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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:sf6露點(diǎn)儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 高質(zhì)量

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開(kāi)關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。sf6露點(diǎn)儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 高質(zhì)量
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測(cè)試儀sf6露點(diǎn)儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 高質(zhì)量
sf6露點(diǎn)儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 高質(zhì)量

露點(diǎn)

測(cè)量范圍

80 ℃~+20

測(cè)量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測(cè)量時(shí)間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

示波器用戶在進(jìn)行幅值/峰值等垂直量測(cè)量時(shí),偶然遇到測(cè)量結(jié)果與預(yù)期稍有偏差,測(cè)量不夠準(zhǔn)確的問(wèn)題,使用戶對(duì)示波器的測(cè)量精度產(chǎn)生了質(zhì)疑,在這里說(shuō)說(shuō)示波器幅值/峰值等垂直量測(cè)量為什么出現(xiàn)測(cè)量偏差,針對(duì)這種現(xiàn)象將如何改進(jìn)從而減少測(cè)量誤差??蛻粼谑褂檬静ㄆ鳒y(cè)量高頻信號(hào)、強(qiáng)電壓、微小信號(hào)或者電源紋波、噪聲等的幅值/峰值等垂直量時(shí),測(cè)量值出現(xiàn)偏差,垂直量測(cè)量值偏小或偏大等,導(dǎo)致用戶對(duì)示波器測(cè)量準(zhǔn)確性產(chǎn)生質(zhì)疑。示波器測(cè)量疑問(wèn)示波器垂直量測(cè)量出現(xiàn)偏差的原因歸結(jié)為以下四點(diǎn):低頻補(bǔ)償調(diào)節(jié)與否;示波器的底噪干擾對(duì)測(cè)量的影響;示波器的幅頻特性曲線差異;④示波器的垂直分辨率對(duì)測(cè)量的影響。sf6露點(diǎn)儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 高質(zhì)量1、連接SF6設(shè)備

將測(cè)量管道上螺紋端與開(kāi)關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥;

再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

后將開(kāi)關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí),請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量,如果電量低于約20%,請(qǐng)關(guān)機(jī)充電后繼續(xù)使用。

3、開(kāi)始測(cè)量

打開(kāi)儀測(cè)量管道上的針型閥,然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開(kāi)始測(cè)量SF6露點(diǎn)。

設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要510分鐘,其后每臺(tái)設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測(cè)量完成后,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見(jiàn)下節(jié)內(nèi)容。交叉編譯相關(guān)庫(kù)移植人臉識(shí)別算法庫(kù),該庫(kù)基于NCNN神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)上搭建人臉識(shí)別系統(tǒng),依賴的庫(kù)有OpenCV、NCNN以及Sqlit3。這些庫(kù)需要交叉編譯,其中OpenCV和Sqlit3的ARM版S32V已經(jīng)提供不需要再進(jìn)行編譯,編譯后的NCNN和人臉識(shí)別算法庫(kù)都是靜態(tài)庫(kù),不需要拷貝到目標(biāo)板上。人臉檢測(cè)Demo通過(guò)Qt來(lái)實(shí)現(xiàn)界面顯示,在pro文件中添加VSDK中獲取攝像頭數(shù)據(jù)的相關(guān)庫(kù),算法移植的相關(guān)庫(kù),然后通過(guò)如下API接口獲取圖像數(shù)據(jù)。sf6露點(diǎn)儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 高質(zhì)量

5、測(cè)量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測(cè)量后,關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備,按照上面步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測(cè)量結(jié)束

所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束后,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1。

智能手環(huán)、、平板等設(shè)備同樣將待機(jī)時(shí)間作為一項(xiàng)重要指標(biāo),小米手環(huán)2就提出充電一次滿足2天持續(xù)使用的口號(hào),而其中內(nèi)置的是一個(gè)僅有7mAh的鋰聚合物電池。但在電池供電條件下的待機(jī)測(cè)試中若使用真實(shí)電池作為電源,一方面測(cè)試結(jié)果受到電池產(chǎn)品質(zhì)量波動(dòng)的影響,另一方面也增加了測(cè)試的工作量。IT64系列可編程直流電源在電池測(cè)試方面具備強(qiáng)大的功能,包括電池充電、電池放電、電池模擬三種模式。用戶可用IT64系列可編程直流電源替代電池,為智能設(shè)備供電,通過(guò)電池模擬功能來(lái)模擬電池的輸出特性,測(cè)試待測(cè)物的待機(jī)能力,或者測(cè)試充電器的充電能力。sf6露點(diǎn)儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 高質(zhì)量

1、保存數(shù)據(jù)

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁(yè)面,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位,可以通過(guò)“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)后,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁(yè),此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁(yè)面。

顯示時(shí)從后一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開(kāi)始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。用戶可以使用4個(gè)中等功率SMU(42-SMU,421-SMU)或高功率SMU(421-SMU,4211-SMU),對(duì)高電阻材料,要求使用42-PA前置放大器。A-SCS包括多項(xiàng)內(nèi)置測(cè)試,在需要時(shí)把SMU的功能自動(dòng)切換到電壓表或電流源,霍爾電壓測(cè)量要求對(duì)樣本應(yīng)用磁場(chǎng)。A-SCS包括交互軟件,在半導(dǎo)體材料上進(jìn)行范德堡法和霍爾電壓測(cè)量。A-SCSClarius+軟件提供了的程序庫(kù),除電阻率和霍爾電壓測(cè)試外,還包括許多其他測(cè)試和項(xiàng)目。sf6露點(diǎn)儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 高質(zhì)量

3、刪除記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁(yè)面。

通過(guò)“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒后,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 從三個(gè)正交軸的磁場(chǎng)測(cè)量實(shí)現(xiàn)了相對(duì)于地球磁場(chǎng)本地方向的定向角估算。當(dāng)磁力計(jì)接近電機(jī)、顯示器和其他動(dòng)態(tài)磁場(chǎng)干擾源時(shí),管理其精度可能非常困難,但在適當(dāng)情況下,它的角度數(shù)據(jù)可作為來(lái)自加速度計(jì)和陀螺儀的數(shù)據(jù)的補(bǔ)充。雖然很多系統(tǒng)僅使用加速度計(jì)和陀螺儀,但磁力計(jì)可以改進(jìn)某些系統(tǒng)的測(cè)量精度。的整體框圖顯示了如何使用陀螺儀和加速度計(jì)測(cè)量,既利用它們的基本優(yōu)勢(shì),同時(shí)又程度減少它們的弱點(diǎn)產(chǎn)生的影響。低通加速度計(jì)和高通陀螺儀濾波器的極點(diǎn)位置通常取決于應(yīng)用,另外精度目標(biāo)、相位延遲、振動(dòng)和"正常"運(yùn)動(dòng)都會(huì)對(duì)位置決定產(chǎn)生影響。sf6露點(diǎn)儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 高質(zhì)量


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