HNCJ系列雷電沖擊電壓發(fā)生裝置
生產(chǎn)廠家 雷電沖擊電壓發(fā)生器 干式試驗(yàn)變壓器 CVT變頻諧振交流耐壓裝置產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

沖擊電壓發(fā)生器主要用于電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電沖擊電壓全波、雷電沖擊電壓截波和操作沖擊電壓波的沖擊電壓試驗(yàn)，檢驗(yàn)絕緣性能。沖擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過(guò)電壓等沖擊電壓的電源裝置。主要用于絕緣沖擊耐壓及介質(zhì)沖擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

對(duì)采用上升沿時(shí)鐘的D觸發(fā)裝置來(lái)說(shuō)，輸出信號(hào)穩(wěn)定時(shí)間在時(shí)鐘下降沿周圍。由于同步電路的時(shí)鐘周期可能并不是固定的，因此狀態(tài)采集之間的時(shí)間可能并不均勻，這一點(diǎn)是它與定時(shí)采集的不同點(diǎn)。邏輯儀同時(shí)提供了定時(shí)采集功能和狀態(tài)采集功能?；旌闲盘?hào)示波器數(shù)字通道采集信號(hào)的方式與邏輯儀在定時(shí)采集模式下采集信號(hào)的方式類似，如所示。泰克MSO系列把定時(shí)采集成時(shí)鐘輸入總線顯示畫面和事件表，其與邏輯儀的狀態(tài)采集顯示畫面類似，在調(diào)試過(guò)程中為您提供重要信息。

沖擊測(cè)試系統(tǒng)系應(yīng)用于諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的沖擊電壓試驗(yàn)。此種測(cè)試系依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范執(zhí)行全波（full）或截?cái)啵╟hopped） 的閃電突波（L.I）

舉個(gè)例子，將一個(gè)離散的熱源放置在一個(gè)大的金屬散熱器上，會(huì)產(chǎn)生較大的熱梯度，因?yàn)闊崃烤徛赝ㄟ^(guò)鋁傳導(dǎo)到翅片。研發(fā)人員計(jì)劃在散熱器內(nèi)植入熱管，達(dá)到既減少散熱器板厚度和散熱片面積，降低對(duì)強(qiáng)制對(duì)流的依賴從而實(shí)現(xiàn)噪音降低，又保證產(chǎn)品長(zhǎng)期穩(wěn)定工作的目的，紅外熱像儀可以很好的幫助工程師們?cè)u(píng)估該方案效能。上圖解說(shuō)：熱源功率150W；左圖：傳統(tǒng)鋁散熱片，長(zhǎng)度30.5cm，基底厚度1.5cm，重4.4kg，可以發(fā)現(xiàn)熱量以熱源為中心梯度擴(kuò)散；右圖：植入5根熱管后的散熱片，長(zhǎng)度25.4cm，基底厚度0.7cm，重2.9kg，較傳統(tǒng)散熱片減材34%，可以發(fā)現(xiàn)熱管可以等溫的將熱量帶走，散熱器溫度分布均勻，同時(shí)發(fā)現(xiàn)導(dǎo)熱只需3根熱管，有進(jìn)一步降低成本的可能。
HNCJ-V 雷電沖擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控制沖擊電壓發(fā)生器的操作，手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過(guò)程，真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。

充電控制功能

系統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗(yàn)要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間，能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控制電壓發(fā)生器的充電過(guò)程。采用自動(dòng)控制方式充電時(shí)，根據(jù)設(shè)定值，自動(dòng)充電并穩(wěn)定在充電電壓值上，延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重復(fù)性和穩(wěn)定度很好。

動(dòng)作控制

本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控制調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控制調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控制本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動(dòng)/自動(dòng)控制。

2 觸發(fā)控制

系統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)沖擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號(hào)可以立延時(shí)

很多人對(duì)直角走線都有這樣的理解，認(rèn)為容易發(fā)射或接收電磁波，產(chǎn)生EMI，這也成為許多人認(rèn)為不能直角走線的理由之一。然而很多實(shí)際測(cè)試的結(jié)果顯示，直角走線并不會(huì)比直線產(chǎn)生很明顯的EMI。也許目前的儀器性能，測(cè)試水平制約了測(cè)試的性，但至少說(shuō)明了一個(gè)問(wèn)題，直角走線的輻射已經(jīng)小于儀器本身的測(cè)量誤差?？偟恼f(shuō)來(lái)，直角走線并不是想象中的那么可怕。至少在GHz以下的應(yīng)用中，其產(chǎn)生的任何諸如電容，反射，EMI等效應(yīng)在TDR測(cè)試中幾乎體現(xiàn)不出來(lái)，高速PCB設(shè)計(jì)工程師的重點(diǎn)還是應(yīng)該放在布局，電源/地設(shè)計(jì)，走線設(shè)計(jì)，過(guò)孔等其他方面。