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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:冷鏡式露點(diǎn)儀 密度繼電器測(cè)試儀 氣體定量檢漏儀 5年保修

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開(kāi)關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。冷鏡式露點(diǎn)儀 密度繼電器測(cè)試儀 氣體定量檢漏儀 5年保修
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測(cè)試儀冷鏡式露點(diǎn)儀 密度繼電器測(cè)試儀 氣體定量檢漏儀 5年保修
冷鏡式露點(diǎn)儀 密度繼電器測(cè)試儀 氣體定量檢漏儀 5年保修

露點(diǎn)

測(cè)量范圍

80 ℃~+20

測(cè)量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測(cè)量時(shí)間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

在實(shí)際的工作中,您是否遇到過(guò)自己只有普通電源即電壓源(電壓固定,電流隨負(fù)載變化而變化),達(dá)不到使用要求的困擾?下面給大家介紹一個(gè)PEL-3000的實(shí)用功能,它可以很好的解決大家的此困擾,瞬間讓普通電源變成恒流源。實(shí)現(xiàn)方式:一臺(tái)普通電源串聯(lián)一臺(tái)PEL-3000電子負(fù)載,電源的電流調(diào)整到2.原理:電源與負(fù)載串聯(lián)后,電路的電流可以由電子負(fù)載的CC模式控制,因?yàn)榇?lián)的關(guān)系,此時(shí)電源的輸出電流完全有負(fù)載控制,且在串聯(lián)電路中,輸出的電流不會(huì)因?yàn)樨?fù)載的變化而變化,實(shí)現(xiàn)恒流源的功能。冷鏡式露點(diǎn)儀 密度繼電器測(cè)試儀 氣體定量檢漏儀 5年保修1、連接SF6設(shè)備

將測(cè)量管道上螺紋端與開(kāi)關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥;

再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

后將開(kāi)關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí),請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量,如果電量低于約20%,請(qǐng)關(guān)機(jī)充電后繼續(xù)使用。

3、開(kāi)始測(cè)量

打開(kāi)儀測(cè)量管道上的針型閥,然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開(kāi)始測(cè)量SF6露點(diǎn)。

設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要510分鐘,其后每臺(tái)設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測(cè)量完成后,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見(jiàn)下節(jié)內(nèi)容。一種應(yīng)用在電能表中RTC模塊的補(bǔ)償校準(zhǔn)方法,包括:根據(jù)測(cè)量的RTC模塊的晶體溫度獲取時(shí)鐘校準(zhǔn)所需的補(bǔ)償參數(shù);根據(jù)所述補(bǔ)償參數(shù)和RTC模塊的補(bǔ)償單位計(jì)算補(bǔ)償校準(zhǔn)值和補(bǔ)償余數(shù);根據(jù)所述補(bǔ)償校準(zhǔn)值和所述補(bǔ)償余數(shù)對(duì)RTC模塊的時(shí)鐘頻率進(jìn)行校準(zhǔn)。優(yōu)選地,在個(gè)補(bǔ)償周期中,所述根據(jù)所述補(bǔ)償校準(zhǔn)值和所述補(bǔ)償余數(shù)對(duì)RTC模塊的時(shí)鐘頻率進(jìn)行校準(zhǔn),具體包括:按照所述補(bǔ)償校準(zhǔn)值對(duì)所述RTC模塊的時(shí)鐘頻率進(jìn)行校準(zhǔn),并存儲(chǔ)所述補(bǔ)償余數(shù)。冷鏡式露點(diǎn)儀 密度繼電器測(cè)試儀 氣體定量檢漏儀 5年保修

5、測(cè)量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測(cè)量后,關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備,按照上面步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測(cè)量結(jié)束

所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束后,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1。

允許服務(wù)器從工廠車間的控制器收集實(shí)時(shí)數(shù)據(jù),并在標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫(kù)中進(jìn)行檢索、添加、刪除和更新數(shù)據(jù)記錄。這是通過(guò)支持與微軟Access兼容的數(shù)據(jù)庫(kù)、結(jié)構(gòu)化查詢語(yǔ)言(SQL)服務(wù)器或開(kāi)放式數(shù)據(jù)庫(kù)連接(ODBC)的連接來(lái)完成的。一些市場(chǎng)上的軟件工具允許用戶在IT企業(yè)系統(tǒng)和PLC之間建立連接,從而可以從PLC收集數(shù)據(jù)并保存在數(shù)據(jù)庫(kù)中。這些服務(wù)器的配置工作量通常很小,用戶可以將其配置為僅收集其流程所需的數(shù)據(jù)。這些數(shù)據(jù)庫(kù)功能,提供了跟蹤物料移動(dòng)和生產(chǎn)指標(biāo)的實(shí)際應(yīng)用。冷鏡式露點(diǎn)儀 密度繼電器測(cè)試儀 氣體定量檢漏儀 5年保修

1、保存數(shù)據(jù)

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁(yè)面,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位,可以通過(guò)“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)后,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁(yè),此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁(yè)面。

顯示時(shí)從后一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開(kāi)始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。系統(tǒng)基于全制式全覆蓋的測(cè)試能力可解決物聯(lián)網(wǎng)產(chǎn)業(yè)鏈的測(cè)試難題,具體包括芯片模組測(cè)試、綜合測(cè)試、產(chǎn)線測(cè)試等多個(gè)環(huán)節(jié)。典型測(cè)試場(chǎng)景如下:發(fā)射機(jī)指標(biāo)測(cè)試:UE發(fā)射功率UE指的是NB-IOT的終端產(chǎn)品,包括NB-IOT模塊以及使用了這些模塊的終端。UE占用帶寬,占用帶寬指的是分配信道之內(nèi)測(cè)量的99%積分平均功率時(shí)對(duì)應(yīng)的信號(hào)帶寬。NB-IOT下行信號(hào)占用帶寬典型測(cè)試UE發(fā)射ACLR相鄰信道泄漏比,這個(gè)測(cè)來(lái)判定終端產(chǎn)品是否有可能對(duì)相鄰(或高或低)信道中的接收機(jī)產(chǎn)生干擾。冷鏡式露點(diǎn)儀 密度繼電器測(cè)試儀 氣體定量檢漏儀 5年保修

3、刪除記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁(yè)面。

通過(guò)“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒后,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 回想您過(guò)去作為工程師的一年:您的角色發(fā)生了何種變化?過(guò)去五年又發(fā)生了哪些變化?隨著技術(shù)變革的步伐不斷加快,您必須調(diào)整工作的各個(gè)方面,并提率。一起拜讀下這篇來(lái)自NI產(chǎn)品營(yíng)銷經(jīng)理JonahPaul的LabVIEWNXG優(yōu)勢(shì)盤點(diǎn)好文。在Aspencore(前稱UBM)2015年進(jìn)行的一項(xiàng)測(cè)試測(cè)量研究中,包括半導(dǎo)體、汽車、國(guó)防和航天在內(nèi)的多個(gè)行業(yè)的工程師列出以下幾個(gè)方面為其測(cè)試開(kāi)發(fā)演變過(guò)程中主要的變化:“適應(yīng)快速變化的技術(shù),為終端用戶提供測(cè)試能力和價(jià)值。冷鏡式露點(diǎn)儀 密度繼電器測(cè)試儀 氣體定量檢漏儀 5年保修


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