HNCJ系列雷電沖擊電壓發(fā)生裝置
HN系列 沖擊電壓發(fā)生裝置 變頻串聯(lián)諧振 CVT檢驗(yàn)諧振升壓裝置產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

聯(lián)系人車(chē)高平13608980122/15689901059沖擊電壓發(fā)生器主要用于電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電沖擊電壓全波、雷電沖擊電壓截波和操作沖擊電壓波的沖擊電壓試驗(yàn)，檢驗(yàn)絕緣性能。沖擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過(guò)電壓等沖擊電壓的電源裝置。主要用于絕緣沖擊耐壓及介質(zhì)沖擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

紅外攝像機(jī)因?yàn)闊o(wú)損檢測(cè)使用的紅外攝像機(jī)要以高靈敏度捕捉瞬變現(xiàn)象，因此需要有高時(shí)間分辨率的高幀速率。每個(gè)像素的空間分辨率由與紅外攝像機(jī)一起使用的透鏡所決定的空間分辨率視角決定，如要檢測(cè)大型目標(biāo)和精細(xì)區(qū)域，要使用高像素的紅外攝像機(jī)。2.光激發(fā)無(wú)損檢測(cè)-光學(xué)增強(qiáng)方法的基本原理為光激發(fā)無(wú)損檢測(cè)裝置概圖。該方法分為所示的脈沖熱成像和所示的鎖相熱成像兩種。-脈沖熱成像的基本原理脈沖熱成像方法通過(guò)瞬間燈光激發(fā)使測(cè)量對(duì)象出現(xiàn)溫度上升,在溫度下降的過(guò)程中，通過(guò)圖像顯示正常位置和缺陷位置出現(xiàn)的溫度變化和時(shí)間相位滯后。

沖擊測(cè)試系統(tǒng)系應(yīng)用于諸如電力變壓器、比成器、高壓開(kāi)關(guān)及電力電纜等高壓器材的沖擊電壓試驗(yàn)。此種測(cè)試系依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范執(zhí)行全波（full）或截?cái)啵╟hopped） 的閃電突波（L.I）

數(shù)字熒光頻譜圖在一個(gè)二維圖譜上顯示三維數(shù)，橫軸代表頻率，縱軸代表幅度，像素點(diǎn)的色彩是個(gè)維度代表密度，即統(tǒng)計(jì)次數(shù)。數(shù)字熒光頻譜視圖示意圖實(shí)時(shí)頻譜憑借數(shù)字熒光頻譜圖與無(wú)縫瀑布圖等圖的優(yōu)勢(shì)，能夠發(fā)現(xiàn)瞬態(tài)信號(hào)、查找大信號(hào)下的小信號(hào)并且能夠查看信號(hào)隨時(shí)間變化的過(guò)程?，F(xiàn)信號(hào)1.1發(fā)現(xiàn)強(qiáng)信號(hào)下的弱信號(hào)RF信號(hào)的多樣化和普遍性增加了系統(tǒng)和信號(hào)相互干擾的可能性。RF環(huán)境的復(fù)雜化使得系統(tǒng)極易受到其他信號(hào)的干擾或自身產(chǎn)生難以察覺(jué)到的干擾信號(hào)，利用傳統(tǒng)掃頻式頻譜儀器很難在工作環(huán)境中識(shí)別到干擾信號(hào)及其來(lái)源。
HNCJ-V 雷電沖擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控制沖擊電壓發(fā)生器的操作，手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過(guò)程，真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。

充電控制功能

系統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗(yàn)要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間，能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控制電壓發(fā)生器的充電過(guò)程。采用自動(dòng)控制方式充電時(shí)，根據(jù)設(shè)定值，自動(dòng)充電并穩(wěn)定在充電電壓值上，延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重復(fù)性和穩(wěn)定度很好。

動(dòng)作控制

本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控制調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控制調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控制本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動(dòng)/自動(dòng)控制。

2 觸發(fā)控制

系統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)沖擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號(hào)可以立延時(shí)

TEMCELL一般只找方值，使測(cè)試結(jié)果對(duì)擺放的位置比較敏感。另外，還有一種測(cè)試工具較箱，有的設(shè)計(jì)公司用來(lái)對(duì)天線進(jìn)行有源測(cè)試，這種方法很不可行。一方面由于測(cè)試距離太近，另一方面由于沒(méi)有足夠的吸波材料，外部干擾對(duì)天線的測(cè)試影響比較大，這樣導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果對(duì)位置比較敏感，稍微改變一下位置測(cè)試結(jié)果就有比較大的改變，因此這種測(cè)試方法對(duì)天線的性能沒(méi)有多少的參考意義。用耦合測(cè)試板測(cè)試天線性能在生產(chǎn)過(guò)程中為了保證產(chǎn)品的生產(chǎn)品質(zhì)，往往要進(jìn)行天線的耦合測(cè)試。