HNZDL系列可編程直流穩(wěn)壓電源 可編程三相變頻電源 HN系列 電器老化電源 定制定做

聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059輸入電壓：AC380V±10℅,50Hz訂貨時需提前說明
輸出電壓：0％--100％可調(diào)輸出 或 固定輸出
輸出電流：0％--100％可調(diào)輸出 或 固定輸出
電源效應(yīng) lt; 0.3％ + 10mV
負(fù)載效應(yīng)： < 0.1% + 10mV
PulseMode可模擬脈沖對設(shè)備的影響，能夠設(shè)置脈沖的電壓、頻率、脈沖波形的占空比、角度、波形以及運(yùn)行時間等參數(shù)，能夠進(jìn)行電壓跌落和電網(wǎng)低頻干擾度試驗(yàn)等。StepMode可模擬漸變電壓/頻率對設(shè)備的影響，能夠設(shè)置步進(jìn)電壓、頻率、角度以及運(yùn)行時間等參數(shù)，同時具備功率掃描功能，從而能夠進(jìn)行電壓波動抗擾度試驗(yàn)等。APM可編程交流電源除了擁有強(qiáng)大的波形仿真功能外，還具備高功率密度，高可靠性，高精度的特點(diǎn)，同時兼容屏幕觸控和按鍵的人工操作界面等優(yōu)點(diǎn)，易于操作，內(nèi)置設(shè)定突波，陷波功能，還內(nèi)置符合IEC61-4-11/IEC61-4-14/IEC61-4-28/IEC61-4-13標(biāo)準(zhǔn)測試要求波形，可為用電設(shè)備模擬輸出正常或異常等電源輸入，滿足用電輸入測試要求。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
1、顯示：輸出電壓電流LED顯示（可按客戶要求加證D液晶顯示）；
2、外觀：采用臺式、塔式或19英寸標(biāo)準(zhǔn)化尺寸，支持N+1冗余擴(kuò)容，可組合放置于工作臺面及機(jī)架；
3、優(yōu)點(diǎn)：高頻PWM硬件調(diào)整軟開關(guān)控制技術(shù)使電源率，低紋波、低噪聲、高可靠性、體積小、重量輕；
4、恒壓恒流：輸出CC/CV恒壓恒流自動切換，電壓電流值從零到額定值連續(xù)線性調(diào)節(jié)；
5、保護(hù)功能：過壓保護(hù)（OVP)、過流保護(hù)(OCP)、過溫保護(hù)(OTP)、欠壓保護(hù)、過載保護(hù)

作為清潔能源的太陽能電池，為人們生活帶來便利，然而，有一個“毒瘤”影響太陽能組件或電池的壽命。這需要借助具有超高靈敏度的紅外熱像儀，準(zhǔn)確檢測出微小溫度變化的地方，將太陽能組件或電池存在問題的位置，捕捉在紅外熱圖之中。太陽能熱斑如何生成？這個"毒瘤"叫做太陽能熱斑。太陽電池組件由于在制造和實(shí)驗(yàn)的過程中，出現(xiàn)隱裂、碎片焊接等；或在應(yīng)用過程中，被其它物體(如鳥糞、樹蔭等)長時間遮擋時，被遮擋的太陽能電池組件此時將會嚴(yán)重發(fā)熱，這就是"熱斑效應(yīng)"，也就是太陽能上的一顆毒瘤。

功率直流電源主要由整流濾波電路，全橋變換電路，PWM控制電路，穩(wěn)壓、限壓電路，穩(wěn)流、限流保護(hù)電路，以及輔助電源電路等優(yōu)化組合而成。

本電源系列產(chǎn)品采用先進(jìn)的IG逆變技術(shù)，通過數(shù)字模擬閉環(huán)反饋，微處理器控制PWM脈寬控制器，控制能量輸出自由度高，恒流、恒壓精度高，動態(tài)響應(yīng)速度快，承受沖擊帶載能力強(qiáng)，允許負(fù)載變化范圍大（短路/空載）。使得輸入電壓在電網(wǎng)的不斷變化和負(fù)載的變化之下，都能使輸出產(chǎn)生自適應(yīng)并保持輸出電流和電壓恒定于設(shè)定值，從而確保電鍍生產(chǎn)線的運(yùn)轉(zhuǎn)。

半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造，晶圓測試，芯片封裝和封裝后測試組成，晶圓制造和芯片封裝討論較多，而測試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識經(jīng)常被邊緣化，下面集中介紹集成電路芯片測試的相關(guān)內(nèi)容，主要集中在WAT，CP和FT三個環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計(jì)、制造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數(shù)來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據(jù)，測試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機(jī)臺上，由WATRecipe自動控制測試位置和內(nèi)容，測完某條TestKey后，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。

停機(jī)時把調(diào)節(jié)旋鈕調(diào)至較小位置并切斷電源開關(guān)，把啟動、停止開關(guān)撥至停止位置。

10.8、自動計(jì)時功能（500A以下自動機(jī)型才有）：自動計(jì)時功能是檢測輸入電流是否大于5A，大于5A則開始記時，時控開關(guān)‘時控關(guān)’，到預(yù)置時間報(bào)警，并把電流降到10%額定電流以內(nèi)，工件拿出后，時控不工作，待下一工件放下開始自動工作。當(dāng)使用電流小于5A時

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