HNCJ系列雷電沖擊電壓發(fā)生裝置
帶通訊 雷電沖擊發(fā)生器 直流高壓發(fā)生器 感應(yīng)耐壓試驗(yàn)裝置產(chǎn)品簡介：

聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059沖擊電壓發(fā)生器主要用于電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電沖擊電壓全波、雷電沖擊電壓截波和操作沖擊電壓波的沖擊電壓試驗(yàn)，檢驗(yàn)絕緣性能。沖擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等沖擊電壓的電源裝置。主要用于絕緣沖擊耐壓及介質(zhì)沖擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

測試中間頻率(nｋHｚ～nＭHｚ)信號(hào)電容1pF和示波器輸入電容（線電容＋補(bǔ)償電容＋電容＝9pF）實(shí)現(xiàn)1:1分壓。高頻無源（1MHZ以上）1:1高頻無源等效電路特點(diǎn)：如上圖所示，與示波器輸入回路組成等效回路。這是個(gè)非常復(fù)雜的分壓回路，要點(diǎn)是在帶寬范圍內(nèi)，實(shí)現(xiàn)1:1穩(wěn)定分壓特性。適用對(duì)象：測試高頻(1MHz以上)信號(hào)。注意事項(xiàng)：即使是同一，型號(hào)不同的示波器輸入等效回路也不盡相同，示波器初次使用前，需要對(duì)補(bǔ)償電容進(jìn)行調(diào)整。

沖擊測試系統(tǒng)系應(yīng)用于諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的沖擊電壓試驗(yàn)。此種測試系依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范執(zhí)行全波（full）或截?cái)啵╟hopped） 的閃電突波（L.I）

一項(xiàng)技術(shù)的出現(xiàn)，必然要與傳統(tǒng)技術(shù)進(jìn)行搏殺，可能是魚死網(wǎng)破兩敗俱傷，可能是互相妥協(xié)和平共處，也可能多方投降一家大，LoRa與NB-IOT哪個(gè)才是物聯(lián)網(wǎng)的嬌寵？物聯(lián)網(wǎng)的無線通信技術(shù)很多，主要分為兩類：一類是ZigBeWi-F藍(lán)牙、Z-we等短距離通信技術(shù)；另一類是LPWAN（low-powerWide-AreaNetwork，低功耗廣域網(wǎng)），即廣域網(wǎng)通信技術(shù)。物聯(lián)網(wǎng)的快速發(fā)展對(duì)無線通信技術(shù)提出了更高的要求，專為低帶寬、低功耗、遠(yuǎn)距離、大量連接的物聯(lián)網(wǎng)應(yīng)用而設(shè)計(jì)的LPWAN也快速興起。
HNCJ-V 雷電沖擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控制沖擊電壓發(fā)生器的操作，手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過程，真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。

充電控制功能

系統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗(yàn)要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間，能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控制電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動(dòng)控制方式充電時(shí)，根據(jù)設(shè)定值，自動(dòng)充電并穩(wěn)定在充電電壓值上，延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重復(fù)性和穩(wěn)定度很好。

動(dòng)作控制

本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控制調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控制調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控制本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動(dòng)/自動(dòng)控制。

2 觸發(fā)控制

系統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)沖擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號(hào)可以立延時(shí)

在1MHz以上的頻率范圍，使用非標(biāo)配則無法保證示波器與的匹配，達(dá)到測量效果。:1無源1:1無源等效電路特點(diǎn)：前端（配合補(bǔ)償電容）和示波器并列得到1:1的分壓效果。適用對(duì)象：測試直流～低周波(nkHz)信號(hào)。前端電阻49.5MΩ和補(bǔ)償電容電阻1MΩ與示波器的1MΩ并列得到1:1的分壓回路。在補(bǔ)償電容內(nèi)加入分壓電阻是為了**，尤其是在測試者接觸BNC接頭時(shí)。