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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:冷鏡式露點儀 sf6純度測試儀 sf6檢漏儀 30年經(jīng)驗

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗,電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗電流互感器保護裝置及二次回路電流試驗。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗及溫升試驗。冷鏡式露點儀 sf6純度測試儀 sf6檢漏儀 30年經(jīng)驗
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測試儀冷鏡式露點儀 sf6純度測試儀 sf6檢漏儀 30年經(jīng)驗
冷鏡式露點儀 sf6純度測試儀 sf6檢漏儀 30年經(jīng)驗

露點

測量范圍

80 ℃~+20

測量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測量時間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

其次,幾乎所有的電子類產(chǎn)品都不得不通過電磁兼容測試認(rèn)證,這是和組織的技術(shù)壁壘,產(chǎn)品要想進入這些市場必須有強制性認(rèn)證,這方面世界各個地區(qū)都有各自的標(biāo)準(zhǔn)。電磁兼容認(rèn)證的步驟苛刻龐雜,正式的產(chǎn)品認(rèn)證需要大量測試設(shè)備和測試過程,費金耗時。在產(chǎn)品研發(fā)設(shè)計的各個階段中都應(yīng)盡早發(fā)現(xiàn)和解決各個級別的電磁兼容的問題,提升產(chǎn)品的過程質(zhì)量,避免后的產(chǎn)品認(rèn)證測試不通過,導(dǎo)致同樣費金耗時的返工整改。(多說一句,電磁設(shè)備對人的影響屬于電磁兼容的范疇嗎?概念上講并不是,而且電磁對人的生理影響尚未有科學(xué)依據(jù),所以還沒有劃歸到電磁兼容領(lǐng)域。冷鏡式露點儀 sf6純度測試儀 sf6檢漏儀 30年經(jīng)驗1、連接SF6設(shè)備

將測量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測量管道上另一端的針型閥;

再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

后將開關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時,請查看右上角顯示的電池電量,如果電量低于約20%,請關(guān)機充電后繼續(xù)使用。

3、開始測量

打開儀測量管道上的針型閥,然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開始測量SF6露點。

設(shè)備測量時間需要510分鐘,其后每臺設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲數(shù)據(jù)

設(shè)備測量完成后,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。如果示波器沒有足夠大的存儲深度,則再高的采樣率也無法充分發(fā)揮價值。ZDS454Plus標(biāo)配512Mpts存儲深度,哪怕面對4GSa/s的采樣率,也能存儲長達128ms的波形?!罢嬲饬x”測量如果不能對所有存儲深度的每一個波形都進行測量,存儲深度的價值也就是“波形不失真”這一基本要求而已,卻無法更進一步地去自動挖掘出波形中存在的異常。只有具備“真正意義”參數(shù)測量統(tǒng)計功能,512Mpts的海量數(shù)據(jù)的價值才能被挖掘,否則如果只測其中的一個周期,海量的數(shù)據(jù)有何意義?不同于傳統(tǒng)示波器只測一個周期,或通過抽樣減少數(shù)據(jù)量再測量的模式,ZDS454Plus通過FPGA全硬件并行處理,基于原始采樣率和512Mpts全存儲深度,對每一幀波形每一周期進行測量統(tǒng)計,可在幾百毫秒內(nèi)實現(xiàn)對512Mpts數(shù)據(jù)的“真正意義”參數(shù)測量,測試項目可達51種,并且支持24種參數(shù)同時顯示。冷鏡式露點儀 sf6純度測試儀 sf6檢漏儀 30年經(jīng)驗

5、測量其他設(shè)備

一臺設(shè)備測量后,關(guān)閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測量其他設(shè)備,按照上面步驟繼續(xù)測量下一臺設(shè)備。

6、測量結(jié)束

所有設(shè)備測量結(jié)束后,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測量狀態(tài),通過確定鍵可以進入功能菜單,如圖1

同時,毫米波對毛發(fā)具有一定的穿透能力,不至于對受檢人員的衣物造成大量虛警,減輕了安檢人員的工作負(fù)擔(dān)。相較而言,低頻段的毫米波探測設(shè)備雖然更容易實現(xiàn),但其分辨率隨著頻率降低和波長增加而變差,38GHz的信號只能探測4~5mm的物體,雖然經(jīng)濟,但不適用于標(biāo)準(zhǔn)的安檢工作。該頻段的電磁波對無害,相較于X光,毫米波的電磁輻射是非電離輻射;相較于低頻的設(shè)備,毫米波輻射的探測深度僅到表皮,不會到達真皮以下。冷鏡式露點儀 sf6純度測試儀 sf6檢漏儀 30年經(jīng)驗

1、保存數(shù)據(jù)

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進入保存數(shù)據(jù)頁面,保存數(shù)據(jù)時,可以根據(jù)設(shè)備進行編號。

設(shè)備編號多為六位,可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號后,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁,此時不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進入查看記錄頁面。

顯示時從后一個被保存的數(shù)據(jù)開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。如果用戶用IT64連接用電產(chǎn)品,使用電池模擬功能來模擬電池供電環(huán)境下的產(chǎn)品功耗,就可以將電池特性參數(shù)編輯為逐步下降的放電參數(shù)。IT64將根據(jù)表格參數(shù)自動擬合出一條平滑的放電曲線,減小用戶編輯參數(shù)的工作量,提真能力。.CSV文件示意用戶也可以利用IT64系列的電池放電功能,對設(shè)備原配電池進行放電測試,通過上位機軟件采集到電池在放電中的電壓、放電容量等參數(shù),得到放電特性曲線。使用艾德克斯IT511內(nèi)阻測試儀測得電池的內(nèi)阻值,來獲取IT64需要的電池模擬參數(shù),以支持智能設(shè)備的研發(fā)測試。冷鏡式露點儀 sf6純度測試儀 sf6檢漏儀 30年經(jīng)驗

3、刪除記錄

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時間

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時間,按“確定”鍵,進入修改時間頁面。

通過“上”、“下”鍵可以增加時間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時間數(shù)值。

輸入小時、分鐘、秒后,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個修改域內(nèi)。

 如何按照次序啟動測試?如何暫停測試?如何繼續(xù)測試?如何中止測試?如何同步測試?如何將進度跨線程報告給主界面線程?這就好比自己干管好自己就行了,但是一個團隊干活就有團隊管理和建設(shè)的問題。并行測試任務(wù)調(diào)度規(guī)劃生成問題當(dāng)然,可以依靠人工拍腦袋的方式生成并行測試任務(wù)調(diào)度規(guī)劃,測試任務(wù)發(fā)生變化怎么辦?測試對象發(fā)生變化怎么辦?如果都靠拍腦袋不是不行,但是很難,這就產(chǎn)生了并行測試任務(wù)調(diào)度規(guī)劃自動生成這一難題。冷鏡式露點儀 sf6純度測試儀 sf6檢漏儀 30年經(jīng)驗


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