HN8001A三相交直流指示儀表，電測儀表檢定裝置 多表位交流采樣變送器校驗臺 電壓監(jiān)測儀校驗裝置 作用 電測儀表校驗儀

車高平 13608980122/15689901059

輸出交直流電壓、電流、相位和功率均為高精度、高穩(wěn)定度標準源，軟件校準。各項輸出均采用動態(tài)負載自動調(diào)整技術(shù),降低了負載調(diào)整率。采用高速交流采樣、高速數(shù)字信號處理器（DSP）、復(fù)雜可編程邏輯陣列（CPLD）、大功率集成功放、嵌入式計算機系統(tǒng)設(shè)計而成，將系統(tǒng)、測試和信號高度集成，體積小，重量輕，可靠性極高，功能性極強。用于檢測數(shù)字儀表、指示儀表、電能表、互感器、數(shù)字測控裝置、變送器、交流采樣裝置

ZLG傾力打造新一代PSA系列高性能可編程交流電源，提供前沿交流電源解決方案，滿足市場對高精度、寬范圍交流電源的需求。PSA系列高性能可編程交流電源將先進數(shù)字智能控制、高功率密度模塊化設(shè)計結(jié)合，具有高精度、高性能、多功能等優(yōu)勢的前沿交流電源解決方案。PSA系列不僅是高性能可編程交流、直流或交流+直流電源，而且具備電壓波動和諧波合成功能，模擬各類正?；虍惓９╇姽r，測試驗證消費電子、電力、、新能源等領(lǐng)域的電子產(chǎn)品的性能與功能。
 技術(shù)參數(shù)：

整機有效精度 0.05級

交直流電壓輸出

量限：660V、380V、220V、100V、57.735V  

調(diào)節(jié)范圍：(0～120)%RG RG為量限,下同

準確度：0.05%RG

 交直流電流輸出

量限： 20A、5A、1A、0.2A

調(diào)節(jié)范圍:  (0～120)%RG   RG為量限,下同；

準確度： 0.05%RG

     多表位交流采樣變送器校驗臺 電壓監(jiān)測儀校驗裝置 作用 電測儀表校驗儀CSP(ChipScalePACkage)：芯片級封裝，該方式相比BGA同等空間下可以將存儲容量提升三倍，是由日本三菱公司提出來的。DIP(DualIn-linePACkage)：雙列直插式封裝，插裝型封裝之一，指采用雙列直插形式封裝的集成電路芯片，體積比較大。MCM(MultiChipModel)：多芯片模塊封裝，可根據(jù)基板材料分為MCM-L，MCM-C和MCM-D三大類。QFP(QuadFlatPackage)：四側(cè)引腳扁平封裝，表面貼裝型封裝之一，引腳通常在100以上，適合高頻應(yīng)用，基材方面有陶瓷、金屬和塑料三種。頻率設(shè)置：在源關(guān)閉狀態(tài)可通過鼠標選中液晶屏的頻率編輯框設(shè)置頻率。頻率設(shè)置范圍是40Hz～70Hz，分辨率為0.0001Hz 。超出范圍將會自動按頻率的值或者值輸出頻率值。也可通過面板按鍵編輯器進行頻率設(shè)置：對交流源的頻率信號進行調(diào)節(jié)。按鍵編輯器顯示為F=××.××××Hz；若交流源處于關(guān)閉狀態(tài)，則打開并輸出交流源，源幅度為量限幅度。光標指示當前欲調(diào)節(jié)細度，按【←】鍵可左移光標，按【→】鍵可右移光標。確定好調(diào)節(jié)細度后旋轉(zhuǎn)編碼器可對頻率信號進行升/降調(diào)節(jié)

4151調(diào)制域儀具有的時間間隔測量功能及應(yīng)用演示如下：正時間間隔測量。4151調(diào)制域儀提供的正時間間隔測量功能，既可以實現(xiàn)單通道的連續(xù)周期測試，也可以實現(xiàn)雙通道之間的相對時間間隔測試，雙通道時間間隔測量需設(shè)置相對關(guān)系，AB或BA的正時間間隔測量。4151調(diào)制域儀正時間間隔的測量范圍為4ns~8s，時間測量分辨率為5ps。正時間間隔測量演示上圖是用Tek公司的任意波形發(fā)生模擬了雷達發(fā)射與接收脈沖信號的正時間間隔測試結(jié)果，B通道輸入脈沖信號的周期為1us，相對延遲時間為ns。

直流標準源參數(shù)操作

當用鼠標選中標準源視窗中〖交直流〗單選按鈕的〖直流〗選項時，標準源視窗將處于直流標準源狀態(tài)。此時所有交流源參數(shù)將處于變灰無效狀態(tài)。僅直流源參數(shù)可進行操作。

在直流標準源輸出前可以對直流標準源的量限進行設(shè)置；設(shè)置完畢，按下〖源輸出〗按鈕或【F1】鍵，HN8005B將輸出所設(shè)定的標準直流信號。

對于直流參數(shù)的設(shè)置與修改可以通過兩種方式:

方式一：直接使用【百分比鍵】操作。直流源將按當前選擇的量限百分比進行輸出。若直流源處于關(guān)閉狀態(tài)，則打開并輸出直流源，若直流源已處于輸出狀態(tài)，則直接按量限百分比輸出相應(yīng)幅度。

在此基礎(chǔ)上，多T/R組件并行測試實現(xiàn)還是一個比較棘手的問題。概況來講，主要包括如下幾個方面的問題：測試資源競爭和死鎖問題測試資源競爭問題：在執(zhí)行過程中多個測試任務(wù)需要同時訪問一個資源所引起的問題，都需要矢量網(wǎng)絡(luò)儀怎么處理？死鎖問題：多個測試任務(wù)互相等待對方釋放自己所需資源，從而導(dǎo)致這些測試都無法繼續(xù)運行的問題。多線程測試任務(wù)管理問題并行測試是多線程執(zhí)行模式，這就出現(xiàn)了如何對這些測試任務(wù)進行全生命周期有效管理的問題。