HNCJ系列雷電沖擊電壓發(fā)生裝置
來電咨詢 雷電沖擊電壓發(fā)生器 串聯(lián)諧振試驗(yàn)設(shè)備 感應(yīng)耐壓試驗(yàn)裝置產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059沖擊電壓發(fā)生器主要用于電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電沖擊電壓全波、雷電沖擊電壓截波和操作沖擊電壓波的沖擊電壓試驗(yàn)，檢驗(yàn)絕緣性能。沖擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等沖擊電壓的電源裝置。主要用于絕緣沖擊耐壓及介質(zhì)沖擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

當(dāng)你無法清楚了解測(cè)量儀器所導(dǎo)出測(cè)量數(shù)據(jù)的敏感性級(jí)別和精度，便很難相信這些數(shù)據(jù)，而紅外熱像儀常常會(huì)被歸到這一測(cè)量儀器的類別之中。而且，在討論紅外熱像儀的測(cè)量精度時(shí)，常常會(huì)用到一些令人困惑不已、產(chǎn)生誤解的復(fù)雜術(shù)語和行話。終使一些研究人員完全對(duì)這些工具繞行而走。不過也他們會(huì)與其在研發(fā)熱測(cè)量應(yīng)用所具有的潛在優(yōu)勢(shì)失之交臂。在下面的討論中，我們會(huì)避免使用技術(shù)術(shù)語，以直白的語言闡述紅外熱像儀在測(cè)溫上的不確定性，讓你對(duì)此有基本的了解，從而幫助你理解紅外熱像儀標(biāo)定流程和精度。

沖擊測(cè)試系統(tǒng)系應(yīng)用于諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的沖擊電壓試驗(yàn)。此種測(cè)試系依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范執(zhí)行全波（full）或截?cái)啵╟hopped） 的閃電突波（L.I）

與此同時(shí)，近紅外光譜技術(shù)在除農(nóng)業(yè)以外的其他領(lǐng)域（如紡織業(yè)、化工業(yè)、制藥業(yè)、造紙業(yè)等）也進(jìn)入了實(shí)際應(yīng)用階段，尤其是在工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)、在線質(zhì)量監(jiān)控等方面該技術(shù)顯示了其有的優(yōu)勢(shì)。進(jìn)入九十年代，許多基于不同分光原理的新型近紅外儀器如二極管列陣型、聲光調(diào)制型、成像光譜型等出現(xiàn)了，這些儀器在快速現(xiàn)場(chǎng)實(shí)時(shí)測(cè)量方面有很好的發(fā)展?jié)摿?，是?dāng)代近紅外光譜儀器發(fā)展的典型代表。在食用油脂領(lǐng)域，研究人員利用NIR技術(shù)進(jìn)行了多方面的研究，主要包含食用油脂種類鑒別與摻偽、理化指標(biāo)的定量及多組分同時(shí)測(cè)定等幾個(gè)方面。
HNCJ-V 雷電沖擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控制沖擊電壓發(fā)生器的操作，手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過程，真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。

充電控制功能

系統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗(yàn)要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間，能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控制電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動(dòng)控制方式充電時(shí)，根據(jù)設(shè)定值，自動(dòng)充電并穩(wěn)定在充電電壓值上，延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重復(fù)性和穩(wěn)定度很好。

動(dòng)作控制

本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控制調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控制調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控制本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動(dòng)/自動(dòng)控制。

2 觸發(fā)控制

系統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)沖擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號(hào)可以立延時(shí)

使用組合透鏡系統(tǒng)對(duì)物體成像，實(shí)現(xiàn)加電時(shí)液晶透鏡區(qū)域清晰，具有大視場(chǎng)、局部高分辨率的效果。本文通過實(shí)驗(yàn)測(cè)量模組光圈與液晶透鏡匹配、液晶透鏡位置等對(duì)于成像質(zhì)量的影響。研究方向：液晶透鏡成像系統(tǒng)測(cè)試目的：展示成像系統(tǒng)對(duì)于局部區(qū)域的清晰成像效果，測(cè)量不同位置、不同光圈下成像系統(tǒng)的MTF，其對(duì)于成像質(zhì)量的影響。測(cè)試設(shè)備:相機(jī)、鏡頭、函數(shù)發(fā)生器、功率放大器ATA-24組合透鏡系統(tǒng)放大器型號(hào):AigtekATA-242實(shí)驗(yàn)過程：1.實(shí)驗(yàn)室制備液晶透鏡，并通過干涉法獲取波前信息，得到zernike系數(shù)，得到液晶透鏡的性能參數(shù)，以選擇合適的驅(qū)動(dòng)電壓；組裝成像系統(tǒng)，對(duì)不同區(qū)域的物體進(jìn)行成像實(shí)驗(yàn)；使用ISO12233板對(duì)成像系統(tǒng)進(jìn)行對(duì)焦測(cè)試，測(cè)試不同光圈、不同液晶透鏡位置的MTF值。