HNCJ系列雷電沖擊電壓發(fā)生裝置
5年保修 雷電沖擊電壓發(fā)生器 電纜耐壓試驗(yàn)裝置 電子式多倍頻發(fā)生器產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

沖擊電壓發(fā)生器主要用于電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電沖擊電壓全波、雷電沖擊電壓截波和操作沖擊電壓波的沖擊電壓試驗(yàn)，檢驗(yàn)絕緣性能。沖擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過(guò)電壓等沖擊電壓的電源裝置。主要用于絕緣沖擊耐壓及介質(zhì)沖擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

ES21E智能型雙鉗相位伏安表，可同時(shí)測(cè)量電壓，電流，相位，功率，頻率等參數(shù)。且量程為全自動(dòng)換檔。外觀設(shè)計(jì)輕巧、方便。配有USB接口可上傳數(shù)據(jù)。此實(shí)例為測(cè)量電能表中的相位及功率?；鹁€與零線的相位角測(cè)量方法測(cè)量電表將被測(cè)電壓線L、N對(duì)應(yīng)接入儀表的U1紅、COM黑插孔電流鉗I1鉗住被測(cè)L線路，可以測(cè)試單相線路電壓、電流、相位、頻率、功率參數(shù)等，ES21E測(cè)量電壓，電流，相位，頻率等，無(wú)需換檔。正確插上即可讀數(shù)4.ES21E為二通道相位表。

沖擊測(cè)試系統(tǒng)系應(yīng)用于諸如電力變壓器、比成器、高壓開(kāi)關(guān)及電力電纜等高壓器材的沖擊電壓試驗(yàn)。此種測(cè)試系依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范執(zhí)行全波（full）或截?cái)啵╟hopped） 的閃電突波（L.I）

提供緊湊的體積和模塊化架構(gòu)，在單個(gè)機(jī)箱中支持多達(dá)512個(gè)通道。提供寬泛的可編程驅(qū)動(dòng)/檢測(cè)電壓范圍，支持傳統(tǒng)應(yīng)用和當(dāng)前技術(shù)應(yīng)用。靈活的架構(gòu)，提供每個(gè)引腳的可編程性-化靈活性，適用于應(yīng)用。管理與這些數(shù)字子系統(tǒng)相關(guān)的功率要求和功耗是實(shí)現(xiàn)高可靠性的關(guān)鍵?，F(xiàn)代數(shù)字子系統(tǒng)采用兩個(gè)主要組件—高性能ASIC或FPGA，提供所有數(shù)字邏輯，定時(shí)和序列控制;和單片引腳電子（PE）器件，它們與數(shù)字邏輯接口，并為UUT或被測(cè)器件提供可編程電平（）。
HNCJ-V 雷電沖擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控制沖擊電壓發(fā)生器的操作，手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過(guò)程，真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。

充電控制功能

系統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗(yàn)要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間，能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控制電壓發(fā)生器的充電過(guò)程。采用自動(dòng)控制方式充電時(shí)，根據(jù)設(shè)定值，自動(dòng)充電并穩(wěn)定在充電電壓值上，延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重復(fù)性和穩(wěn)定度很好。

動(dòng)作控制

本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控制調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控制調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控制本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動(dòng)/自動(dòng)控制。

2 觸發(fā)控制

系統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)沖擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號(hào)可以立延時(shí)

在實(shí)際應(yīng)用過(guò)程中，電容老化測(cè)試設(shè)備內(nèi)部可編程電源輸出的合理紋波和數(shù)米長(zhǎng)線纜上耦合的高頻噪聲容易干擾漏電流檢測(cè)結(jié)果?？删幊屉娫摧敵鼋?jīng)過(guò)數(shù)米長(zhǎng)線纜后，終注入電容LC測(cè)試功能模塊。當(dāng)干擾噪聲嚴(yán)重時(shí)，現(xiàn)場(chǎng)實(shí)際測(cè)量的u漏電流結(jié)果誤差增大，甚至可能出現(xiàn)負(fù)值，造成產(chǎn)品測(cè)試異常，帶來(lái)終端客戶抱怨。我們?nèi)绾尾拍茉诠S內(nèi)部復(fù)雜電磁環(huán)境下確保電容樣品漏電流特性的高精度測(cè)量呢？下面分享某電容老化測(cè)試客戶高精度供電干擾改善案例，利用TDK-Lambda業(yè)界的可編程電源匹配合理外圍方案，從而解決傳統(tǒng)電容老化客戶普遍面臨的痛點(diǎn)問(wèn)題。