HN2016智能sf6微水測(cè)試儀sf6微水測(cè)試儀 SF6分解產(chǎn)物測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 5年保修

露點(diǎn)	測(cè)量范圍	－80 ℃～+20 ℃
	測(cè)量精度	±1℃（－80℃～＋20℃）
	測(cè)量時(shí)間 （＋20℃）	<3分鐘。
環(huán)境溫度	－40℃～＋60℃

用DSA13A可以對(duì)測(cè)試濾波器做簡(jiǎn)單的定性，測(cè)試方法和實(shí)測(cè)效果如下圖所示。應(yīng)用實(shí)例圖測(cè)試連接方法為了確保通帶測(cè)量具有高的幅度精度，要求有好的原始和經(jīng)修正的系統(tǒng)特性。所以要做歸一化的操作。如所以，用線纜將TG輸出的GENOUTPUT與頻譜的RFINPUT連接，圖連接GENOUTPUT與RFINPUT連接后，做歸一化的操作。圖歸一化前后比較根據(jù)測(cè)試的具體濾波器，設(shè)置頻譜儀的參數(shù)。此測(cè)試中，將中心頻率CenterFreq設(shè)定為2GHz，帶寬Span設(shè)定為1MHz。1、連接SF₆設(shè)備

將測(cè)量管道上螺紋端與開(kāi)關(guān)接頭連接好，用扳手?jǐn)Q緊，關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥；

再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口；

將排氣管道連接到出氣口。

后將開(kāi)關(guān)接頭與SF₆電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好，用扳手?jǐn)Q緊；

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí)，請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量，如果電量低于約20％，請(qǐng)關(guān)機(jī)充電后繼續(xù)使用。

3、開(kāi)始測(cè)量

打開(kāi)儀測(cè)量管道上的針型閥，然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量，把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右，開(kāi)始測(cè)量SF₆露點(diǎn)。

設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要5～10分鐘，其后每臺(tái)設(shè)備需要3～5分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測(cè)量完成后，可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中，按“確定”鍵調(diào)出操作菜單，具體操作方式見(jiàn)下節(jié)內(nèi)容。如所示，這種新技術(shù)使得Asterion比常規(guī)電源可以在更寬的電壓范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)滿功率輸出。，ix2電流倍增技術(shù)使得AMETEK程控電源Asterion系列產(chǎn)品比常規(guī)電源可以在更寬的電壓范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)滿功率輸出電流倍增技術(shù)使得AMETEK程控電源產(chǎn)品的輸出在電壓減少到額定電壓一半時(shí)候的輸出電流可以達(dá)到額定電流的二倍。ix2電流倍增技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)電源在更大的電壓范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)滿功率輸出。所有的AMETKE程控電源新的Asterion電源都使用了ix2電流倍增技術(shù)。

5、測(cè)量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測(cè)量后，關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF₆電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備，按照上面步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測(cè)量結(jié)束

所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束后，關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)確定鍵可以進(jìn)入功能菜單，如圖1。

所述存儲(chǔ)所述第n個(gè)補(bǔ)償余數(shù)具體包括：用第n個(gè)補(bǔ)償周期的補(bǔ)償余數(shù)覆蓋第n-1個(gè)補(bǔ)償周期的補(bǔ)償余數(shù)。一種應(yīng)用在電能表中RTC模塊的補(bǔ)償校準(zhǔn)裝置，包括：溫度測(cè)量模塊，用于根據(jù)測(cè)量的RTC模塊的晶體溫度獲取時(shí)鐘校準(zhǔn)所需的補(bǔ)償參數(shù)；控制模塊，用于根據(jù)所述補(bǔ)償參數(shù)和RTC模塊的補(bǔ)償單位計(jì)算補(bǔ)償校準(zhǔn)值和補(bǔ)償余數(shù)，并根據(jù)所述補(bǔ)償校準(zhǔn)值和所述補(bǔ)償余數(shù)對(duì)RTC模塊的時(shí)鐘頻率進(jìn)行校準(zhǔn)。所述控制模塊，具體用于在個(gè)補(bǔ)償周期中，按照所述補(bǔ)償校準(zhǔn)值對(duì)所述RTC模塊的時(shí)鐘頻率進(jìn)行校準(zhǔn)，并將所述補(bǔ)償余數(shù)存入存儲(chǔ)模塊；所述存儲(chǔ)模塊，用于存儲(chǔ)所述補(bǔ)償余數(shù)。

1、保存數(shù)據(jù)

在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單，按“確定”鍵，進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁(yè)面，保存數(shù)據(jù)時(shí)，可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位，可以通過(guò)“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小，“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)后，按“確定”鍵，完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁(yè)，此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單，按“確定”鍵，進(jìn)入查看記錄頁(yè)面。

顯示時(shí)從后一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開(kāi)始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。干擾源、干擾種類(lèi)及干擾現(xiàn)象傳感器及儀器儀表在現(xiàn)場(chǎng)運(yùn)行所受到的干擾多種多樣，具體情況具體，對(duì)不同的干擾采取不同的措施是抗干擾的原則。這種靈活機(jī)動(dòng)的策略與普適性無(wú)疑是矛盾的，解決的辦法是采用模塊化的方法，除了基本構(gòu)件外，針對(duì)不同的運(yùn)行場(chǎng)合，儀器可裝配不同的選件以有效地抗干擾、提高可靠性。在進(jìn)一步討論電路元件的選擇、電路和系統(tǒng)應(yīng)用之前，有必要影響模擬傳感器精度的干擾源及干擾種類(lèi)。主要干擾源靜電感應(yīng)靜電感應(yīng)是由于兩條支電路或元件之間存在著寄生電容，使一條支路上的電荷通過(guò)寄生電容傳送到另一條支路上去，因此又稱電容性耦合。

3、刪除記錄

在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單，按“確定”鍵，可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間，按“確定”鍵，進(jìn)入修改時(shí)間頁(yè)面。

通過(guò)“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值，“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒后，按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 因?yàn)轱@示給出千分之一分貝的功率或分?jǐn)?shù)赫茲的頻率并不意味著該儀有測(cè)量這些細(xì)微變化的能力。通常這些顯示的位數(shù)遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過(guò)了儀器在這一水平的測(cè)量能力。要充分了解一個(gè)射頻儀器的測(cè)量能力，往往要參考說(shuō)明書(shū)或數(shù)據(jù)表。前后一致的定義可以減少您測(cè)量中可能出現(xiàn)的混淆。以下是您在使用中會(huì)經(jīng)?？吹降囊恍╆P(guān)鍵術(shù)語(yǔ)：分辨率－儀器所能可靠檢測(cè)到的改變；重復(fù)性－在同樣條件下多次進(jìn)行同一測(cè)量獲得相同結(jié)果的能力；不確定性－對(duì)被測(cè)量的準(zhǔn)確值缺乏認(rèn)知部分的量化；精度－儀器在一定誤差范圍內(nèi)測(cè)量一個(gè)參數(shù)實(shí)際/值的能力。