HN2016智能sf6微水測(cè)試儀sf6露點(diǎn)儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 30年經(jīng)驗(yàn)

露點(diǎn)	測(cè)量范圍	－80 ℃～+20 ℃
	測(cè)量精度	±1℃（－80℃～＋20℃）
	測(cè)量時(shí)間 （＋20℃）	<3分鐘。
環(huán)境溫度	－40℃～＋60℃

它的量程為8米，幾乎和一個(gè)足球場(chǎng)的長(zhǎng)度相當(dāng)。通常使用卷尺測(cè)量如此長(zhǎng)的距離往往需要多次測(cè)量接力，而使用VH-8僅需一秒就能搞定。使用VH-8進(jìn)行家庭測(cè)量也非常方便，通常使用卷尺量一個(gè)擺滿家具的房間大約需要15個(gè)步驟，少需要15分鐘。而使用VH-8僅需要3個(gè)步驟3分鐘就能搞定，可以節(jié)約時(shí)間。從下圖可以看出，使用普通卷尺需要兩個(gè)人才能測(cè)量的工作，使用VH-8一只手就能搞定?？梢栽趦牲c(diǎn)之間的任意位置測(cè)量，無需蹲在地板上或爬上梯子進(jìn)行測(cè)量，**。1、連接SF₆設(shè)備

將測(cè)量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好，用扳手?jǐn)Q緊，關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥；

再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口；

將排氣管道連接到出氣口。

后將開關(guān)接頭與SF₆電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好，用扳手?jǐn)Q緊；

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí)，請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量，如果電量低于約20％，請(qǐng)關(guān)機(jī)充電后繼續(xù)使用。

3、開始測(cè)量

打開儀測(cè)量管道上的針型閥，然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量，把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右，開始測(cè)量SF₆露點(diǎn)。

設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要5～10分鐘，其后每臺(tái)設(shè)備需要3～5分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測(cè)量完成后，可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中，按“確定”鍵調(diào)出操作菜單，具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。任何一起在使用過程中都可能操作失誤或者使用方法不當(dāng)，造成測(cè)試數(shù)據(jù)錯(cuò)誤，儀器的保費(fèi)損害，為了增加使用的壽命和儀器的度我們應(yīng)該從使用把關(guān)。不損壞試件材質(zhì)、結(jié)構(gòu)無損檢測(cè)的特點(diǎn)就是能在不損壞試件材質(zhì)、結(jié)構(gòu)的前提下進(jìn)行檢測(cè)，所以實(shí)施無損檢測(cè)后，產(chǎn)品的檢查率可以達(dá)到。并不是所有需要測(cè)試的項(xiàng)目和指標(biāo)都能進(jìn)行無損檢測(cè)，無損檢測(cè)技術(shù)也有自身的局限性。某些試驗(yàn)只能采用破壞性試驗(yàn)，在目前無損檢測(cè)還不能代替破壞性檢測(cè)。

5、測(cè)量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測(cè)量后，關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF₆電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備，按照上面步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測(cè)量結(jié)束

所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束后，關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測(cè)量狀態(tài)，通過確定鍵可以進(jìn)入功能菜單，如圖1。

電磁感應(yīng)當(dāng)兩個(gè)電路之間有互感存在時(shí)，一個(gè)電路中電流的變化就會(huì)通過磁場(chǎng)耦合到另一個(gè)電路，這一現(xiàn)象稱為電磁感應(yīng)。變壓器及線圈的漏磁、通電平行導(dǎo)線等。漏電流感應(yīng)由于電子線路內(nèi)部的元件支架、接線柱、印刷電路板、電容內(nèi)部介質(zhì)或外殼等絕緣，特別是傳感器的應(yīng)用環(huán)境濕度較大，絕緣體的絕緣電阻下降，導(dǎo)致漏電電流增加就會(huì)引起干擾。尤其當(dāng)漏電流流入測(cè)量電路的輸入級(jí)時(shí)，其影響就特別嚴(yán)重。射頻干擾主要是大型動(dòng)力設(shè)備的啟動(dòng)、操作停止的干擾和高次諧波干擾。

1、保存數(shù)據(jù)

在測(cè)量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單，按“確定”鍵，進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁(yè)面，保存數(shù)據(jù)時(shí)，可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位，可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小，“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)后，按“確定”鍵，完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁(yè)，此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測(cè)量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單，按“確定”鍵，進(jìn)入查看記錄頁(yè)面。

顯示時(shí)從后一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。手持式光譜儀是什么呢？手持式光譜儀是一種基于XRF光譜技術(shù)的光譜儀器，產(chǎn)品具有性能穩(wěn)定、使用靈活、可靠性高、維護(hù)簡(jiǎn)便等優(yōu)點(diǎn)。今天我們就來具體介紹一下手持式光譜儀產(chǎn)品，希望可以幫助用戶更好的應(yīng)用產(chǎn)品。手持式光譜儀的應(yīng)用手持式光譜儀當(dāng)能量高于原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能X射線與原子發(fā)生碰撞時(shí),驅(qū)逐一個(gè)內(nèi)層電子從而出現(xiàn)一個(gè)空穴，使整個(gè)原子體系處于不穩(wěn)定的狀態(tài)，當(dāng)較外層的電子躍遷到空穴時(shí),產(chǎn)生一次光電子，擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個(gè)次級(jí)光電子，發(fā)生俄歇效應(yīng)，亦稱次級(jí)光電效應(yīng)或無輻射效應(yīng)。

3、刪除記錄

在測(cè)量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單，按“確定”鍵，可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測(cè)量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間，按“確定”鍵，進(jìn)入修改時(shí)間頁(yè)面。

通過“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值，“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒后，按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 PerformanceTest即特定場(chǎng)景(SISO/MIMO)下的吞吐量測(cè)試5G的到來，為OTA測(cè)試帶來了新挑戰(zhàn)5G時(shí)代，系統(tǒng)頻段更高，此外MassiveMIMO技術(shù)的應(yīng)用，使得傳統(tǒng)的傳導(dǎo)復(fù)雜程度大大提高，除了，端也不得不進(jìn)行OTA測(cè)試。5GOTA測(cè)試面臨著一系列的新挑戰(zhàn)5GOTA測(cè)量需支持兩個(gè)頻段：FR1—6GHz以下頻段以及FR2—毫米波頻段。端引入的MassiveMIMO技術(shù)要求其至少支持8X8陣列天線，陣列合成波束的直接遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試對(duì)暗室尺寸要求很大。