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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱(chēng):sf6微量水分測(cè)試儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開(kāi)關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。sf6微量水分測(cè)試儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測(cè)試儀sf6微量水分測(cè)試儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量
sf6微量水分測(cè)試儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量

露點(diǎn)

測(cè)量范圍

80 ℃~+20

測(cè)量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測(cè)量時(shí)間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

看到這里我相信大部分人已經(jīng)可以找到自己想要看的波形了。但是想要把波形存儲(chǔ)記錄下來(lái)怎么辦,而且想要長(zhǎng)時(shí)間記錄可以實(shí)現(xiàn)嗎?不要急,PA功率儀還提供波形保存記錄功能。如所示,PA功率儀點(diǎn)擊“store”按鍵會(huì)進(jìn)入圖示菜單,在數(shù)據(jù)類(lèi)型中可以選擇“波形”或“波形+數(shù)據(jù)”以記錄保存波形。設(shè)置完成后,點(diǎn)擊“開(kāi)始”按鍵進(jìn)行存儲(chǔ),存儲(chǔ)結(jié)束點(diǎn)擊“停止”、“重置”即可保存。而且PA功率儀內(nèi)置6G固態(tài)硬盤(pán),可以滿足長(zhǎng)時(shí)間存儲(chǔ)波形的需要。sf6微量水分測(cè)試儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量1、連接SF6設(shè)備

將測(cè)量管道上螺紋端與開(kāi)關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥;

再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

后將開(kāi)關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí),請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量,如果電量低于約20%,請(qǐng)關(guān)機(jī)充電后繼續(xù)使用。

3、開(kāi)始測(cè)量

打開(kāi)儀測(cè)量管道上的針型閥,然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開(kāi)始測(cè)量SF6露點(diǎn)。

設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要510分鐘,其后每臺(tái)設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測(cè)量完成后,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見(jiàn)下節(jié)內(nèi)容。測(cè)量?jī)x器的使用看零件圖紙時(shí),必須了解測(cè)量要求和方法,規(guī)劃?rùn)z測(cè)方案或調(diào)出設(shè)計(jì)好的檢測(cè)程序。工件吊裝前,要將探針退回坐標(biāo)原點(diǎn),為吊裝位置預(yù)留較大的空間;工件吊裝要平穩(wěn),不可撞擊三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的任何構(gòu)件。正確安裝零件,安裝前確保符合零件與測(cè)量機(jī)的等溫要求,恒溫條件下,提前四個(gè)小時(shí)以上放入被測(cè)工件。建立正確的坐標(biāo)系,保證所建立的坐標(biāo)系符合圖紙的要求,才能確保所測(cè)數(shù)據(jù)準(zhǔn)確。當(dāng)編好程序自動(dòng)運(yùn)行時(shí),要防止探針與工件的互相干涉,故需注意要增加拐點(diǎn)。sf6微量水分測(cè)試儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量

5、測(cè)量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測(cè)量后,關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備,按照上面步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測(cè)量結(jié)束

所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束后,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1。

新型傳感器的現(xiàn)狀與發(fā)展傳感技術(shù)是當(dāng)今世界發(fā)展為迅速的高新技術(shù)之一。新型傳感器不僅追求高精度、大量程、高可靠、低功耗,還向著集成化、微型化、數(shù)字化、智能化發(fā)展。智能化傳感器的智能化指把常規(guī)傳感器的功能同計(jì)算機(jī)或其他元件的功能相結(jié)合構(gòu)成一個(gè)立的組合體,使其既具有信息拾取和信號(hào)轉(zhuǎn)化功能,又有數(shù)據(jù)處理、補(bǔ)償和決策能力。網(wǎng)絡(luò)化傳感器的網(wǎng)絡(luò)化就是使傳感備和計(jì)算機(jī)網(wǎng)絡(luò)連接的功能,實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)距離的信息傳遞和處理能力,即實(shí)現(xiàn)測(cè)控系統(tǒng)的“超視距”測(cè)量。sf6微量水分測(cè)試儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量

1、保存數(shù)據(jù)

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁(yè)面,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位,可以通過(guò)“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)后,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁(yè),此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁(yè)面。

顯示時(shí)從后一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開(kāi)始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。為避免此問(wèn)題,運(yùn)維人員需要對(duì)爐內(nèi)運(yùn)行狀況進(jìn)行定期檢測(cè)。傳統(tǒng)檢測(cè)方式只能通過(guò)人眼觀察以及對(duì)爐內(nèi)進(jìn)行接觸式單點(diǎn)測(cè)溫,粗略判斷爐內(nèi)運(yùn)行狀況,而紅外熱像儀可實(shí)現(xiàn)全像面、遠(yuǎn)距離觀測(cè)。工作時(shí)裂解爐內(nèi)的溫度高達(dá)1℃,工作人員通過(guò)巨哥電子熱像儀直觀地了解到裂解爐內(nèi)包括對(duì)流管、爐壁的溫度狀態(tài)以及因長(zhǎng)期使用后產(chǎn)生的外部結(jié)垢、內(nèi)部堵塞等。此外,在石化生產(chǎn)過(guò)程中存在大量的管道及熱力設(shè)備需要進(jìn)行保溫處理,保溫效果的好壞直接關(guān)系到產(chǎn)能建設(shè)和運(yùn)營(yíng)成本。sf6微量水分測(cè)試儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量

3、刪除記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁(yè)面。

通過(guò)“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒后,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 在實(shí)際應(yīng)用過(guò)程中,電容老化測(cè)試設(shè)備內(nèi)部可編程電源輸出的合理紋波和數(shù)米長(zhǎng)線纜上耦合的高頻噪聲容易干擾漏電流檢測(cè)結(jié)果。可編程電源輸出經(jīng)過(guò)數(shù)米長(zhǎng)線纜后,終注入電容LC測(cè)試功能模塊。當(dāng)干擾噪聲嚴(yán)重時(shí),現(xiàn)場(chǎng)實(shí)際測(cè)量的u漏電流結(jié)果誤差增大,甚至可能出現(xiàn)負(fù)值,造成產(chǎn)品測(cè)試異常,帶來(lái)終端客戶抱怨。我們?nèi)绾尾拍茉诠S內(nèi)部復(fù)雜電磁環(huán)境下確保電容樣品漏電流特性的高精度測(cè)量呢?下面分享某電容老化測(cè)試客戶高精度供電干擾改善案例,利用TDK-Lambda業(yè)界的可編程電源匹配合理外圍方案,從而解決傳統(tǒng)電容老化客戶普遍面臨的痛點(diǎn)問(wèn)題。sf6微量水分測(cè)試儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量


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