HN8001A三相交直流指示儀表，電測儀表檢定裝置 交直流標(biāo)準(zhǔn)源 多表位電壓監(jiān)測儀校驗(yàn)臺(tái)HN8000 價(jià)格 多功能電測儀表校驗(yàn)裝置

車高平 13608980122/15689901059

輸出交直流電壓、電流、相位和功率均為高精度、高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)源，軟件校準(zhǔn)。各項(xiàng)輸出均采用動(dòng)態(tài)負(fù)載自動(dòng)調(diào)整技術(shù),降低了負(fù)載調(diào)整率。采用高速交流采樣、高速數(shù)字信號(hào)處理器（DSP）、復(fù)雜可編程邏輯陣列（CPLD）、大功率集成功放、嵌入式計(jì)算機(jī)系統(tǒng)設(shè)計(jì)而成，將系統(tǒng)、測試和信號(hào)高度集成，體積小，重量輕，可靠性極高，功能性極強(qiáng)。用于檢測數(shù)字儀表、指示儀表、電能表、互感器、數(shù)字測控裝置、變送器、交流采樣裝置

也因?yàn)槔硐氲脑骷c現(xiàn)況的差異，導(dǎo)致我們在測量時(shí)就得特別注意，也必須特別考慮測量方法和選擇測試條件。再來是電感器的頻率響應(yīng)特性。個(gè)是關(guān)于普通電感，由于來自線纜電阻和寄生電容的影響，也會(huì)使得實(shí)際的阻抗值和理想值間有所偏差，特別是在高頻的時(shí)候。另外，高磁芯損耗的電感則是由于寄生電容和磁芯損耗的影響，同樣會(huì)產(chǎn)生與理論值間的偏差。后是關(guān)于電容器頻率響應(yīng)的特性，是因?yàn)榈刃Т?lián)電阻的影響，使得實(shí)際測量結(jié)果與理論值有所偏差。
 技術(shù)參數(shù)：

整機(jī)有效精度 0.05級

交直流電壓輸出

量限：660V、380V、220V、100V、57.735V  

調(diào)節(jié)范圍：(0～120)%RG RG為量限,下同

準(zhǔn)確度：0.05%RG

 交直流電流輸出

量限： 20A、5A、1A、0.2A

調(diào)節(jié)范圍:  (0～120)%RG   RG為量限,下同；

準(zhǔn)確度： 0.05%RG

     交直流標(biāo)準(zhǔn)源 多表位電壓監(jiān)測儀校驗(yàn)臺(tái)HN8000 價(jià)格 多功能電測儀表校驗(yàn)裝置MEMS麥克風(fēng)結(jié)構(gòu)和封裝示意圖這些優(yōu)勢使MEMS麥克風(fēng)成為設(shè)計(jì)的理想選擇。當(dāng)然，若想設(shè)計(jì)的聲級計(jì)，MEMS麥克風(fēng)還需彌補(bǔ)一些缺陷。由于MEMS麥克風(fēng)是在器件級提供數(shù)字信號(hào)，因此無法從電路中單移出壓力敏感腔，并單測試模擬鏈路。而聲級計(jì)的所有相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)都編寫于2世紀(jì)7年代，并假設(shè)聲級計(jì)設(shè)計(jì)包括一個(gè)單的麥克風(fēng)振腔，驅(qū)動(dòng)一個(gè)模擬處理鏈或者一個(gè)模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC），然后是一個(gè)數(shù)字處理鏈。這就要求使用電信號(hào)代替麥克風(fēng)來測試聲級計(jì)。頻率設(shè)置：在源關(guān)閉狀態(tài)可通過鼠標(biāo)選中液晶屏的頻率編輯框設(shè)置頻率。頻率設(shè)置范圍是40Hz～70Hz，分辨率為0.0001Hz 。超出范圍將會(huì)自動(dòng)按頻率的值或者值輸出頻率值。也可通過面板按鍵編輯器進(jìn)行頻率設(shè)置：對交流源的頻率信號(hào)進(jìn)行調(diào)節(jié)。按鍵編輯器顯示為F=××.××××Hz；若交流源處于關(guān)閉狀態(tài)，則打開并輸出交流源，源幅度為量限幅度。光標(biāo)指示當(dāng)前欲調(diào)節(jié)細(xì)度，按【←】鍵可左移光標(biāo)，按【→】鍵可右移光標(biāo)。確定好調(diào)節(jié)細(xì)度后旋轉(zhuǎn)編碼器可對頻率信號(hào)進(jìn)行升/降調(diào)節(jié)

由于并行任務(wù)調(diào)度規(guī)劃并不是固定的，在測試運(yùn)行之前，軟件無法確定測試任務(wù)的執(zhí)行次序，從而也就無法確定測試通道的打通次序。那么，只能在測試任務(wù)運(yùn)行時(shí)，根據(jù)UUT端口和被測參數(shù)來動(dòng)態(tài)建立信號(hào)鏈路，并打通相應(yīng)的通道。并行測試解決思路并行測試技術(shù)是對傳統(tǒng)串行測試技術(shù)的突破和超越，思維方式與解決途徑都發(fā)生了較大的變革，在大幅度提高測試效率的同時(shí)也帶來了較多的挑戰(zhàn)，下面逐一介紹解決思路。測試資源競爭和死鎖問題解決思路概括起來講，測試資源競爭問題解決思路就是八個(gè)字“用時(shí)申請，用后歸還”。

直流標(biāo)準(zhǔn)源參數(shù)操作

當(dāng)用鼠標(biāo)選中標(biāo)準(zhǔn)源視窗中〖交直流〗單選按鈕的〖直流〗選項(xiàng)時(shí)，標(biāo)準(zhǔn)源視窗將處于直流標(biāo)準(zhǔn)源狀態(tài)。此時(shí)所有交流源參數(shù)將處于變灰無效狀態(tài)。僅直流源參數(shù)可進(jìn)行操作。

在直流標(biāo)準(zhǔn)源輸出前可以對直流標(biāo)準(zhǔn)源的量限進(jìn)行設(shè)置；設(shè)置完畢，按下〖源輸出〗按鈕或【F1】鍵，HN8005B將輸出所設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)直流信號(hào)。

對于直流參數(shù)的設(shè)置與修改可以通過兩種方式:

方式一：直接使用【百分比鍵】操作。直流源將按當(dāng)前選擇的量限百分比進(jìn)行輸出。若直流源處于關(guān)閉狀態(tài)，則打開并輸出直流源，若直流源已處于輸出狀態(tài)，則直接按量限百分比輸出相應(yīng)幅度。

系統(tǒng)描述AOI是檢測PCB表面圖形品質(zhì)(如表面缺陷、斷路和短路)的設(shè)備，用于生產(chǎn)過程中半成品品質(zhì)檢測，是高精密單層印制板，尤其是多層印制板加工的關(guān)鍵技術(shù)。測試系統(tǒng)集光學(xué)、精密機(jī)械、識(shí)別診斷算法和計(jì)算機(jī)技術(shù)于一體。檢測時(shí)，機(jī)器通過電荷耦合器件(CCD)或激光自動(dòng)掃描PCB，采集圖像后送與計(jì)算機(jī)處理，再與數(shù)據(jù)庫中的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)比較，查出PCB上缺陷，用顯示器或自動(dòng)標(biāo)識(shí)系統(tǒng)顯示或標(biāo)識(shí)缺陷，供維修人員修理。項(xiàng)目產(chǎn)品清單主控設(shè)備：研祥EPI整機(jī)IPC-685E該主控設(shè)備的主板是一款采用IntelG41芯片組，支持IntelLGA775封裝雙核、四核E53、E84、Q94等系列CPU的高性能平臺(tái)；支持2條8/166M的DDR3內(nèi)存條，總?cè)萘恐С?GB；板載1個(gè)1/1/1Mbps網(wǎng)絡(luò)接口；支持VGA+VGA雙顯示功能；支持4個(gè)SATA接口；USB2.接口、2個(gè)串口(其中1個(gè)支持RS-232/RS-422/RS-485)、1個(gè)并口等豐富的I/O接口。