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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:sf6微量水分測(cè)試儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 30年經(jīng)驗(yàn)

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。sf6微量水分測(cè)試儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 30年經(jīng)驗(yàn)
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測(cè)試儀sf6微量水分測(cè)試儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 30年經(jīng)驗(yàn)
sf6微量水分測(cè)試儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 30年經(jīng)驗(yàn)

露點(diǎn)

測(cè)量范圍

80 ℃~+20

測(cè)量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測(cè)量時(shí)間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

在玻璃尺或玻璃盤上類似于刻線標(biāo)尺或度盤那樣,進(jìn)行長(zhǎng)刻線(一般為1?12mm)的密集刻劃,得到如下圖所示的黑白相間間隔細(xì)小的條紋,沒有刻劃的白的地方透光,刻劃的發(fā)黑處不透光,這就是光柵。柵線放大圖實(shí)際上,光柵很早就被人們發(fā)現(xiàn)了,但應(yīng)用于技術(shù)領(lǐng)域只有一百多年的歷史。早期,人們利用光柵的衍射效應(yīng)進(jìn)行光譜和光波波長(zhǎng)的測(cè)定。到了2世紀(jì)5年代,人們開始利用光柵的莫爾條紋現(xiàn)象進(jìn)行精密測(cè)量,從而出現(xiàn)了光柵式傳感器。sf6微量水分測(cè)試儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 30年經(jīng)驗(yàn)1、連接SF6設(shè)備

將測(cè)量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥;

再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

后將開關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí),請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量,如果電量低于約20%,請(qǐng)關(guān)機(jī)充電后繼續(xù)使用。

3、開始測(cè)量

打開儀測(cè)量管道上的針型閥,然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開始測(cè)量SF6露點(diǎn)。

設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要510分鐘,其后每臺(tái)設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測(cè)量完成后,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。漏電與短路的本質(zhì)相同,只是事故發(fā)展程度不同而已,嚴(yán)重的漏電可能造成短路。對(duì)照明線路的漏電,切不可掉以輕心,應(yīng)經(jīng)常檢查線路的絕緣情況,尤其是發(fā)現(xiàn)漏電現(xiàn)象時(shí),應(yīng)及時(shí)查明原因,找出故障點(diǎn),并予以消除。照明線路漏電的主要原因是:一是導(dǎo)線或電氣設(shè)備的絕緣受到外力損傷;二是線路經(jīng)長(zhǎng)期運(yùn)行,導(dǎo)致絕緣老化變質(zhì);三是線路受潮氣侵襲或被污染,造成絕緣。,判斷是否確實(shí)漏電。可用指針式萬用表的R×10k檔測(cè)測(cè)量路絕緣電阻的大小,或數(shù)字萬用表置于交流電流檔(此時(shí)相當(dāng)于一個(gè)電流表),串聯(lián)在總開關(guān)上,接通開關(guān),取下所有負(fù)載(包括燈泡)。sf6微量水分測(cè)試儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 30年經(jīng)驗(yàn)

5、測(cè)量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測(cè)量后,關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備,按照上面步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測(cè)量結(jié)束

所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束后,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測(cè)量狀態(tài),通過確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1。

在理想狀態(tài)下,當(dāng)被測(cè)煙氣與參比氣濃度一樣時(shí),其輸出電勢(shì)E值為0mV,但在實(shí)際應(yīng)用中,鋯管實(shí)際條件和現(xiàn)場(chǎng)情況均不是理想狀態(tài)。故事實(shí)上的鋯管是偏離此值的。實(shí)際上,一定氧含量鋯管輸出的電勢(shì)為理論值和本底電勢(shì)的和,我們稱為無濃差條件下鋯管輸出的電勢(shì)值為本底電勢(shì)或稱為零位電勢(shì),此值的大小又在不同溫度下呈不同的值,并且隨鋯管使用期延長(zhǎng)而變化。如不對(duì)此情況處理,會(huì)嚴(yán)重影響整套測(cè)氧儀的準(zhǔn)確和壽命。氧化鋯氧量?jī)x主要用于測(cè)量燃燒過程中煙氣的含氧濃度,同樣也適用于非燃燒氣體氧濃度測(cè)量。sf6微量水分測(cè)試儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 30年經(jīng)驗(yàn)

1、保存數(shù)據(jù)

在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁面,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位,可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)后,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁,此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁面。

顯示時(shí)從后一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。CSP(ChipScalePACkage):芯片級(jí)封裝,該方式相比BGA同等空間下可以將存儲(chǔ)容量提升三倍,是由日本三菱公司提出來的。DIP(DualIn-linePACkage):雙列直插式封裝,插裝型封裝之一,指采用雙列直插形式封裝的集成電路芯片,體積比較大。MCM(MultiChipModel):多芯片模塊封裝,可根據(jù)基板材料分為MCM-L,MCM-C和MCM-D三大類。QFP(QuadFlatPackage):四側(cè)引腳扁平封裝,表面貼裝型封裝之一,引腳通常在100以上,適合高頻應(yīng)用,基材方面有陶瓷、金屬和塑料三種。sf6微量水分測(cè)試儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 30年經(jīng)驗(yàn)

3、刪除記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁面。

通過“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒后,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 放大器進(jìn)行通道多路復(fù)用時(shí)工作異常,原因究竟是什么呢?有些人(尤其是工程師)聲稱,質(zhì)疑爭(zhēng)辯是否超速的一種方法就是要求提供雷達(dá)裝置的校驗(yàn)證書。他們認(rèn)為,如果校驗(yàn)證書過期,司機(jī)就不該被罰款。無論這是否真的適合所有人(儀器可能近期已經(jīng)校準(zhǔn)過),避開超速罰單**的方法仍是不要超過限速。但是如果你沒有意識(shí)到自己速度太快該怎么辦呢?這種理由通常都不管用。同樣的事情也發(fā)生在放大器上。在一些應(yīng)用中,工程師可能忘記了放大器輸入與具有超快速瞬變的設(shè)備相連。sf6微量水分測(cè)試儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 30年經(jīng)驗(yàn)


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