HNCJ系列雷電沖擊電壓發(fā)生裝置
現(xiàn)貨供應(yīng) 沖擊電流發(fā)生器 變頻諧振串聯(lián)諧振 交直流耐壓測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059沖擊電壓發(fā)生器主要用于電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電沖擊電壓全波、雷電沖擊電壓截波和操作沖擊電壓波的沖擊電壓試驗(yàn)，檢驗(yàn)絕緣性能。沖擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過(guò)電壓等沖擊電壓的電源裝置。主要用于絕緣沖擊耐壓及介質(zhì)沖擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

今天為大家介紹一項(xiàng)授權(quán)——一種應(yīng)用在電能表中RTC模塊的補(bǔ)償校準(zhǔn)方法及裝置。該由電網(wǎng)公司申請(qǐng)，并于2018年8月31日獲得授權(quán)公告。本涉及電力儀器儀表技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種應(yīng)用在電能表中RTC（Real-TimeClock，實(shí)時(shí)時(shí)鐘）模塊的補(bǔ)償校準(zhǔn)方法及裝置。對(duì)于大多數(shù)對(duì)時(shí)間度要求較高的系統(tǒng)來(lái)說(shuō)，RTC模塊式的實(shí)時(shí)時(shí)鐘生成模塊，它可以為芯片提供地實(shí)時(shí)時(shí)鐘。RTC模塊一般會(huì)外掛晶體，根據(jù)晶體的固有振蕩頻率輸出時(shí)鐘信號(hào)，其結(jié)構(gòu)比較簡(jiǎn)單，成本較低。

沖擊測(cè)試系統(tǒng)系應(yīng)用于諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的沖擊電壓試驗(yàn)。此種測(cè)試系依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范執(zhí)行全波（full）或截?cái)啵╟hopped） 的閃電突波（L.I）

FLIRK1是一個(gè)強(qiáng)大的態(tài)勢(shì)感知工具，也是市場(chǎng)上實(shí)惠的FLIRTIC之一，非常適合幫助消防員在完全黑暗和煙霧中完成的36°C評(píng)估。另外，F(xiàn)LIRK1還有不少超出火災(zāi)現(xiàn)場(chǎng)態(tài)勢(shì)感知的應(yīng)用，下面就給大家介紹下FLIRK1的其他5種用途。1文檔存儲(chǔ)FLIRK1允許您保存多達(dá)1組用于報(bào)告的輻射熱圖像和視覺圖像?？梢杂糜诨馂?zāi)后調(diào)查、報(bào)告和記錄保存；代碼/占用檢查；過(guò)熱剎車、配電盤、飛機(jī)剎車或火車剎車的文件。
HNCJ-V 雷電沖擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控制沖擊電壓發(fā)生器的操作，手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過(guò)程，真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。

充電控制功能

系統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗(yàn)要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間，能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控制電壓發(fā)生器的充電過(guò)程。采用自動(dòng)控制方式充電時(shí)，根據(jù)設(shè)定值，自動(dòng)充電并穩(wěn)定在充電電壓值上，延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重復(fù)性和穩(wěn)定度很好。

動(dòng)作控制

本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控制調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控制調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控制本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動(dòng)/自動(dòng)控制。

2 觸發(fā)控制

系統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)沖擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號(hào)可以立延時(shí)

當(dāng)時(shí)是秋冬之交，雨水進(jìn)入到ECD排出口之后凍住了，因此造成儀器ECD的出口堵塞，柱頭壓居高不下，氣體在氣路中無(wú)法流動(dòng)，也就無(wú)法載樣品到檢測(cè)器，所以不出峰。基線問(wèn)題氣相色譜基線波動(dòng)、飄移都是基線問(wèn)題，基線問(wèn)題可使測(cè)量誤差增大，有時(shí)甚至?xí)?dǎo)致儀器無(wú)法正常使用。遇到基線問(wèn)題時(shí)應(yīng)先檢查儀器條件是否有改變，近期是否新?lián)Q氣瓶及設(shè)備配件。如果有更換或條件有改變，則要先檢查基線問(wèn)題是不是由這些改變?cè)斐傻模话銇?lái)說(shuō)，這種變化往往是產(chǎn)生基線問(wèn)題的原因。