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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱(chēng):sf6微量水分測(cè)試儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 定制定做

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡(jiǎn)單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開(kāi)關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。sf6微量水分測(cè)試儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 定制定做
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測(cè)試儀sf6微量水分測(cè)試儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 定制定做
sf6微量水分測(cè)試儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 定制定做

露點(diǎn)

測(cè)量范圍

80 ℃~+20

測(cè)量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測(cè)量時(shí)間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

交流輸入電壓范圍為1.4007±1.4007,此時(shí)有效位數(shù)N=ln4015/ln2=11.971,mV/計(jì)數(shù)位=2.8013/4015=06977,其余項(xiàng)計(jì)算同上。表1中的后一行顯示了ADC操作的**參數(shù),其有效位數(shù)減少為11.865位,mV/計(jì)數(shù)位從0.7326增加為0.7345,這將會(huì)使轉(zhuǎn)換結(jié)果減少0.2%。在實(shí)際應(yīng)用中,所采集的信號(hào)經(jīng)常為雙極型信號(hào),因此信號(hào)在送至ADC之前需要添加轉(zhuǎn)換電路,將雙極型信號(hào)轉(zhuǎn)化為單極型信號(hào)。sf6微量水分測(cè)試儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 定制定做1、連接SF6設(shè)備

將測(cè)量管道上螺紋端與開(kāi)關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥;

再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

后將開(kāi)關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí),請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量,如果電量低于約20%,請(qǐng)關(guān)機(jī)充電后繼續(xù)使用。

3、開(kāi)始測(cè)量

打開(kāi)儀測(cè)量管道上的針型閥,然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開(kāi)始測(cè)量SF6露點(diǎn)。

設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要510分鐘,其后每臺(tái)設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測(cè)量完成后,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見(jiàn)下節(jié)內(nèi)容。在信號(hào)/頻譜儀上,邊帶噪聲是相位噪聲和幅度噪聲的總和,通常當(dāng)已知調(diào)幅噪聲遠(yuǎn)小于相位噪聲時(shí)(小于1dB以上),在頻譜儀上讀出的邊帶噪聲即為相位噪聲。在29K環(huán)境溫度下,噪聲功率基底是-174dBm/Hz。由于相位噪聲和調(diào)幅噪聲對(duì)熱噪聲的貢獻(xiàn)是等同的,所以相位噪聲對(duì)熱噪聲的貢獻(xiàn)是-177dBm/Hz,比熱噪聲低3dB。如果載波功率較小,-2dBm,相位噪聲就被限制到-157dBc/Hz(-177dBm/Hz-(-2dBm))。sf6微量水分測(cè)試儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 定制定做

5、測(cè)量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測(cè)量后,關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備,按照上面步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測(cè)量結(jié)束

所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束后,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1

對(duì)TBC試件進(jìn)行早期無(wú)損檢測(cè)具有重大意義。實(shí)驗(yàn)原理根據(jù)Grzegorz采用盲孔缺陷代替脫粘缺陷進(jìn)行的方法,在對(duì)TBC脫粘缺陷的檢測(cè)實(shí)驗(yàn)中,通常在TBC試件的金屬基底上制作盲孔缺陷來(lái)模擬真實(shí)的脫粘缺陷。本文的線激光掃描熱成像方法分為粗掃描階段和細(xì)掃描階段。在粗掃描階段的檢測(cè)原理中,LLFST系統(tǒng)能夠在TBC試件表面匯聚出激光點(diǎn),控制激光點(diǎn)以直線方向高速移動(dòng)。當(dāng)掃描速度足夠快且做線狀移動(dòng)時(shí),激光點(diǎn)可以看作是線激光。sf6微量水分測(cè)試儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 定制定做

1、保存數(shù)據(jù)

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁(yè)面,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位,可以通過(guò)“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)后,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁(yè),此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁(yè)面。

顯示時(shí)從后一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開(kāi)始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。,testo33LL可以測(cè)量壓差,然而在燃燒器調(diào)試等一些應(yīng)用,壓力傳感器的精度并不能滿(mǎn)足檢測(cè)需求。德圖帶你領(lǐng)略testo33LL煙氣儀不一樣的壓力測(cè)量技能。安裝方式:將環(huán)境溫度傳感器從testo33LL上取下,并安裝在精密壓力上。將精密壓力通訊電纜連接至testo33LL上的環(huán)境溫度傳感器插口。將軟管連接至測(cè)量壓力接口。按照上述方式完成精密壓力的安裝,即可進(jìn)行差壓測(cè)量,精度可達(dá)±.a,測(cè)量速率max.1米/秒。sf6微量水分測(cè)試儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 定制定做

3、刪除記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁(yè)面。

通過(guò)“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒后,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 NCP175應(yīng)用電路圖率準(zhǔn)諧振(QR)和高功率因數(shù)單級(jí)PFC反激電源也得到了快速發(fā)展,可能很快成為AC-DC電源主流,代表IC如安森美(ON)推出的NCP138和NCP1247。在運(yùn)算放大器、傳感器、MCU和基準(zhǔn)源等應(yīng)用中,它們對(duì)電源的紋波噪聲和電壓精度要求比較高,那么Power1還需要經(jīng)過(guò)線性電源轉(zhuǎn)換到Power4線路中,才能給其系統(tǒng)供電。傳統(tǒng)的線性電源一般采用NPN機(jī)構(gòu)作為功率管,或者用達(dá)林頓結(jié)構(gòu)功率管,如所示,LM785和LM317等,都是這種結(jié)構(gòu)。sf6微量水分測(cè)試儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 定制定做


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