擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控制沖擊電壓發(fā)生器的操作，手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過程，真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。

充電控制功能

系統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗(yàn)要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間，能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控制電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動(dòng)控制方式充電時(shí)，根據(jù)設(shè)定值，自動(dòng)充電并穩(wěn)定在充電電壓值上，延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重復(fù)性和穩(wěn)定度很好。

動(dòng)作控制

本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控制調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控制調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控制本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動(dòng)/自動(dòng)控制。

2 觸發(fā)控制

系統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)沖擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號可以立延時(shí)

對有源天線陣列進(jìn)行校準(zhǔn)需要很長的生產(chǎn)測試時(shí)間。大型陣列可能包含成百上千個(gè)陣元，有必要通過表征這些陣元間的相位和增益關(guān)系，以確保精密的波束賦形。而且，進(jìn)行陣元調(diào)整所需的測試時(shí)間會(huì)隨著陣元數(shù)量的增加而大幅增長。使用多個(gè)相參測量通道能夠有效地縮短測試時(shí)間?，F(xiàn)在通常使用一臺多端口網(wǎng)絡(luò)儀在天線上執(zhí)行相對增益和相位測量，一般是通過開關(guān)矩陣對所有的天線端口或通道執(zhí)行這種測量。這會(huì)產(chǎn)生很長的測試時(shí)間，尤其是對包含成百上千陣元的陣列。